GC-MS: JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi – Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

Keputusan analisis throughput tinggi yang ditawarkan oleh sistem analisis automatik baharu

AccuTOF™ GCx-plus ialah sistem spektrometer jisim tercanggih bagi produk siri AccuTOF™ GC.
AccuTOF™ Gx-plus menyediakan penyelesaian dalam pelbagai aplikasi.

Ciri-ciri

JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus GC-TOFMS ialah sistem GC-MS mewah, yang mencapai resolusi jisim tinggi, ketepatan jisim tinggi, kepekaan tinggi, pemerolehan data pantas dan julat jisim yang luas.
Sistem analisis automatik baharu menyediakan penyelesaian analisis kualitatif berketepatan tinggi dan berketepatan tinggi.

Tiga teknologi utama untuk mencapai analisis kualitatif automatik

Tiga fungsi baharu digabungkan dalam sistem GC-MS baharu, yang membolehkan keputusan kualitatif ketepatan tinggi diperolehi oleh sesiapa sahaja.

Teknologi 1: Analisis bersepadu data GC/EI dan data pengionan lembut

Perisian analisis automatik baharu “msFineAnalysis” menjalankan lima jenis analisis kualitatif yang menggabungkan data GC/EI dan data pengionan lembut (CI, FI, PI).

• Carian perpustakaan

• Carian ion molekul

• Analisis jisim yang tepat

• Analisis corak isotop

• Analisis ion serpihan EI

Dengan pratetap nilai "m/z" yang digunakan untuk pembetulan drift dan pemasaan untuk memperkenalkan sampel standard dalaman, pembetulan drift dilaksanakan secara automatik selepas pengukuran. Memandangkan data yang diukur telah pun tertakluk kepada pembetulan drift, data ini dianalisis dengan serta-merta oleh perisian "msFineAnalysis".

Pautan data GC/EI dan data GC/FI

Hasil analisis bersepadu

Teknologi 2: Fungsi ON/OFF Automatik Takungan

Takungan Automatik HIDUP/MATI

Kawalan injap boleh dibuat melalui perisian.
Masa untuk memperkenalkan sampel standard dalaman, bertujuan untuk penentukuran jisim (pembetulan drift), boleh ditetapkan secara fleksibel.

Teknologi 3: Pengganda pembetulan drift

Pembetulan berbilang titik menggunakan pengganda pembetulan drift mencapai ketepatan jisim yang tinggi. Pengganda pembetulan drift ini boleh dipautkan ke fungsi ON/OFF Automatik Takungan.
Sistem automatik ini menyediakan keputusan analisis kualitatif GC-MS ketepatan yang lebih tinggi daripada keputusan yang hanya diperoleh daripada carian perpustakaan. Sistem ini menawarkan kedua-dua masa analisis data yang dipendekkan dan keputusan analisis ketepatan yang sangat tinggi.

Pelbagai teknik pengionan lembut dan analisis langsung untuk menyokong analisis kualitatif

AccuTOF™ GCx-plus memuatkan pelbagai teknik pengionan lembut, serta Pengionan Elektron (EI).
Teknik pengionan lembut ini juga berkesan untuk analisis bersepadu menggunakan perisian "msFineAnalysis".
Dua sumber ion gabungan membolehkan penukaran pantas antara EI dan pengionan lembut tanpa merendahkan vakum dalam ruang.

Di samping itu, AccuTOF™ GCx-plus membolehkan analisis dengan teknik langsung termasuk Direct Exposure Probe (DEP), Direct Insertion Probe (DIP) dan Field Desorption (FD). Sistem ini juga menyokong saluran masuk sampel langsung untuk analisis sebatian meruap rendah dan sebatian takat didih tinggi.

Sumber ion gabungan EI/FI/FD

Sumber ion gabungan EI/PI

Pemerolehan data pantas untuk analisis GCxGC-TOFMS

Kelajuan pemerolehan data berkelajuan tinggi, sehingga 50 spektrum/saat, sesuai untuk analisis GCxGC-TOFMS yang menyediakan data pemisahan ultratinggi. Analisis GCxGC ini juga boleh dibuat dengan pengionan lembut. Analisis pemisahan ultratinggi yang ditawarkan oleh GCxGC adalah berkesan untuk menganalisis pengukuran sebatian campuran kompleks.

Pautan mudah kepada pelbagai peralatan pra-rawatan

AccuTOF™ Gx-plus membolehkan analisis dengan gabungan dengan pelbagai peralatan pra-rawatan, seperti yang dilakukan oleh JMS-Q1500GC (GC-QMS).
Oleh itu, aplikasinya dilanjutkan dengan gabungan dengan kaedah ruang Kepala, kaedah SPME, kaedah Pirogenik, dan Termogravimetri.

Prestasi asas yang tinggi

Kepekaan yang tinggi

Jumlah surih komponen boleh dianalisis secara kualitatif dan kuantitatif.

Octafluoronaphthalene (OFN) 100 fg diukur secara berterusan (8 kitaran) dengan kaedah EI dan EIC (m/z 271.9867) telah diperoleh. Berdasarkan ketepatan ulangan bagi kawasan puncak yang diperolehi EIC ini, pengiraan statistik telah dijalankan untuk instrumen pengesanan had bawah (IDL) dengan mengandaikan kebolehpercayaan tertentu, menghasilkan 16 fg IDL.
CV: Pekali Variasi, IDL: Instrumen Mengesan Had bawah

Superposisi dan kebolehulangan EIC untuk data OFN

Ketepatan jisim yang tinggi

Analisis jisim yang tepat bagi ion yang dikesan membolehkan formula kimia ion diperolehi.

Ketepatan jisim sampel yang diukur dengan kepekatan yang berbeza

Kestabilan dalam jangka masa yang panjang

Resolusi tinggi

Sistem ini membenarkan pemisahan puncak jisim bersebelahan dengan beberapa 10 mm Da.

Rajah di bawah menunjukkan bahawa empat jenis ion yang mempunyai jisim integer yang sama iaitu 28 Da dipisahkan dengan jelas dan dikesan kerana resolusi tinggi sistem. Dengan sistem peleraian rendah, ion-ion ini tidak dipisahkan dan dikesan dan dengan itu, puncak jisim yang diperhatikan hanyalah satu, membawa kepada pemerolehan komposisi dan keamatan unsur yang tidak tepat (nilai kuantitatif).
AccuTOF™ GCx-plus membolehkan analisis kualitatif dan kuantitatif yang tepat dengan mengasingkan puncak jisim bersebelahan dengan beberapa 10 mm Da.

Analisis gas berevolusi Nylon 66

Pemerolehan data yang pantas

Sistem ini menyokong analisis GCxGC dan analisis Fast GC dengan pemerolehan data berkelajuan tinggi sehingga 50 spektrum/saat.

Data GCxGC / EI&FI minyak pokok Tee

Data GC pantas bagi 57 komponen bahan kimia pertanian berasaskan fosforus (bawah)

Julat jisim yang luas

AccuTOF™ GCx-plus mempunyai julat jisim yang luas dan menggabungkan pelbagai teknik masuk sampel langsung, sekali gus membolehkan pengukuran sampel dengan berat molekul yang besar, yang tidak boleh diperkenalkan oleh GC.

Spektrum jisim FD polistirena 5200

Julat dinamik

AccuTOF™ GCx-plus mempunyai julat jisim yang luas sehingga 4 susunan magnitud, oleh itu sistem menyokong sepenuhnya analisis kuantitatif sebagai GC-MS.

Keluk penentukuran untuk OFN 0.1 hingga 1000 pg

Sistem perisian pilihan untuk menyokong analisis

Perisian analisis automatik msFineAnalysis

• Perisian analisis kuantitatif Escrime™

Perisian analisis KMD msRepeatFinder

• Perisian analisis spektrum Mass Mountaineer

• Perisian analisis GCxGC GC Image^{※ 1}

• Perisian analisis polimer Polymerix^{※ 2}

• Perisian analisis statistik AnalyzerPro^{※ 3}

• GC Image Corporation

• Sierra Analytics Corporation

• Perbadanan SpectraWorks

• Foto penampilan instrumen mungkin termasuk pilihan.

Kesesuaian

Permohonan JMS-T200GC

Aplikasi GC-TOFMS: Memeriksa sensitiviti pengesanan sumber ion EI/FI dan PI menggunakan nitrogen sebagai gas pembawa GC

Aplikasi GC-TOFMS: Fungsi Analisis Perbezaan dalam msFineAnalysis Ver 3 (1)

Aplikasi GC-TOFMS: Fungsi Analisis Perbezaan dalam msFineAnalysis Ver 3 (3)

Aplikasi GC-TOFMS: Fungsi Analisis Perbezaan dalam msFineAnalysis Ver 3 (2)

Aplikasi GC-TOFMS: Analisis Bersepadu Resin Vinyl Asetat menggunakan gabungan dengan Pyrolysis GC-HRMS dan msFineAnalysis

UrushiNote

Buku Nota Aplikasi Persekitaran, Makanan, Perisa & Pewangi AccuTOF™ GC

Buku Nota Aplikasi Petroleum dan Petrokimia AccuTOF™ siri GC

Buku Nota Aplikasi Bahan dan Kimia AccuTOF™ siri GC

Aplikasi GC-TOFMS: Penyelesaian gas pembawa nitrogen GC: Membandingkan helium dan nitrogen dalam analisis jisim tepat GC-TOFMS

Maklumat lanjut