Muat turun Katalog

Profil Syarikat
(Tiada pendaftaran diperlukan)

BERITA JEOL Jld.61.2026

Panduan Produk
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Mikroskop Krio-Elektron Pelepasan Medan CRYO ARM™ 300S

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

CRYO ARM™ 200Ⅱ(JEM-Z200CA)Pancaran Medan Cryo-ElectronMicroscope

Mikroskop Analitik Resolusi Atom GRAND ARM™ 3

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Mikroskop Analitik Resolusi Atom

JEM-ARM200F NEOARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom

Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom JEM-ARM200F monokrom

JEM-F200 dengan FEMTUS™

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2200FS

Mikroskop Elektron JEM-2100Plus

Mikroskop Elektron JEM-120i

SightSKY™ EM-04500SKY Kepekaan Tinggi, Kamera CMOS Gandingan Gentian Bunyi Rendah

Sistem OBF

Menaik taraf JEM-1400/JEM-1400Plus dengan Kamera Denyar

SAAF Octa Segmented Annular All Field Detector Octa

Pengesan STEM Piksel 4DCanvas™

Buku Data Aplikasi 4DCanvas™

Platform Analisis Bersepadu FEMTUS™ -Edisi EDS-

Brosur Produk (IDES)

IDES TEMPO

Penyesuai Isyarat LVDS-TTL & Penimbal Fanout BNC

Nota aplikasi IDES Pengimejan STEM untuk Sampel Sensitif Rasuk Elektron "Zeolit"

Nota aplikasi IDES Pengimejan STEM Kawasan Benar dengan kerosakan rasuk yang berkurangan

Nota permohonan IDES Pengecatan Dos

Nota aplikasi IDES Pengurangan Kerosakan STEM Menggunakan EDM Synchrony

Nota aplikasi IDES Sub-milisaat Masa menyelesaikan imej TEM CeO₂ dengan Relativity™

Nota aplikasi IDES Pengimejan DPC yang diselesaikan masa dengan EDM

Nota aplikasi IDES Pengukuran True Area Scan (TAS) EDS dengan kerosakan rasuk yang berkurangan

IDES Nota aplikasi S/N peningkatan dalam STEM menggunakan kaedah pengiraan elektron

HAXIS
Pendekatan inovatif untuk Analisis Kegagalan Semikonduktor

LazEdge
Sistem laser dan SEM bersepadu membolehkan pemprosesan dan pengukuran kawasan yang luas dengan pantas

Siri SEM

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT810

Memperkenalkan Fungsi Auto Ketepatan Tinggi oleh Enjin Neo Termaju

Kepungan Akustik FE-SEM Keselesaan Neo

SM-92100EUVC EXCIMER UV CLEANER

Gather-X JED Series Dry SD™ EDS Tanpa Tingkap

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 9.0(Mei 2025)

Spektrometer Pancaran Sinar-X Lembut SXES-XR/LR/ER,-XREP/LREP/EREP

Pembinaan semula tiga dimensi spesimen tisu Tomografi tatasusunan

Karbon Ultra Rata BESAR

Katalog Bahagian Siri JSM-IT800/IT810

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT710HR

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT510

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT210

JCM-7000Plus NeoScope™ Versatile Benchtop SEM

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Analisis Bahan Asing dan Penentuan Bahan

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Jaminan Kualiti

Baru! Meneroka dengan SEM "Edisi Haiwan"

Baru! Meneroka dengan SEM "Edisi Tumbuhan"

Katalog Bahagian JSM-IT710HR

Katalog Bahagian JSM-IT210

Katalog Bahagian JCM-7000

HAXIS
Pendekatan inovatif untuk Analisis Kegagalan Semikonduktor

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

Sistem JIB-PS500i FIB-SEM

Sistem Pancaran Berbilang JIB-4700F

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Automatik Sistem Penyediaan Spesimen TEM STEMPLING

IB-19540CP/IB-19550CCP CROSS SECTION POLISHER™

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Sistem Pengilangan Tinggi Throughput

IB-19520CCP CROSS SECTION POLISHER™

IB-19530CP CROSS SECTION POLISHER™

Mikroskop Penentududukan Tepat BAHAGIAN RENTAS POLISHER™

BAHAGIAN RENTAS POLISHER™ Mikroskop Kedudukan Tepat JENIS2

Penganalisis Mikro Probe Elektron JXA-iHP200F/JXA-iSP100

Evolusi EPMA Bersepadu JXA-iHP200F・JXA-iSP100

WDS dan EDS bersepadu dengan JEOL EDS

Pemetaan Peringkat Kawasan Besar dengan Kepekaan ppm pada Pedang Jepun

Pelbagai Kristal Penganalisis WDS

Pengenalan kepada Fungsi Anggaran Latar Belakang dalam analisis WDS

Data Aplikasi WDS

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 9.0(Mei 2025)

Spektrometer Pancaran Sinar-X Lembut SXES-XR/LR/ER,-XREP/LREP/EREP

Pengesan CL Pankromatik (PCL)

JAMP-9510F Mikroprob Gerimit Pelepasan Medan

Imej Spektrum

Spektrometer Fotoelektron JPS-9030 (XPS)

Spektrometer NMR ECZ Luminous™ (siri JNM-ECZL) FT NMR

NMR Keadaan Pepejal

qNMR Analisis Kuantitatif oleh NMR

Katalog Aksesori Siri ECZ Luminous™

Magnet Superkonduktor Siri XC2

Sistem Penambakan Cryogen

ROYALPROBE™ P＋

ROYALPROBE™ HFX

Pematuhan Integriti Data JEOL NMR

ROYALPROBE™ AUTOMAS

Probe MARVEL SuperCOOL

Rangkaian Perisian Analisis JEOL

Enjin Pelancaran Antaramuka Pengurusan SMILEQ Spectral untuk Q-NMR

NM/MS Mempercepatkan Penyelidikan Sintesis Organik

Delta SpecScan-Daily

Spektrometer Resonans Putaran Elektron Siri JES-X3

Brosur Lampiran Spektrometer Resonans Putaran Elektron

JSX-1000S spektrometer pendarfluor sinar-X (XRF)

Kapsul Spesimen Cecair Vakum Rendah

Spektrometer Jisim Kromatograf Gas UltraQuad™2.0 JMS-Q1600GC

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 2.0 Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi - Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

Penyelesaian Analisis Hidrokarbon dengan JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha 2.0

JMS-TQ4000GC untuk Dioksin

JMS-800D Spektrometer Jisim Resolusi Tinggi

msFineAnalysis AI ver.3 Perisian Analisis Struktur Sebatian Tidak Diketahui

Perisian analisis automatik msFineAnalysis IQ ver.3

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum dan Penyelesaian Petrokimia

GC 2D yang komprehensif ditambah dengan JEOL GC-HRTOFMS : Aplikasi GCxGC

msQuantEye

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Pengionan tekanan atmosfera spektrometer jisim masa penerbangan resolusi tinggi

Sistem MALDI-TOFMS NewSpiralTOF™

msRepeatFinder Versi 9

Sistem pengimejan MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Primer JEOL GC-MS - Buku Panduan -

Koleksi Mass_Spectra Pengionan Lembut GC-MS

Kaedah Pengionan untuk Spektrometer Jisim JEOL - Buku Panduan -

Penyelesaian Bahan Polimer

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-A9

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-8100FS

Sistem Litografi Rasuk Elektron JBX-9500FS

SB-89010EUVC EXCIMER UV CLEANER

JAM-5200EBM Mesin AM Logam Rasuk Elektron

Maklumat Teknikal Baharu Pembuatan Aditif JEOL

Katalog Am Peralatan Industri

JEBG BS-60/JST BS-ICE Series Sumber Rasuk Elektron dan Bekalan Kuasa

BS-60610BDS Sumber Pemendapan Pengeboman

Sumber Rasuk Elektron BS-60250DEM

BS-800 Series/BS-920 Series Plasma-Assist Plasma Source/Power Supply

Penderia Putaran Siri BS-40

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Sistem Sintesis Nanopowder Plasma Terma TP-40020NPS

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

LIBnote

Nota Bateri Keadaan Pepejal

Pemeriksaan Kebersihan Pembuatan Bateri Litium-ion Automotif

Nota Bateri

Nota polimer

Nota makanan

Penyelesaian Analisis Makanan

Nota bio

CryoNote

Bio Photographs Album foto biologi SEM

Nota CLEM Cahaya Krelatif dan Mikroskopi Elektron

Nota Urushi

Peralatan Analisis Kimia (Katalog Komposit Instrumen Analisis)

Nota sains hayat

Nota Semikonduktor

Teknologi Kejuruteraan Alam Sekitar untuk Instrumen Analisis Termaju
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Kawalan suhu bilik / Tindakan balas aliran udara
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Tindakan balas medan magnet
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Tindakan balas getaran
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Sistem Pembatal Medan Magnet Aktif FS-78210AMC untuk Instrumen Saintifik
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Sistem Penstabilan Air Beredar DS-78600CWS untuk Instrumen Analisis
(Tiada pendaftaran diperlukan)

EST-L6HF-A017 Sistem Pengasingan Getaran Aktif untuk JEM-ARM300F2
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Sistem Pengasingan Getaran Aktif EST-L6H-8623 untuk JEM-ACE200F
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Sistem Pengasingan Getaran Aktif αL4X-911R2J untuk Mikroskop Elektron
(Tiada pendaftaran diperlukan)