GLOBAL Regional
Tapak
Hubungi Kami Hubungi Kami
     
Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Muat turun Katalog

Anda boleh memuat turun katalog PDF untuk setiap produk.
Klik imej katalog dan isi borang (sekali sahaja).
Anda boleh memuat turun dan melihat katalog dalam format PDF.

menu
Profil Syarikat
Panduan Produk
Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM)
Pilihan (TEM)
Penyelesaian Elektron Dinamik Bersepadu, Inc. / Produk (TEM)
Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)
Pilihan (FE-SEM)
SEM konvensional
Pilihan (SEM Konvensional)
Peralatan Aplikasi Rasuk Ion (FIB, CP)
Pilihan (FIB)
Peralatan Penyediaan Spesimen (CP)
Pilihan (CP)
Instrumen untuk Mikrokawasan dan Analisis Permukaan (EPMA, Auger, XPS, ESCA)
Pilihan (EPMA)
Auger Microprob (Auger)
Pilihan (Auger)
Spektrometer Resonans Magnet Nuklear (NMR)
Spektrometer Resonans Putaran Elektron (ESR)
Spektrometer Pendarfluor X-ray (XRF)
Spektrometer Jisim (MALDI-TOFMS, GC-MS, LC-MS)
Pilihan (GC-MS)
LC-MS (DART™-MS), MALDI-TOFMS
Pilihan (LC-MS (DART™-MS), MALDI-TOFMS)
Buku Panduan MS
Peralatan Semikonduktor
Mesin Pengilangan Aditif (AM)
Peralatan Perindustrian untuk pembentukan filem nipis dan pemprosesan bahan
Peralatan Pemprosesan Bahan (Untuk Pencairan Logam dan Sintesis Serbuk Nano, dsb.)
Nota Permohonan YOKOGUSHI
Tindakan balas alam sekitar untuk instrumen analisis

Profil Syarikat

Profil Syarikat

Profil Syarikat
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Panduan Produk

Panduan Produk

Panduan Produk
(Tiada pendaftaran diperlukan)

Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM)

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ Mikroskop Elektron Resolusi Atom

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ Mikroskop Elektron Resolusi Atom

JEM-ARM200F NEOARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom

JEM-ARM200F NEOARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom

Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom JEM-ARM200F monokrom

Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom JEM-ARM200F monokrom

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2200FS

Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2200FS

Mikroskop Elektron EM-2100Plus

Mikroskop Elektron JEM-2100Plus

Mikroskop Elektron JEM-1400Flash

Mikroskop Elektron JEM-1400Flash

Pilihan (TEM)

Kamera SightSKY EM-04500SKY Kepekaan Tinggi, Kamera CMOS Gandingan Gentian Bunyi Rendah

SightSKY EM-04500SKY Kepekaan Tinggi, Kamera CMOS Gandingan Gentian Bunyi Rendah

Sistem OBF

Sistem OBF

Menaik taraf JEM-1400/JEM-1400Plus dengan Kamera Denyar

Menaik taraf JEM-1400/JEM-1400Plus dengan Kamera Denyar

SAAF Octa Segmented Annular All Field Detector Octa

SAAF Octa Segmented Annular All Field Detector Octa

Pengesan STEM Piksel 4DCanvas™

Pengesan STEM Piksel 4DCanvas™

Buku Data Aplikasi 4DCanvas™

Buku Data Aplikasi 4DCanvas™

Penyelesaian Elektron Dinamik Bersepadu, Inc. / Produk (TEM)

Brosur Produk (Penyelesaian Elektron Dinamik Bersepadu, Inc.)

Brosur Produk (IDES)

Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)

FE-SEM

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT800

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT800

Kanta Hibrid Super JSM-IT800 (SHL) Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

Kanta Hibrid Super JSM-IT800 (SHL) Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

JSM-IT800(i)/(is) Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

JSM-IT800(i)/(is) Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

Pilihan (FE-SEM)

SM-92100EUVC EXCIMER UV CLEANER

SM-92100EUVC EXCIMER UV CLEANER

Gather-X JED Series Dry SD™ EDS Tanpa Tingkap

Gather-X JED Series Dry SD™ EDS Tanpa Tingkap

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 8.0 (Julai 2023)

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 8.0 (Julai 2023)

Spektrometer Pancaran X-ray lembut SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Spektrometer Pancaran X-ray lembut SXES-LR/ER, -LREP/EREP

SEM konvensional

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT710HR

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT710HR

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT700HR

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT700HR

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT510

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT510

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT210

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT210

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT200

Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT200

JCM-7000 NeoScope™ Versatile Benchtop SEM

JCM-7000 NeoScope™ Versatile Benchtop SEM

JCM-7000 NeoScope™ Versatile Benchtop SEM

JCM-7000 NeoScope™ Versatile Benchtop SEM

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Analisis Bahan Asing dan Penentuan Bahan

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Analisis Bahan Asing dan Penentuan Bahan

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Jaminan Kualiti

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Jaminan Kualiti

Pilihan (SEM Konvensional)

EDS untuk JSM-IT200 / DrySD™60

EDS untuk JSM-IT200 / DrySD™60

Peralatan Aplikasi Rasuk Ion (FIB, CP)

Sistem MultiBeam (FIB)

Sistem JIB-PS500i FIB-SEM

Sistem JIB-PS500i FIB-SEM

Sistem Pancaran Berbilang JIB-4700F

Sistem Pancaran Berbilang JIB-4700F

Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000PLUS

Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000PLUS

Pilihan (FIB)

IB-Z200021CFS, IB-Z200022CPC CRYO-FIB-SEM

IB-Z200021CFS, IB-Z200022CPC CRYO-FIB-SEM

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Automatik Sistem Penyediaan Spesimen TEM STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Automatik Sistem Penyediaan Spesimen TEM STEMPLING

Peralatan Penyediaan Spesimen (CP)

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Sistem Pengilangan Tinggi Throughput

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Sistem Pengilangan Tinggi Throughput

IB-19520CCP CROSS SECTION POLISHER™

IB-19520CCP CROSS SECTION POLISHER™

IB-19530CP CROSS SECTION POLISHER™

IB-19530CP CROSS SECTION POLISHER™

Pilihan (CP)

Mikroskop Penentududukan Tepat BAHAGIAN RENTAS POLISHER™

Mikroskop Penentududukan Tepat BAHAGIAN RENTAS POLISHER™

BAHAGIAN RENTAS POLISHER™ Mikroskop Kedudukan Tepat JENIS2

BAHAGIAN RENTAS POLISHER™ Mikroskop Kedudukan Tepat JENIS2

Instrumen untuk Mikrokawasan dan Analisis Permukaan (EPMA, Auger, XPS, ESCA)

  • EPMA ialah singkatan kepada Electron Probe Microanalyzer.

Penganalisis Mikro Probe Elektron (EPMA)

JXA-iHP200F Schottky medan pelepasan Electron Probe Microanalyzer JXA-iSP100 Tungsten/LaB 6 Electron Probe Microanalyzer

JXA-iHP200F Schottky pelepasan medan Elektron Probe Penganalisis Mikro JXA-iSP100 Tungsten/LaB6Penganalisis Mikro Elektron Probe

Pilihan (EPMA)

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Spektrometer Super SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 8.0 (Julai 2023)

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 8.0 (Julai 2023)

Spektrometer Pancaran X-ray lembut SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Spektrometer Pancaran X-ray lembut SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Auger Microprob (Auger)

JAMP-9510F Mikroprob Gerimit Pelepasan Medan

JAMP-9510F Mikroprob Gerimit Pelepasan Medan

Pilihan (Auger)

Imej Spektrum

Imej Spektrum

Spektrometer Fotoelektron (ESCA)

Spektrometer Fotoelektron JPS-9030 (XPS)

Spektrometer Fotoelektron JPS-9030 (XPS)

Spektrometer Resonans Magnet Nuklear(NMR)

Siri JNM-ECZL FT NMR

Siri JNM-ECZL FT NMR

Siri JNM-ECZR FT NMR

Siri JNM-ECZR FT NMR

Siri JNM-ECZS FT NMR

Siri JNM-ECZS FT NMR

NMR Keadaan Pepejal

NMR Keadaan Pepejal

qNMR

qNMR Analisis Kuantitatif oleh NMR

Sistem Penambakan Cryogen

Sistem Penambakan Cryogen

ROYALPROBE™ HFX

ROYALPROBE™ HFX

Pematuhan Integriti Data JEOL NMR

Pematuhan Integriti Data JEOL NMR

Spektrometer Resonans Putaran Elektron (ESR)

ESR Siri JES-X3

ESR Siri JES-X3

Spektrometer Pendarfluor X-ray (XRF)

JSX-1000S spektrometer pendarfluor sinar-X (XRF)

JSX-1000S spektrometer pendarfluor sinar-X (XRF)

Pilihan (XRF)

SX-01020LVC / SX-01030LVC Kapsul Vakum Rendah untuk menganalisis sampel cecair

SX-01020LVC / SX-01030LVC Kapsul Vakum Rendah untuk menganalisis sampel cecair

Spektrometer Jisim (MS)

GC-MS

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta Gas Chromatograph Quadrupole Mass Spectrometer

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta Gas Chromatograph Quadrupole Mass Spectrometer

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi - Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi - Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC untuk Dioksin

JMS-TQ4000GC untuk Dioksin

JMS-800D Spektrometer Jisim Resolusi Tinggi

JMS-800D Spektrometer Jisim Resolusi Tinggi

Spektrometer Jisim JMS-700 MSstation

Spektrometer Jisim JMS-700 MSstation

Pilihan (GC-MS)

msFineAnalysis Perisian Analisis Struktur Kompaun AI Tidak Diketahui

msFineAnalysis Perisian Analisis Struktur Kompaun AI Tidak Diketahui

siri msFineAnalysis (perisian analisis kualitatif bersepadu GC-MS)

siri msFineAnalysis (perisian analisis kualitatif bersepadu GC-MS)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum dan Penyelesaian Petrokimia

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum dan Penyelesaian Petrokimia

GC 2D yang komprehensif ditambah dengan JEOL GC-HRTOFMS : Aplikasi GCxGC

GC 2D yang komprehensif ditambah dengan JEOL GC-HRTOFMS : Aplikasi GCxGC

LC-MS (DART™-MS), MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Pengionan tekanan atmosfera spektrometer jisim masa penerbangan resolusi tinggi

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Pengionan tekanan atmosfera spektrometer jisim masa penerbangan resolusi tinggi

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 Sistem MALDI-TOFMS Resolusi Jisim Ultra Tinggi

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 Sistem MALDI-TOFMS Resolusi Jisim Ultra Tinggi

Pilihan (LC-MS (DART™-MS), MALDI-TOFMS)

Perisian Analisis Polimer msRepeatFinder

Perisian Analisis Polimer msRepeatFinder

Sistem pengimejan MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Sistem pengimejan MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Buku Panduan MS

Koleksi Mass_Spectra Pengionan Lembut GC-MS

Koleksi Mass_Spectra Pengionan Lembut GC-MS

Kaedah Pengionan untuk Spektrometer Jisim JEOL - Buku Panduan -

Kaedah Pengionan untuk Spektrometer Jisim JEOL - Buku Panduan -

Peralatan Semikonduktor

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-A9

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-A9

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-8100FS

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX-8100FS

Sistem Litografi Rasuk Elektron JBX-9500FS

Sistem Litografi Rasuk Elektron JBX-9500FS

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX

Sistem Litografi Rasuk Elektron Siri JBX

Mesin Pengilangan Aditif (AM)

JAM-5200EBM Mesin AM Logam Rasuk Elektron

JAM-5200EBM Mesin AM Logam Rasuk Elektron

Maklumat Teknikal Baharu Pembuatan Aditif JEOL

Maklumat Teknikal Baharu Pembuatan Aditif JEOL

Peralatan Perindustrian untuk pembentukan filem nipis dan pemprosesan bahan

Katalog Am Peralatan Industri

Katalog Am Peralatan Industri

Peralatan Pembentukan Filem Nipis (E-Beam dan Sumber Plasma, dsb.)

JEBG BS-60/JST BS-ICE Series Sumber Rasuk Elektron dan Bekalan Kuasa

JEBG BS-60/JST BS-ICE Series Sumber Rasuk Elektron dan Bekalan Kuasa

BS-60610BDS Sumber Pemendapan Pengeboman

BS-60610BDS Sumber Pemendapan Pengeboman

Sumber Rasuk Elektron BS-60250DEM

Sumber Rasuk Elektron BS-60250DEM

BS-800 Series/BS-920 Series Plasma-Assist Plasma Source/Power Supply

BS-800 Series/BS-920 Series Plasma-Assist Plasma Source/Power Supply

Penderia Putaran Siri BS-40

Penderia Putaran Siri BS-40

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Peralatan Pemprosesan Bahan (Untuk Pencairan Logam dan Sintesis Serbuk Nano, dsb.)

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Sistem Plasma Terma Aruhan RF

Sistem Sintesis Nanopowder Plasma Terma TP-400020NPS

Sistem Sintesis Nanopowder Plasma Terma TP-400020NPS

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Penyuap Serbuk Halus TP-99140FDR

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

Siri JEBG・BS / JST・ST (siri JEBG sumber pancaran elektron berkuasa tinggi)

Nota Permohonan YOKOGUSHI

Nota Bateri

Nota Bateri

LIBnote

LIBnote

Nota Bateri Keadaan Pepejal

Nota Bateri Keadaan Pepejal

Pemeriksaan Kebersihan Automotif Pembuatan Bateri Litium-ion

Pemeriksaan Kebersihan Automotif Pembuatan Bateri Litium-ion

Tindakan balas Alam Sekitar untuk Instrumen Analisis

Teknologi Kejuruteraan Alam Sekitar untuk Instrumen Analisis Termaju

Teknologi Kejuruteraan Alam Sekitar untuk Instrumen Analisis Termaju

Kawalan suhu bilik / Tindakan balas aliran udara

Kawalan suhu bilik / Tindakan balas aliran udara

Tindakan balas medan magnet

Tindakan balas medan magnet

Tindakan balas getaran

Tindakan balas getaran

Produk TOP

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.

Hubungi