JEM-ACE200F
Elektron Analisis Purata Tinggi
Mikroskop
JEM-ACE200F ialah mikroskop elektron yang bertindak balas kepada sistem yang membenarkan pengendali mendapatkan data tanpa mengendalikan mikroskop elektron dengan mencipta resipi untuk aliran kerja operasi.
Memandangkan JEM-ACE200F mewarisi teknologi perkakasan TEM mewah JEM-ARM200F dan FE-TEM pelbagai guna JEM-F200, mikroskop elektron analisis daya pemprosesan tinggi baharu ini memberikan kestabilan tinggi dan keupayaan analitikal dengan reka bentuk luaran yang canggih yang diperbaharui.
Ciri-ciri
Platform Unit Asas
Cold-FEG adalah standard.
Pemasangan pembetul Cs adalah mungkin.
Tahap kelajuan tinggi dan sensitiviti tinggi. Tiga kali lebih pantas daripada pemacu motor sedia ada dan kawalan pergerakan halus yang serupa dengan kawalan pemacu piezo tersedia.
Operasi Mudah
- Operasi intuitif tersedia walaupun untuk pengendali TEM yang tidak berpengalaman
- Meminimumkan operasi yang menggunakan panel operasi dan imej akhir boleh diperolehi sambil mengklik butang pada skrin mengikut urutan.
- Pelarasan fokus boleh dilakukan dengan operasi tetikus.
- Integrasi dengan kamera Gatan adalah mungkin.
- Fungsi penalaan mikroskop automatik
- Autofokus, astigmatisme automatik, pelarasan ketinggian spesimen automatik, pemusatan rasuk automatik, dan orientasi automatik, dsb.
Fungsi pemerolehan data automatik
- Perisian resipi "Pusat Automasi" membolehkan pemerolehan data automatik
- Imej TEM, imej STEM, pemetaan unsur oleh EDS.
- Beberapa spesimen pada grid boleh dikendalikan.
Pautan dengan perisian pengukuran dimensi kritikal
- Penentukuran pembesaran tersedia untuk setiap set pembesaran pada bahagian TEM.
- Pengukuran dimensi kritikal automatik tersedia untuk data yang diperoleh oleh lebih daripada satu JEM-ACE200F.
Operasi jauh
- Operasi bilik seterusnya
- Operasi jauh dan pemerhatian serentak di lebih daripada satu lokasi (tertakluk kepada persekitaran rangkaian)
- Membolehkan pemerhatian semasa berbincang dengan berbilang lokasi perniagaan.
Penambahbaikan rintangan alam sekitar dengan kepungan lajur
Menyumbang kepada mengawal impak daripada perubahan bunyi, aliran udara dan suhu bilik.
Langkah kalis bunyi selanjutnya boleh dilakukan dengan melekatkan bahan akustik pada dinding dalaman.
Daripada Analisis instrumen kepada Analisis alat
- Analisis STEM/TEM automatik akan membantu menambah baik proses dan membantu meningkatkan kawalan kualiti secara stabil -
spesifikasi
| Resolusi TEM（pada 200kV） | Imej zarah ≤0.21nm Imej kekisi 0.1nm Had maklumat ≤0.11nm |
|---|---|
| Resolusi STEM (pada 200kV) | Imej DF STEM ≤0.136nm konfigurasi ASCOR (pilihan) ≤0.1nm Imej BF STEM ≤0.136nm konfigurasi ASCOR (pilihan) ≤0.1nm |
| Pistol elektron | Pistol pelepasan medan sejuk (CFEG) |
| Mempercepatkan voltan | 60kV hingga 200kV (80 kV, 200 kV; standard, Voltan lain: pilihan) |
| Pergerakan spesimen | X,Y ±1.0mm Z ±0.2mm |
| Sudut kecondongan spesimen | TX/TY (pemegang kecondongan spesimen dwi paksi) ±20°／±25° TX (Pemegang kecondongan tinggi spesimen khusus) ±80° |
| Pilihan | JEOL 100mm2 SDD(Dual), EELS, Pembetul Cs, Pusat Automasi, Tomografi |
Kesesuaian
Permohonan JEM-ACE200F
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.