JAMP-9510F
Mikroprob Auger Pelepasan Medan
Ia adalah spektrometer elektron Auger spesifikasi tinggi dengan penganalisis hemisfera untuk menyediakan analisis daya pemprosesan yang tinggi bagi keadaan ikatan kimia di kawasan nano ke mikro, dan senapang elektron pelepasan medan juga digunakan untuk EPMA, kerana ia boleh menghantar arus elektrik yang besar dan stabil. peringkat spesimen eusentrik yang sangat tepat memungkinkan untuk melakukan analisis penebat yang mustahil sebelum ini. Ini digabungkan dengan senapang ion jenis terapung menawarkan kepelbagaian untuk mengendalikan sebarang spesimen, seperti logam dan bahan penebat, untuk mendapatkan maklumat komposisi dan maklumat kimia.
Ciri-ciri
Kepekaan tinggi・penganalisis resolusi tinggi
Menggunakan penganalisis dengan resolusi tenaga boleh ubah telah membolehkan anda melakukan analisis keadaan ikatan kimia dalam mod resolusi tinggi, serta pemetaan berkelajuan tinggi dalam mod kepekaan tinggi.
Pistol Elektron Pelepasan Medan Schottky
Senapang elektron yang mencapai kedua-dua pemerhatian imej dengan resolusi spatial 3nm, serta analisis keadaan ikatan kimia throughput tinggi hasil daripada arus elektrik yang besar sehingga 200nA. Ini boleh dilakukan dengan menggabungkan teknologi optik elektron yang telah dibangunkan oleh JEOL selama bertahun-tahun dengan Senapang Elektron Pelepasan Medan Schottky yang digunakan dalam SEM dan EMPA.
Peringkat Spesimen Eusentrik
Penggunaan peringkat eusentrik, satu keperluan untuk peranti analisis dengan sistem optik berbilang, memberikan kebolehulangan pusat ketinggian yang sangat tepat. Kecondongan yang boleh dipilih secara bebas sehingga 90° menjadikan analisis penebat yang sukar mungkin.
Ketahanan
Berdasarkan konsep reka bentuk jangka hayat yang panjang, kos operasi yang berkaitan dengan penggantian filamen senapang ion dan pemancar senapang elektron telah dikurangkan.
perisian
Pengasingan puncak Auger yang bertindih, yang memburukkan penganalisis, serta analisis keadaan ikatan kimia yang rumit boleh dilakukan dengan satu klik menggunakan fungsi pemisahan bentuk gelombang.
Perisian penstrukturan semula peta membolehkan pelbagai analisis, seperti penetapan semula P/B selepas pengukuran, dan menjejaki perubahan dari semasa ke semasa semasa penyepaduan.
spesifikasi
| Sistem pencahayaan elektron | |
|---|---|
| resolusi SEI | 3nm（pada 25kV, 10pA） |
| Diameter probe untuk analisis Auger | 8nm（pada 25kV, 1nA） |
| Pistol elektron | Pistol pelepasan medan Schottky |
| Mempercepatkan voltan | 0.5 hingga 30kV |
| Arus siasatan | 10-11 hingga 2 × 10-7A |
| Pembesaran | x 25 hingga 500,000 |
| Sistem analisis auger | |
| Penganalisis | Penganalisis hemisfera elektrostatik (HSA) |
| Resolusi tenaga（ΔE/E） | 0.05 ke 0.6% |
| Kepekaan | 840,000 cps/7 ch atau lebih
(pada 10 kV 10 nA Cu-LMN, resolusi 0.6%, kecondongan 60) |
| Sistem pengesanan | Pengesanan berbilang saluran |
| Pistol ion | |
| Tenaga ion | 0.01 hingga 4keV |
| Arus ion (arus serap) | 2 A atau lebih pada 3,000 eV, 0.03A atau lebih pada 10 eV |
| Fungsi peneutralan | Terbina dalam |
| Tahap spesimen | |
| Pergerakan spesimen | X: ±10 mm, Y: ±10 mm, Z: ±6 mm,
T (condong): 0 hingga 90, R (putaran): 360 (tidak berkesudahan) |
| Ukuran spesimen | 20 mm diameter (5 mm tebal) |
| Sistem pemindahan UHV | |
| Tekanan muktamad dalam ruang spesimen | 5 × 10-8Pa atau kurang |
| Membakar keluar | Pemanas terbina dalam, pemanggang automatik |
| perisian | |
| Perolehan data | Spektrum,
Profil kedalaman, Profil talian, imej auger, SEI (imej elektron sekunder) Analisis imej kawasan luas (pilihan), Analisis penjadualan (pilihan) |
| Pemprosesan data | analisis kualitatif,
Analisis kuantitatif, pembezaan, Melicinkan, Pemprosesan imej, Teks masuk, Perisian dekonvolusi puncak (pilihan) |
Spesifikasi boleh berubah tanpa notis.
Kebolehbagaian
Port tambahan untuk menampung lampiran berikut disediakan, menyokong pelbagai analisis.
Unit Letak Kereta Spesimen
Peranti Penyejukan dan Pecah Spesimen
Pengesan Elektron Terserak Belakang
Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)
Kapal Pemindahan
Muat turun Katalog
JAMP-9510F Mikroprob Gerimit Pelepasan Medan
Kesesuaian
Permohonan JAMP-9510F
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.