JSX-1000S
Pendarfluor sinar-X
spektrometer (XRF)
JSX-1000S ialah spektrometer pendarfluor sinar-X yang menyediakan analisis unsur yang cepat dan mudah menggunakan operasi skrin sentuh. Ia dilengkapi dengan fungsi untuk analisis kualitatif dan kuantitatif konvensional (kaedah FP, kaedah lengkung penentukuran), serta penapisan untuk elemen RoHS. Dengan pelbagai pilihan perkakasan dan perisian yang tersedia, ia boleh disesuaikan untuk menampung pelbagai keperluan analisis.
Ciri-ciri
JSX-1000S dalam gerakan
Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 4 minit)
Operasi Mudah
Hanya tetapkan sampel dan sentuh skrin; begitulah mudahnya untuk dikendalikan. Satu lagi sentuhan skrin adalah semua yang diperlukan untuk bertukar antara hasil analisis dan paparan spektrum. Ia adalah semudah untuk beroperasi seperti tablet PC atau telefon pintar. (Operasi menggunakan papan kekunci dan tetikus juga disokong.)
Tetapkan & Sentuh operasi mudah
GUI operasi yang mudah dan intuitif
Kepekaan Tinggi & Kapasiti Tinggi
SDD (pengesan hanyut silikon) JEOL sendiri dan sistem optik yang baru dibangunkan, digabungkan dengan penapis yang direka untuk mengendalikan keseluruhan julat tenaga, memungkinkan untuk mencapai analisis kepekaan tinggi.
Unit vakum ruang sampel (pilihan) meningkatkan lagi sensitiviti pengesanan untuk unsur yang lebih ringan.
Analisis sensitif di seluruh julat tenaga
Analisis kepekaan tinggi boleh dilakukan merentasi keseluruhan julat tenaga menggunakan maksimum 9 jenis penapis dan unit vakum ruang sampel.
Cl, Cu, Mo dan Sb adalah pilihan
Contoh: pengesanan unsur surih (10 ppm atau kurang)
Menyediakan Penyelesaian
Dengan aplikasi berasaskan penyelesaian, analisis yang diingini boleh dilaksanakan secara automatik mengikut resipi yang telah direkodkan. Hanya pilih ikon penyelesaian yang dikehendaki daripada senarai aplikasi penyelesaian untuk analisis automatik dan paparan hasil. Aplikasi penyelesaian menawarkan analisis ringkas dalam pelbagai bidang.
Kaedah Smart FP (Parameter Asas) baharu membolehkan anda memperoleh hasil kuantitatif yang sangat tepat tanpa perlu menyediakan sampel standard, dan termasuk pembetulan automatik untuk ketebalan dan baki bahan baki.
(Fungsi pembetulan baki baki dan pembetulan ketebalan hanya terpakai untuk sampel organik.)
| Ketebalan | Kreksi | Cr | Zn | Cd | Pb | Baki automatik |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 0.5mm | Tidak | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
| 3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
| 0.5mm | Ya | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
| 3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
| Nilai standard | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 | ||
spesifikasi
| Julat elemen analisis | Mg kepada U |
|---|---|
| F kepada U (Pilihan) | |
| Penjana sinar-X | 5 hingga 50 kV, 1 mA |
| Sasaran | Rh |
| Penapis utama: 9 jenis, Pertukaran automatik | Standard：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
| Pilihan：Cl, Cu, Mo, Sb | |
| Kolimator: 3 jenis, Pertukaran automatik | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| Pengesan | Pengesan drift silikon (SDD) |
| Saiz ruang spesimen | 300mm(D)×80mm(H) |
| Suasana ruang spesimen | AIR / VAC (Pilihan) |
| Mekanisme pemerhatian bilik | Kamera warna |
| Komputer operasi | Windows ® Desktop PC dengan panel sentuh |
| Perisian analisis (Standard) | Analisis kualitatif (Automatik, penanda KLM, paparan jumlah puncak, carian Spektrum)
Analisis kuantitatif (Kaedah Pukal FP, Kaedah lengkung Penentukuran) Penyelesaian analisis RoHS (Cd, Pb,Ｃｒ, Br, Hg) Penyelesaian analisis ringkas Perisian penciptaan laporan |
| Perisian untuk semakan harian (Standard) | Penuaan mentol tiub, Pemeriksaan tenaga, Pemeriksaan keamatan |
Windows® ialah sama ada tanda dagangan berdaftar atau tanda dagangan Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan/atau negara lain.
Pilihan utama
CONTOH UNIT VACCUM RUANG
PENUKAR SAMPEL AUTO
SET PENAPIS
PENAPIS PERISIAN ANALISIS KAEDAH FP
PERISIAN ANALISIS KAEDAH FP FILEM NIPIS
PERISIAN SUM PEAK REMOVAL
Ni penyelesaian saringan penyaduran
Penyelesaian penyaduran sn
Penyelesaian penapisan halogen
Maklumat berkaitan
Kesesuaian
Permohonan JSX-1000S
Ketebalan Filem dengan Kaedah FP Filem Nipis
Analisis Kuantitatif dan Kualitatif Unsur Tak Organik dalam Plastik dengan Kaedah FP
Analisis Kuantitatif Oksida menggunakan Kaedah FP
Analisis Kualitatif dan Kuantitatif Aloi Logam dengan Kaedah FP
Analisis dengan pemisahan As dan Pb dalam Besi dan Keluli adalah mungkin.
Analisis Keretakan pada Bahagian Paip Loyang
Ujian /Analisis Bahan Asing pada permukaan Resin dengan analisis sinar-X
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.