Analisis Keretakan pada Bahagian Paip Loyang
Pengenalpastian punca masalah oleh XRF dan EPMA
Untuk memahami punca dan meminimumkan berulangnya kerosakan produk, adalah perlu untuk meneruskan kecacatan pada peringkat awal.
Spektrometer pendarfluor sinar-X (ED-XRF) boleh memberikan analisis unsur yang cepat dan tidak merosakkan untuk sebarang keadaan sampel seperti pepejal, cecair atau serbuk. Ia boleh digunakan sebagai instrumen saringan pantas untuk mengesan punca masalah.
Spektrometer pendarfluor sinar-X (ED-XRF) boleh memberikan analisis unsur yang cepat dan tidak merosakkan untuk sebarang keadaan sampel seperti pepejal, cecair atau serbuk. Ia boleh digunakan sebagai instrumen saringan pantas untuk mengesan punca masalah.
- Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik. 
PDF 379KB
Produk Berkaitan
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.