Analisis Keretakan pada Bahagian Paip Loyang

Pengenalan

Untuk memahami punca dan meminimumkan berulangnya kerosakan produk, adalah perlu untuk meneruskan kecacatan pada peringkat awal.

Spektrometer pendarfluor sinar-X (ED-XRF) boleh memberikan analisis unsur yang pantas dan tidak merosakkan untuk sebarang keadaan sampel seperti pepejal, cecair atau serbuk. Ia boleh digunakan sebagai instrumen saringan pantas untuk mengesan punca masalah.

ED-XRF

Paip tembaga yang digunakan untuk penyejukan air menunjukkan retakan yang mengakibatkan kebocoran air. Dengan menggunakan ED-XRF, kami menjalankan analisis unsur pada kecacatan retakan dan juga jauh dari kawasan kecacatan.

Keputusan analisis unsur mendedahkan bahawa terdapat perbezaan dalam kandungan Sn dan Pb. Memandangkan taburan unsur di bahagian yang retak berbeza daripada kawasan biasa, kami menjalankan ujian tambahan menggunakan EPMA.

EPMA

EPMA bukan sahaja boleh mengesahkan komposisi tetapi juga taburan ruang.

Pemetaan unsur menggunakan EPMA menunjukkan bahawa saiz struktur unsur utama Cu dan Zn berbeza di kawasan yang gagal berbanding keratan rentas normal.

Ringkasan

Dengan ED-XRF, maklumat tentang elemen yang terkandung boleh diperoleh dengan cepat dan mudah. ​​Di samping itu, berdasarkan maklumat elemen ini, adalah mungkin untuk menentukan jenis analisis tambahan yang akan menyokong penyiasatan ini. Pemetaan elemen EPMA membolehkan pemerolehan maklumat keadaan taburan elemen dan organisasi, membantu mengenal pasti punca masalah.

Rumusan berdasarkan bidang

Logam

Lain-lain

Lebih Banyak Produk

Spektrometer Pendarfluor X-ray (Atas bangku)