Mikroskop Elektron Am
DNA JEOL yang telah menyumbang kepada kemajuan sains di seluruh dunia dan pembangunan masyarakat sejak penubuhannya.
Mikroskop elektron membolehkan pemerhatian jelas struktur mikro yang tidak boleh diperhatikan dengan mikroskop optik. Tambahan pula, ia juga boleh menganalisis jenis dan kandungan unsur.
JEOL, dengan asalnya dalam membangunkan mikroskop elektron, telah menyediakan pelbagai jenis instrumen menggunakan pancaran elektron, pancaran ion dan teknologi sinar-X termasuk mikroskop elektron penghantaran (TEM) dan mikroskop elektron pengimbasan (SEM).
Produk
Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM)
Pemerhatian resolusi tinggi dan analisis struktur tahap atom, analisis unsur mikro ke kawasan nano adalah mungkin.
Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)
Terutamanya, pemerhatian struktur permukaan dan analisis unsur boleh dilakukan.
Peralatan Aplikasi Rasuk Ion
Penyediaan spesimen yang tepat adalah mungkin. Pemerhatian dan analisis serentak juga boleh dilakukan bergantung pada model dan lampiran.
Instrumen untuk Analisis Kawasan Mikro dan Permukaan
Ia menganalisis keadaan terperinci unsur-unsur yang terkandung dalam mikro ke kawasan nano atau permukaan bahan.
Spektrometer Pendarfluor X-ray
Ia boleh menganalisis jenis dan kandungan unsur dalam pelbagai sampel seperti pepejal, serbuk, cecair dan filem nipis, tanpa memerlukan spesimen rujukan.
Maklumat Berkaitan
Seminar / webinar terkini
Maklumat teknikal terkini dikongsi dengan anda dalam format seminar menggunakan contoh analisis.
Filem lalu (senarai webinar)
Perpustakaan rakaman webinar (seminar web) yang diadakan pada masa lalu tersedia.
YOKOGUSHI
Dengan "YOKOGUSHI" sebagai kata kunci, kami akan menyasarkan untuk mencadangkan aliran penilaian silang fungsi.