Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Penganalisis Mikro Probe Elektron (EPMA)

Ia membolehkan pemerhatian tisu permukaan dan morfologi dan analisis unsur surih tempatan. Penggunaan pengesan, seperti spektrometer sinar-X penyebaran panjang gelombang (WDS) dan spektrometer sinar-X lembut (SXES), boleh memperoleh hasil pengukuran yang lebih terperinci daripada pengesan penyebaran tenaga (EDS) yang digunakan dengan mikroskop elektron pengimbasan (SEM).
JEOL ialah satu-satunya pengeluar di dunia yang boleh mencadangkan spektrometer sinar-X lembut.

Produk

EPMA

JXA-iHP200F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan (FE-EPMA)

JXA-iHP200F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan (FE-EPMA)

JXA-iSP100 Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

JXA-iSP100 Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

Pilihan EPMA

Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)

Spektrometer Pancaran X-ray lembut(SXES)

Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy™

Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy™

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

PEMBANGUNAN /
KES PEMASANGAN

Suara daripada pengguna kami diperkenalkan dalam bentuk temu bual, kes pemasangan dan rahsia pembangunan. Anda mungkin menemui beberapa petunjuk bermaklumat yang boleh menyelesaikan masalah anda. Sila periksa dengan mereka.

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.