JXA-iHP200F
Siasatan Elektron Pelepasan Medan
Penganalisis Mikro (FE-EPMA)

Ciri-ciri

Electron Probe Microanalyzer (EPMA) telah digunakan sebagai alat untuk pembangunan penyelidikan dan jaminan kualiti dalam pelbagai bidang perindustrian seperti keluli, kereta, komponen elektrik, bahan bateri dan aplikasinya semakin berkembang. Di samping itu, dalam bidang akademik, EMPA telah digunakan secara meluas dalam sains planet bumi dan sains bahan, dan sumbangan masa depan boleh dijangkakan kepada aplikasi termasuk pelbagai penyelidikan lanjutan meliputi penyelidikan tenaga bahan seperti mineral dan pelbagai bahan baharu. Sebagai tindak balas, penggunaan instrumen yang "lebih ringkas" dan "lebih pantas", boleh diakses oleh sesiapa sahaja adalah dalam permintaan sambil mengekalkan prestasi tinggi analisis mikro.
JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 adalah EPMA bersepadu dengan ciri yang dipertingkatkan, memenuhi keperluan ini dan mencapai operasi yang lebih cekap daripada pemerhatian hingga analisis.

• EPMA ialah singkatan untuk Electron Probe Microanalyzer.

Menetapkan

Sisipan pemegang dengan Pemuatan Auto! Cepat cari titik pemerhatian sasaran!

Sisipan spesimen dan pemerolehan imej optik pemegang spesimen (imej Navigasi Peringkat) dilaksanakan dengan satu klik.
Medan untuk analisis boleh dipilih daripada imej Navigasi Peringkat.

Analisis

Fungsi auto membolehkan sesiapa sahaja memperoleh imej SEM berkualiti tinggi EPMA mudah untuk analisis unsur pantas dengan tetapan instrumen yang dipermudahkan

Dalam gabungan fungsi Auto Fokus mikroskop optik dan fungsi Auto SEM yang menggabungkan sistem baharu dengan ketepatan yang lebih tinggi dan tahap keupayaan yang lebih pantas, mana-mana pengguna boleh memperoleh imej SEM berkualiti tinggi. "Analisis Langsung" membolehkan pemeriksaan unsur semasa pemerhatian. "EPMA Mudah" tersedia, jadi pengguna baru boleh mengendalikan EPMA dengan lancar. “Penyepaduan EPMA-XRF” membenarkan penetapan keadaan EPMA berdasarkan data XRF. Penyepaduan WD/ED menyediakan masa analisis yang cekap. Kebolehoperasian dipertingkatkan lagi dengan penyepaduan SEM, EDS, WDS dan imej optik.

Menetapkan skrin dan memaparkan data Easy EPMA

Analisis Langsung EDS

Contoh pengurangan masa analisis kerana penyepaduan WD/ED

Penyepaduan: Satu klik membolehkan penetapan gabungan kristal menganalisis berdasarkan elemen yang disyorkan melalui data daripada teknik seperti di atas.

Penyelenggaraan Diri

Penentukuran Cekap dengan 18 spesimen standard terbina dalam

Fungsi penentukuran spektrometer baharu mengurangkan langkah penentukuran berkala dan menghapuskan salah operasi dengan menggunakan spesimen standard terbina dalam.
Kecekapan yang lebih tinggi dengan menjalankan penentukuran instrumen automatik pada waktu malam.
Fungsi pemberitahuan penyelenggaraan memastikan penyelenggaraan yang betul pada masa yang diperlukan.

18 spesimen standard terbina dalam untuk penentukuran

Fungsi pemberitahuan penyelenggaraan "Alat Sokongan Pelanggan"

Dalam kanta Schottky Plus FEG pada JXA-iHP200F

Schottky Plus FEG dalam kanta memberikan resolusi tinggi pada voltan pecutan rendah, membolehkan pengimejan dan analisis SEM resolusi spatial tinggi pada pembesaran tinggi. Senapang pelepasan termionik, yang mencapai arus probe yang besar dengan kestabilan yang tinggi dalam jangka masa yang panjang, sesuai untuk analisis unsur surih pantas dan untuk analisis semalaman berbilang spesimen.

pautan

• Siaran Berita(2019/11/13)

Keluaran Penganalisis Mikro Elektron Probe Baharu JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 - Evolusi EPMA Bersepadu -

Kandungan Khas JXA-iHP200F/JXA-iSP100

Muat turun Katalog

JXA-iHP200F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan (FE-EPMA)

Kesesuaian

Permohonan JXA-iHP200F

CLEMnote

Galeri

Produk Berkaitan

Produk Berkaitan

Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)

Spektrometer Pancaran X-Ray Lembut (SXES) ialah spektrometer resolusi ultra tinggi yang terdiri daripada kisi pembelauan yang baru dibangunkan dan kamera CCD sinar-X sensitiviti tinggi. Dengan cara yang sama seperti EDS, pengesanan selari adalah mungkin, dan analisis resolusi tenaga ultra tinggi 0.3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) boleh dilakukan, mengatasi resolusi tenaga WDS.

Maklumat lanjut