Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Keluaran Penganalisis Mikro Elektron Probe Baharu JXA-iHP200F dan JXA-iSP100- Evolusi EPMA Bersepadu -

Tarikh Tayangan: 2019/11/13

JEOL Ltd. (Presiden & COO Izumi Oi) mengumumkan keluaran Schottky field emission Electron Probe Microanalyzer JXA-iHP200F dan tungsten/LaB baharu6 Electron Probe Microanalyzer JXA-iSP100, akan dikeluarkan pada November 2019.

Latar Belakang Pembangunan Produk

Electron Probe Microanalyzers (EPMA) digunakan sebagai alat untuk penyelidikan & pembangunan dan kawalan kualiti dalam pelbagai bidang perindustrian, seperti keluli, kereta, bahagian elektronik dan bahan bateri. Selain itu, dalam bidang akademik, EPMA digunakan dalam sains bumi & planet dan sains bahan, yang bukan sahaja meliputi penyelidikan tenaga mineral, tetapi juga menangani penyelidikan bahan baru, sekali gus menyumbang kepada pelbagai penyelidikan canggih. Memandangkan aplikasi EPMA semakin meningkat, pengguna EPMA memerlukan analisis yang ringkas dan pantas dengan kebolehkendalian yang tinggi sambil mengekalkan prestasi berkualiti tinggi untuk analisis unsur surih di kawasan yang ditakrifkan menarik.
Untuk memenuhi permintaan ini, JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 membolehkan penyepaduan yang lancar daripada pemerhatian (imej optik dan SEM) kepada analisis dengan spektroskopi sinar-X (WDS), spektroskopi sinar-X penyebaran tenaga (EDS), Cathodoluminescence ( CL), serta teknik lain.

Ciri-ciri utama

EPMA Bersepadu untuk Operasi Mudah dan Pantas
  • Daya pengeluaran tinggi
    Sesiapa sahaja boleh melakukan operasi lancar dari sisipan spesimen hingga penentuan kawasan analisis dengan ketepatan yang tinggi.
  • Analisis yang sangat tepat
    Sistem EPMA bersepadu membolehkan sesiapa sahaja memperoleh data analisis dengan lebih pantas dan mudah dengan ketepatan dan ketepatan yang lebih tinggi serta tahap keupayaan yang lebih pantas.
  • penyelenggaraan mudah
    Memandangkan penyelenggaraan dijalankan secara automatik hanya apabila diperlukan, semua orang boleh mengekalkan sistem EPMA dalam keadaan optimumnya.
JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 mempunyai kebolehkembangan yang tinggi. Bukan sahaja untuk sistem WDS dan EDS, tetapi juga spektrometer pelepasan sinar-X lembut (SXES) untuk analisis keadaan kimia, sistem pembelauan serakan belakang elektron (EBSD) untuk analisis orientasi kristal, dan pengesan katodoluminesensi (CL) boleh digabungkan untuk analisis kepelbagaian dalam pelbagai aplikasi. 


Nota: EPMA ialah singkatan daripada “Electron Probe Microanalyzer”.

JXA-iHP200F

Sasaran jualan unit tahunan

70 unit/tahun

LINK

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.