Sistem MultiBeam (FIB)
Sistem rasuk ion terfokus ialah instrumen untuk mengisar spesimen menggunakan rasuk ion pada kelajuan tinggi dan ketepatan tinggi semasa pemerhatian. Adalah mungkin untuk menyediakan spesimen untuk mikroskop elektron penghantaran (TEM) dengan pengilangan automatik dan analisis 3D.
Sistem berbilang rasuk yang dilengkapi dengan mikroskop elektron pengimbasan (SEM) mampu melakukan pelbagai analisis dengan melampirkan pengesan.
Barisan Sistem MultiBeam (FIB).
Produk
FIB
Pilihan FIB
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.
PEMBANGUNAN /
KES PEMASANGAN
Suara daripada pengguna kami diperkenalkan dalam bentuk temu bual, kes pemasangan dan rahsia pembangunan. Anda mungkin menemui beberapa petunjuk bermaklumat yang boleh menyelesaikan masalah anda. Sila periksa dengan mereka.
Hubungi
JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.