OmniProbe 350
Manipulator Nano di dalam
ruang spesimen FIB-SEM

OmniProbe 350 of Oxford Instruments ialah manipulator nano yang menampilkan ketepatan tinggi dan operasi lancar.
Memasangnya pada Sistem Multi Beam JIB-4700F, membolehkan operasi angkat keluar semasa memerhati oleh SEM dan FIB.
Satu siri proses penyediaan spesimen TEM boleh diselesaikan dalam ruang spesimen JIB-4700F.

Ciri-ciri

• Operasi kuar intuitif
  Operasi probe boleh dikawal dengan koordinat yang ditentukan oleh arah pemerhatian SEM dan FIB.

• Lineariti unggul
  Probe yang bergerak dalam garis lurus ke semua arah boleh terangkat keluar dengan selamat tanpa mengenai bahagian tepi parit.

• Pergerakan tepat (dengan kedudukan menyimpan)
  Pengguna boleh memindahkan probe dari kedudukan ditarik balik sepenuhnya ke kedudukan kerja dengan satu klik. Di samping itu, kedudukan kerja yang ditentukan oleh pengguna boleh disimpan dan siasatan boleh diambil semula ke kedudukan yang disimpan.

• Bunyi rendah, drift rendah
  Ia meminimumkan getaran dan hanyut apabila melahu, mengurangkan risiko semasa angkat keluar.

• Perubahan tip in-situ
  Jarum probe boleh ditukar dalam masa yang singkat tanpa mengeluarkan ruang mikroskop elektron.

Aliran penyediaan spesimen TEM menggunakan OmniProbe 350

1. Sediakan blok spesimen

3. Blok spesimen diangkat keluar dari parit

5. Dilekatkan pada grid

2. OmniProbe disambungkan kepada spesimen

4. Dipindahkan ke grid

6．Penyediaan spesimen filem nipis

Related links

Tapak Khas JIB-4700F

• Produk

Sistem Pancaran Berbilang JIB-4700F

spesifikasi

Maklumat lanjut