JIB-4700F
Sistem Multi Beam
Kemajuan dalam pembangunan bahan baharu yang menampilkan struktur nano yang kompleks meningkatkan permintaan terhadap instrumen FIB-SEM untuk resolusi, ketepatan dan daya pemprosesan yang luar biasa. Sebagai tindak balas, JEOL telah membangunkan Sistem Multi Beam JIB-4700F untuk digunakan dalam pemerhatian morfologi, analisis unsur dan kristalografi pelbagai spesimen.
Ciri-ciri
JIB-4700F menampilkan kanta objektif kon hibrid, mod GENTLEBEAM™ (GB) dan sistem pengesan dalam kanta untuk memberikan resolusi terjamin 1.6nm pada voltan pecutan rendah 1 kV. Menggunakan "pistol elektron pelepasan Schottky dalam kanta" yang menghasilkan pancaran elektron dengan arus probe maksimum 300nA, instrumen yang baru dibangunkan ini membolehkan pemerhatian resolusi tinggi dan analisis pantas. Untuk lajur FIB, pancaran Ga ion ketumpatan arus tinggi sehingga arus probe maksimum 90nA digunakan untuk pengilangan ion pantas dan pemprosesan spesimen.
Serentak dengan pemprosesan keratan rentas berkelajuan tinggi oleh FIB, pemerhatian SEM resolusi tinggi dan analisis pantas boleh dijalankan menggunakan spektroskopi sinar-X (EDS) penyebaran tenaga dan pembelauan serakan belakang elektron (EBSD). Selain itu, fungsi analisis tiga dimensi yang secara automatik menangkap imej SEM pada selang waktu tertentu dalam pemprosesan keratan rentas disediakan sebagai salah satu ciri standard JIB-4700F.
Pemerhatian SEM resolusi tinggi
Resolusi terjamin 1.6 nm pada voltan pecutan rendah 1 kV disampaikan oleh kanta objektif kon hibrid magnetik/elektrostatik, mod GB dan pengesan dalam kanta.
Analisis pantas
Analisis pantas didayakan kerana peleraian tinggi boleh dikekalkan dalam analisis di bawah arus probe yang besar dengan gabungan dengan senapang elektron pelepasan Schottky dalam kanta dan kanta kawalan sudut apertur.
Pemprosesan berkelajuan tinggi
Lajur pancaran Ga ion berkuasa tinggi membolehkan pemprosesan spesimen pantas.
Sistem pengesanan dipertingkatkan
Sistem pengesanan serentak yang melibatkan pengesan dalam kanta yang baru dibangunkan membolehkan pemerhatian masa nyata imej daripada sehingga 4 pengesan.
serba boleh
JIB-4700F serasi dengan pelbagai lampiran pilihan termasuk EDS, EBSD, sistem pemindahan cryo, peringkat penyejukan dan sistem pemindahan terpencil udara, dsb.
Pemerhatian/analisis tiga dimensi
Visualisasi tiga dimensi imej dan data analisis boleh dilakukan dengan gabungan dengan SEM resolusi tinggi dan unit analisis pilihan yang sesuai.
Fungsi hubungan peringkat
Dengan sistem pengambilan atmosfera (pilihan) dan fungsi pautan peringkat, spesimen TEM (mikroskop elektron penghantaran) boleh ditarik balik dengan mudah.
Sistem tindanan gambar
Menindan imej mikroskop optik daripada sistem pengambilan atmosfera pada imej FIB memudahkan untuk mengenal pasti titik pemprosesan FIB.
pautan
spesifikasi
| SEM | |
|---|---|
| Voltan pendaratan | 0.1 hingga 30.0kV |
| Resolusi imej (pada WD optimum) | 1.2nm (15kV, mod GB)
1.6nm (1kV, mod GB) |
| Pembesaran | x20 hingga 1,000,000
(mod LDF tersedia) |
| Arus siasatan | 1pA hingga 300nA |
| Pengesan (* pilihan) | LED, UED, USD*, BED*, TED*, EDS* |
| Tahap spesimen | Peringkat goniometer 6 paksi berkomputer
X: 50mm, Y: 50mm, Z: 1.5 hingga 40mm, R: 360°, T: -5 hingga 70°, FZ: -3.0 hingga +3.0mm |
| FIB | |
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30kV |
| Resolusi imej | 4.0nm (30kV) |
| Pembesaran | x50 hingga 1,000,000
(x50 hingga 90 diperolehi pada 15kV atau kurang) |
| Arus siasatan | 1 pA hingga 90 nA, 13 langkah |
| Memproses bentuk dengan mengisar | segi empat tepat, garis, titik, bulatan, peta bit |
Muat turun Katalog
Sistem Pancaran Berbilang JIB-4700F
Kesesuaian
Permohonan JIB-4700F
Perbandingan Kaedah Pengimejan 3D dalam Mikroskopi Elektron untuk Biobahancontoh：（300KB）
Memperkenalkan Mikroskopi Elektron Pengimbasan Cryo
Galeri
Produk Berkaitan
OmniProbe 350 Nano Manipulator di dalam ruang spesimen FIB-SEM
OmniProbe 350 of Oxford Instruments ialah manipulator nano yang menampilkan ketepatan tinggi dan operasi lancar.
Memasangnya pada Sistem Multi Beam JIB-4700F, membolehkan operasi angkat keluar semasa memerhati oleh SEM dan FIB.
Satu siri proses penyediaan spesimen TEM boleh diselesaikan dalam ruang spesimen JIB-4700F.
IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Automatik Sistem Penyediaan Spesimen TEM STEMPLING
Sistem Penyediaan Spesimen TEM Automatik STEMPLING ialah perisian untuk penyediaan spesimen TEM automatik dengan menggunakan FIB. Sistem ini dibangunkan untuk memenuhi keperluan penyediaan spesimen menggunakan FIB, seperti operasi mudah yang boleh dilakukan oleh sesiapa sahaja, dan untuk teknologi yang membolehkan penciptaan sejumlah besar spesimen. Disebabkan oleh STEMPLING, kemahiran pakar yang tinggi tidak diperlukan untuk penyediaan spesimen, membolehkan sesiapa sahaja menyediakan spesimen dengan mudah. Selain itu, memandangkan sistem membenarkan penyediaan berbilang spesimen tanpa pengawasan, kecekapan kerja boleh dioptimumkan melalui operasi semalaman untuk mencipta sejumlah besar spesimen.
STEMPLING boleh digunakan dengan Sistem Multi Beam JIB-4700F dan Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000PLUS.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.