Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Sistem CRYO-FIB-SEM ini menggabungkan peringkat penyejukan nitrogen cecair dan mekanisme pemindahan spesimen yang disejukkan untuk spesimen beku, membolehkan untuk menyediakan spesimen TEM seperti biopolimer.
Mekanisme pemindahan spesimen mempunyai fungsi salutan sputter terbina dalam. Oleh itu, sistem CRYO-FIB-SEM ini sahaja boleh melakukan satu siri proses untuk mencipta spesimen TEM daripada spesimen beku termasuk salutan kekonduksian, pembentukan filem pelindung dan pemprosesan FIB.
Selain itu, dengan menggunakan kartrij CRYO ARM™ JEOL, pemindahan spesimen terus ke CRYO ARM™ selepas penyediaan spesimen TEM menjadi lebih mudah.

Ciri-ciri

Pemindahan Spesimen Cryo Menggunakan Katrij CRYO ARM™

Selepas memasang jaringan spesimen pada kartrij, tidak perlu lagi mengendalikan jaringan spesimen menggunakan pinset, jadi pemindahan spesimen berkeupayaan tinggi boleh dilakukan.

Peringkat Penyejukan Sangat Stabil

Peringkat penyejukan kekonduksian terma mengurangkan hanyutan dan getaran peringkat yang disebabkan oleh proses penyejukan dan merealisasikan penyediaan spesimen TEM yang mantap.

Peranti Anti Pencemaran Unik JEOL

Dengan peranti antikontaminasi yang baru dibangunkan ini, pencemaran ais dalam kebuk spesimen dikurangkan. Walaupun semasa penyediaan berpanjangan bagi jumlah spesimen yang besar, peranti ini menghalang pencemaran ais sepenuhnya.

 
Aliran Kerja Cryo CLEM

Aliran kerja cryo-CLEM menggunakan kartrij CRYO ARM™ boleh dibina menggunakan cryostage yang dihasilkan oleh Linkam Scientific Instruments* dan mikroskop pendarfluor yang dihasilkan oleh Nikon Solutions*. Koordinat peringkat setiap instrumen boleh dikaitkan, jadi orientasi dan kedudukan spesimen sentiasa boleh dikenal pasti semasa pemindahan spesimen antara instrumen.

 

spesifikasi

SEM
Voltan pendaratan 0.1 hingga 30.0 kV
Arus rasuk 1 pA hingga 300 nA
Resolusi imej 1.6 nm (15 kV, WD 4 mm)
3.0 nm (2 kV, WD 8.5 mm)
FIB
Mempercepatkan voltan 1.0 hingga 30.0 kV
Arus rasuk 1 pA hingga 90 nA
Resolusi imej 4.0 nm (30 kV)
Peringkat penyejukan
kaedah penyejukan Penyejukan kekonduksian terma
Penyejuk Cecair nitrogen
Suhu penyejukan Peringkat: -160 °C atau lebih rendah
Peranti anti-kontaminasi:
-180 °C atau lebih rendah
Masa pengekalan penyejukan Jam 13 atau lebih
Julat pergerakan X:20 mm
Y:30 mm
Z:4 hingga 40.5 mm
T:-40 hingga 70°
R:360° lebih (-190 hingga 190°)

Konfigurasi Standard

Salutan konduktif Sistem salutan sputter Pt dibina ke dalam ruang pertukaran spesimen
Peranti antikontaminasi Digabungkan dalam lajur SEM dan ruang spesimen

Produk Berkaitan

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.