Pelepasan X-ray lembut
Spektrometer(SXES)

Spektrometer Pancaran X-Ray Lembut (SXES) ialah spektrometer resolusi ultra tinggi yang terdiri daripada kisi pembelauan yang baru dibangunkan dan kamera CCD X-ray dengan kepekaan tinggi.
Dengan cara yang sama seperti EDS, pengesanan selari adalah mungkin, dan analisis resolusi tenaga ultra tinggi 0.3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) boleh dilakukan, mengatasi resolusi tenaga WDS.

Ciri-ciri

Youtube

• Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 4 minit)

Garis besar sistem

Reka bentuk sistem optik spektrometer yang baru dibangunkan membolehkan pengukuran spektrum serentak dengan tenaga berbeza, tanpa menggerakkan grating atau pengesan difraksi (CCD). Dengan resolusi tenaga yang tinggi, pemetaan analisis keadaan kimia boleh dilakukan.

Perbandingan SXES, WDS dan EDS

Spektrum untuk titanium nitrida dengan pelbagai kaedah spektrometri

Untuk titanium nitrida, puncak N-Kα dan Ti-Ll bertindih. Walaupun dengan WDS, dan dekonvolusi bentuk gelombang menggunakan kaedah matematik diperlukan. Seperti yang digambarkan dalam rajah di bawah, terdapat resolusi tenaga tinggi dengan SXES, membolehkan TiLl diperhatikan.

Jadual perbandingan

Contoh Analisis Bateri Li-ion (LIB).

Contoh di bawah menunjukkan peta kawasan besar sampel LIB dengan keadaan caj yang berbeza. SXES boleh memetakan puncak Li-K pada kedua-dua keadaan jalur valens (kiri) dan keadaan tanah (tengah). Peta pengedaran karbon (kanan) juga boleh melihat fungsi pada LIB yang dinyahcas sepenuhnya.

Spesimen spesimen Li-K yang dicas penuh

Nota: Dalam Li-oksida sukar untuk mengesan pelepasan Li-K

Contoh ukuran elemen cahaya

Pengukuran sebatian karbon menggunakan SXES

Adalah mungkin untuk mengukur perbezaan antara berlian, grafit dan polimer. Perbezaan boleh diperhatikan dengan puncak tambahan daripada ikatan π dan σ. Memandangkan pemetaan mengambil spektrum daripada setiap piksel, peta tambahan boleh dijana untuk anjakan puncak 1 eV dan puncak bahu.

Pengukuran pelbagai sebatian nitrogen

Untuk nitrogen juga, keadaan ikatan kimia boleh dianalisis daripada bentuk puncak spektrum. Bentuk puncak untuk nitrat dan nitrida adalah berbeza sama sekali, malah mungkin untuk melihat bentuk puncak unik untuk garam ammonium, yang sangat sensitif terhadap rasuk. 

spesifikasi

Resolusi tenaga 0.3eV（spektrum Al-L diukur ＠73eV）
Julat tenaga pemerolehan: Kisi pembelauan JS50XL rantau tenaga 50-170eV
Julat tenaga pemerolehan: Kisi pembelauan JS200N rantau tenaga 70-210eV
Titik pemasangan ruang spektrometer:
EPMA WDSport: Port No.2 (sebelah kanan dari hadapan)
Port FE-SEM WDS (kiri belakang dari hadapan)
Dimensi spektrometer: W 168mm×D 348mm ×H 683mm

• Jarak termasuk CCD dari antara muka

Jisim spektrometer 25kg

Model yang berkenaan

EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime

Muat turun Katalog

Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)

Kesesuaian

Aplikasi SXES_SA

Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 7.0 (Dis. 2021)

Analisis Keadaan Kimia oleh Spektroskopi Pancaran X-ray Lembut

Buku Panduan SXES

Sila semak di sini untuk butiran.

Produk Berkaitan

Produk Berkaitan

JXA-8530F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan

JEOL merevolusikan analisis permukaan dengan EPMA yang menampilkan senapang elektron pelepasan medan (FE), dan kini berbangga mempersembahkan FE-EPMA baharu yang dinaik taraf. JXA-8530F beroperasi pada PC Windows untuk pemerolehan dan analisis data sambil mengekalkan perkakasan berkuasa JXA-8500F termasuk senapang elektron FE, EOS dan sistem vakum untuk mencapai analisis kawasan ultra mikro. Mesra pengguna, operasi berasaskan PC memudahkan analisis cepat dan mudah pada pembesaran tertinggi.

JXA-iHP200F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan (FE-EPMA)

Electron Probe Microanalyzer (EPMA) telah digunakan sebagai alat untuk pembangunan penyelidikan dan jaminan kualiti dalam pelbagai bidang perindustrian seperti keluli, kereta, komponen elektrik, bahan bateri dan aplikasinya semakin berkembang. Di samping itu, dalam bidang akademik, EMPA telah digunakan secara meluas dalam sains planet bumi dan sains bahan, dan sumbangan masa depan boleh dijangkakan kepada aplikasi termasuk pelbagai penyelidikan lanjutan meliputi penyelidikan tenaga bahan seperti mineral dan pelbagai bahan baharu. Sebagai tindak balas, penggunaan instrumen yang "lebih ringkas" dan "lebih pantas", boleh diakses oleh sesiapa sahaja adalah dalam permintaan sambil mengekalkan prestasi tinggi analisis mikro.
JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 adalah EPMA bersepadu dengan ciri yang dipertingkatkan, memenuhi keperluan ini dan mencapai operasi yang lebih cekap daripada pemerhatian hingga analisis.

• EPMA ialah singkatan untuk Electron Probe Microanalyzer.

JXA-iSP100 Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

JXA-8530FPlus Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan

JEOL mengkomersialkan FE-EPMA pertama di dunia, JXA-8500F pada tahun 2003. FE-EPMA yang dipandang tinggi ini telah lama digunakan dalam pelbagai bidang, seperti: logam, bahan dan geologi dalam kedua-dua industri dan akademik. JXA-8530FPlus ialah FE-EPMA generasi ketiga yang dilengkapi dengan keupayaan analisis dan pengimejan yang dipertingkatkan. Pistol elektron pelepasan medan In-Lens Schottky digabungkan dengan perisian baharu memberikan daya pemprosesan yang lebih tinggi sambil mengekalkan kestabilan yang tinggi, sekali gus membolehkan rangkaian aplikasi EPMA yang lebih luas dicapai dengan resolusi yang lebih tinggi.

MODEL BAHARU JXA-iHP200F

JXA-8230 Electron Probe Microanalyzer

Operasi berasaskan PC mesra pengguna

EDS, yang merupakan pengesan sinar X yang serba boleh dan mudah digunakan, boleh dipasang. Sistem WDS snd EDS gabungan menyediakan persekitaran yang lancar dan mesra pengguna untuk analisis.

MODEL BAHARU JXA-iSP100

Maklumat lanjut