JXA-8230 Electron Probe Microanalyzer
DISCONTINUED
Operasi berasaskan PC mesra pengguna
EDS, yang merupakan pengesan sinar X yang serba boleh dan mudah digunakan, boleh dipasang. Sistem WDS snd EDS gabungan menyediakan persekitaran yang lancar dan mesra pengguna untuk analisis.
Ciri-ciri
JEOL telah membangunkan EPMA baharu (Electron Probe Microanalyzer), yang meneruskan sejarah panjang pembangunan EPMA yang menjangkau hampir setengah abad. JXA-8230, direka untuk operasi mesra pengguna, menyediakan rangkaian lengkap analisis melalui antara muka berasaskan PC baharu yang mudah digunakan. Ketepatan tinggi dan kelajuan pantas yang ditawarkan oleh JXA-8230 adalah hasil daripada hardwre canggihnya yang dibangunkan daripada teknologi EPMA JEOL yang diperhalusi selama hampir 50 tahun. JXA-8230 adalah alat analitik generasi seterusnya yang berkuasa yang memenuhi sepenuhnya semua keperluan EPMA.
Permulaan pantas EPMA
Klik mana-mana titik dan kemudian jenis analisis untuk memulakan analisis ED atau WD kualitatif atau kuantitatif pratetap
Resipi pengguna
Simpan atau ingat semula set keadaan analisis yang kerap digunakan untuk pelbagai jenis sampel yang berbeza. Semua parameter lajur, EDS dan WDS disertakan dalam resipi.
Keupayaan EDS
Pemproses nadi digital
Pemetaan spektrum (WD/ED, pentas dan pengimbasan rasuk)
SDD percuma kipas (pilihan)
spesifikasi
| Julat elemen yang boleh dikesan | WDS： (Jadilah)※ 1) / B～U,EDS: B～U |
|---|---|
| Julat X-ray yang boleh dikesan | Julat panjang gelombang yang boleh dikesan dengan WDS : 0.087 hingga 9.3nm Julat tenaga boleh dikesan dengan EDS : 20keV |
| Bilangan spektrometer | WDS: Sehingga 5 boleh dipilih, EDS: 1 |
| Saiz spesimen maksimum | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| Mempercepatkan voltan | 0.2 hingga 30 kV (0.1 kV langkah) |
| Siasatan julat arus | 10-12 untuk 10-5 A |
| Siasatan kestabilan arus | ±0.05%/j, ±0.3%/12j（W） |
| Resolusi imej elektron sekunder | 6nm（W）, 5nm（LaB6)※ 2 （WD 11mm, 30kV） |
| Pembesaran imbasan | × 40 hingga × 300,000 (WD 11 mm) |
| Mengimbas resolusi imej | Maksimum 5,120 × 3,840 |
| Paparan warna | Untuk analisis EPMA : LCD 1,280×1,024 Untuk operasi SEM dan analisis EDS : LCD 1,280×1,024 |
Dengan kristal analisis pilihan untuk analisis Be
Lab6 pilihan
Muat turun Katalog
JXA-8230 Electron Probe Microanalyzer
Kesesuaian
Permohonan JXA-8230
Analisis Keadaan Kimia oleh Spektroskopi Pancaran X-ray Lembut
Analisis Keretakan pada Bahagian Paip Loyang
Teknik Pemprosesan Imej untuk Pemetaan
Saiz rasuk dan kawasan pemancar sinar-X
Penganalisis Mikro Probe Elektron JXA-8230
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.