JXA-iSP100
Penganalisis Mikro Probe Elektron (EPMA)
Ciri-ciri
Menetapkan
Sisipan pemegang dengan Pemuatan Auto! Cepat cari titik pemerhatian sasaran!
Sisipan spesimen dan pemerolehan imej optik pemegang spesimen (imej Navigasi Peringkat) dilaksanakan dengan satu klik.
Medan untuk analisis boleh dipilih daripada imej Navigasi Peringkat.
Analisis
Fungsi auto membolehkan sesiapa sahaja memperoleh imej SEM berkualiti tinggi EPMA mudah untuk analisis unsur pantas dengan tetapan instrumen yang dipermudahkan
Dalam gabungan fungsi Auto Fokus mikroskop optik dan fungsi Auto SEM yang menggabungkan sistem baharu dengan ketepatan yang lebih tinggi dan tahap keupayaan yang lebih pantas, mana-mana pengguna boleh memperoleh imej SEM berkualiti tinggi. "Analisis Langsung" membolehkan pemeriksaan unsur semasa pemerhatian. "EPMA Mudah" tersedia, jadi pengguna baru boleh mengendalikan EPMA dengan lancar. “Penyepaduan EPMA-XRF” membenarkan penetapan keadaan EPMA berdasarkan data XRF. Penyepaduan WD/ED menyediakan masa analisis yang cekap. Kebolehoperasian dipertingkatkan lagi dengan penyepaduan SEM, EDS, WDS dan imej optik.
Menetapkan skrin dan memaparkan data Easy EPMA
Analisis Langsung EDS
Contoh pengurangan masa analisis kerana penyepaduan WD/ED
Penyepaduan: Satu klik membolehkan penetapan gabungan kristal menganalisis berdasarkan elemen yang disyorkan melalui data daripada teknik seperti di atas.
Penyelenggaraan Diri
Penentukuran Cekap dengan 18 spesimen standard terbina dalam
Fungsi penentukuran spektrometer baharu mengurangkan langkah penentukuran berkala dan menghapuskan salah operasi dengan menggunakan spesimen standard terbina dalam.
Kecekapan yang lebih tinggi dengan menjalankan penentukuran instrumen automatik pada waktu malam.
Fungsi pemberitahuan penyelenggaraan memastikan penyelenggaraan yang betul pada masa yang diperlukan.
18 spesimen standard terbina dalam untuk penentukuran
Fungsi pemberitahuan penyelenggaraan "Alat Sokongan Pelanggan"
pautan
Siaran Berita(2019/11/13)
Kandungan Khas JXA-iHP200F/JXA-iSP100
Muat turun Katalog
JXA-iSP100 Electron Probe Microanalyzer (EPMA)
Kesesuaian
Aplikasi JXA-iSP100
Galeri
Produk Berkaitan
Produk Berkaitan
JXA-iHP200F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan (FE-EPMA)
Electron Probe Microanalyzer (EPMA) telah digunakan sebagai alat untuk pembangunan penyelidikan dan jaminan kualiti dalam pelbagai bidang perindustrian seperti keluli, kereta, komponen elektrik, bahan bateri dan aplikasinya semakin berkembang. Di samping itu, dalam bidang akademik, EMPA telah digunakan secara meluas dalam sains planet bumi dan sains bahan, dan sumbangan masa depan boleh dijangkakan kepada aplikasi termasuk pelbagai penyelidikan lanjutan meliputi penyelidikan tenaga bahan seperti mineral dan pelbagai bahan baharu. Sebagai tindak balas, penggunaan instrumen yang "lebih ringkas" dan "lebih pantas", boleh diakses oleh sesiapa sahaja adalah dalam permintaan sambil mengekalkan prestasi tinggi analisis mikro.JXA-iHP200F dan JXA-iSP100 adalah EPMA bersepadu dengan ciri yang dipertingkatkan, memenuhi keperluan ini dan mencapai operasi yang lebih cekap daripada pemerhatian kepada analisis.
EPMA ialah singkatan untuk Electron Probe Microanalyzer.
Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)
Spektrometer Pancaran X-Ray Lembut (SXES) ialah spektrometer resolusi ultra tinggi yang terdiri daripada kisi pembelauan yang baru dibangunkan dan kamera CCD sinar-X sensitiviti tinggi. Dengan cara yang sama seperti EDS, pengesanan selari adalah mungkin dan 0.3 Analisis resolusi tenaga ultra tinggi eV (Fermi-edge, Al-L standard) boleh dilakukan, mengatasi resolusi tenaga WDS.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.