JXA-8530FPlus Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan
DISCONTINUED
JEOL mengkomersialkan FE-EPMA pertama di dunia, JXA-8500F pada tahun 2003. FE-EPMA yang dipandang tinggi ini telah lama digunakan dalam pelbagai bidang, seperti: logam, bahan dan geologi dalam kedua-dua industri dan akademik. JXA-8530FPlus ialah FE-EPMA generasi ketiga yang dilengkapi dengan keupayaan analisis dan pengimejan yang dipertingkatkan. Pistol elektron pelepasan medan In-Lens Schottky digabungkan dengan perisian baharu memberikan daya pemprosesan yang lebih tinggi sambil mengekalkan kestabilan yang tinggi, sekali gus membolehkan rangkaian aplikasi EPMA yang lebih luas dicapai dengan resolusi yang lebih tinggi.
Ciri-ciri
Dalam-Lens Schottky Plus versi FEG EPMA
Versi In-Lens Schottky Plus FEG EPMA, dengan ketumpatan arus sudut yang dioptimumkan, membolehkan analisis dengan arus probe besar 2μA atau lebih. Resolusi imej elektron sekunder telah dipertingkatkan walaupun dalam keadaan analitikal dengan melaraskan secara automatik untuk sudut penumpuan yang betul.
Perisian lanjutan
Banyak sistem aplikasi maju berasaskan Microsoft Windows® tersedia, termasuk:
Program Analisis Unsur Surih untuk analisis unsur surih yang lebih ringkas dan dioptimumkan termasuk menambah data yang dikumpul daripada sehingga 5 spektrometer,
Pembuat Peta Fasa untuk penciptaan automatik peta fasa berdasarkan komponen utama,
Program Analisis Permukaan Bukan Rata untuk analisis WDS automatik bagi spesimen dengan ketidakteraturan permukaan. Ini mungkin disebabkan oleh perjalanan Z besar pentas (7.5 mm).
Notis:Windows ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.
Konfigurasi WDS yang fleksibel
Pelbagai spektrometer sinar-X (WDS) boleh dipilih: jejari bulatan Rowland 140 mm (140R) atau 100 mm (100R), 2 konfigurasi kristal atau 4 kristal dan campuran kristal saiz standard atau besar.
Spektrometer X-ray XCE (2 xtl), spektrometer X-ray FCS (4 xtl) dan Spektrometer X-ray L (2 xtl) untuk 140R mempunyai julat spektrometri yang luas dan memberikan resolusi panjang gelombang yang unggul dan puncak ke latar belakang nisbah. Spektrometer X-ray Jenis H 100R memberikan keamatan sinar-X yang tinggi. Pengguna boleh memilih daripada spektrometer ini bergantung pada keperluan.
Sistem gabungan WDS/EDS
JXA-8530FPlus dilengkapi dengan 30mm JEOL2 pengesan hanyut silikon (SDD).
SDD kadar kiraan yang tinggi bersama apertur pembolehubah in-situ membolehkan analisis EDS pada keadaan WDS. Spektrum EDS, peta dan imbasan garis boleh diperoleh serentak dengan data WDS.
Ruang serbaguna
JXA-8530FPlus dilengkapi dengan ruang spesimen yang boleh dikembangkan dan ruang pertukaran spesimen, membolehkan anda menyepadukan pelbagai lampiran pilihan pada ruang.
Ini termasuk:
Sistem Difraksi Hamparan Belakang Elektron (EBSD)
Sendeng berputar sub-peringkat
Pengesan Cathodoluminescence (pankromatik, monokromatik, hiperspektral warna penuh)
Spektrometer Pancaran X-ray lembut
Kapal Pemindahan Terpencil Udara
Sumber Ion Kadar Goresan Tinggi, pembersih in-situ, dsb.
Sistem vakum bersih yang berkuasa
Sistem vakum yang berkuasa dan bersih digunakan pada JXA-8530FPlus, termasuk dua pam molekul turbo pengangkatan magnetik. Di samping itu, ruang perantaraan dua peringkat disediakan untuk lajur optik elektron, dengan itu mengekalkan vakum yang tinggi dalam ruang elektron-gun dengan mengepam pembezaan.
Penambahan pam Tatal pilihan dan jari sejuk nitrogen cecair mencipta sistem vakum bebas minyak yang muktamad.
Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)
Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)
Spektrometer Pancaran X-ray Lembut resolusi tenaga ultra tinggi telah dibangunkan bersama oleh Institut Penyelidikan Pelbagai Bidang untuk Bahan Lanjutan, Universiti Tohoku (Prof. M. Terauchi) dan JEOL Ltd., dsb.
Kisi-kisi jarak-garisan berubah (VLS) membolehkan pengesanan serentak (sama seperti EDS) dan membenarkan pengesanan spektrum Li-K dan BK dengan CCD kepekaan tinggi. Spektrometer ini mencapai resolusi tenaga yang sangat tinggi, membolehkan analisis keadaan ikatan kimia terperinci.
miXcroscopy (mikroskop korelatif)
Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy
Kawasan yang menarik, bersama-sama dengan koordinat peringkat XY, yang terletak dalam mikroskop optik boleh dirakam dan dipindahkan ke EPMA untuk navigasi ke lokasi yang dikehendaki untuk pengimejan dan analisis.
spesifikasi
| Julat analisis unsur | WDS: (Be) B kepada U, EDS: B kepada U |
|---|---|
| Julat spektrometri sinar-X | Julat spektrometri WDS: 0.087 hingga 9.3 nm
Julat tenaga EDS: 20 keV |
| Bilangan spektrometer sinar-X | WDS: 1 hingga 5 boleh dipilih, EDS: 1 |
| Saiz spesimen maksimum | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30 kV (0.1 kV langkah) |
| Siasatan kestabilan arus | ± 0.3%/j |
| Resolusi imej elektron sekunder | 3 nm pada WD 11 mm, 30 kV |
| 20 nm pada 10 kV, 10 nA, WD 11 mm
50 nm pada 10 kV, 100 nA, WD 11 mm |
|
| Pembesaran | ｘ40 hingga ｘ300,000 (WD 11mm) |
| Mengimbas resolusi piksel imej | Sehingga 5,120 ｘ 3,840 |
Muat turun Katalog
JXA-8530FPlus Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan
Kesesuaian
Aplikasi JXA-8530FPlus
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.