JXA-8530F Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan
DISCONTINUED
JEOL merevolusikan analisis permukaan dengan EPMA yang menampilkan senapang elektron pelepasan medan (FE), dan kini berbangga mempersembahkan FE-EPMA baharu yang dinaik taraf. JXA-8530F beroperasi pada PC Windows untuk pemerolehan dan analisis data sambil mengekalkan perkakasan berkuasa JXA-8500F termasuk senapang elektron FE, EOS dan sistem vakum untuk mencapai analisis kawasan ultra mikro. Mesra pengguna, operasi berasaskan PC memudahkan analisis cepat dan mudah pada pembesaran tertinggi.
Ciri-ciri
Sistem Gabungan WD/ED Dikawal PC Membuka Pintu kepada Analisis Mikro Ultra Baharu
Kawalan PC
Permulaan Pantas EPMA
Resipi Pengguna
'Analisis Titik Klik'
Paparan masa nyata imej X-ray bercampur (WDS)
Pengimejan spektrum EDS
Kristal analisis baharu untuk unsur ultra cahaya
Notis:Windows ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.
Resolusi spatial tinggi dalam pemetaan sinar-X dengan senapang elektron FE
Pistol elektron FE menghasilkan kuar yang hanya 1/2 hingga 1/10 saiz yang dihasilkan dalam senapang elektron pelepasan termionik dalam EPMA konvensional, menggunakan filamen W atau petua LaB6.
Pistol elektron FE mampu menghasilkan probe mikro pada voltan pecutan rendah walaupun dengan arus-ts probe tinggi (10 hingga 100 nA), membolehkan analisis WDS dengan resolusi spatial sinar-X yang tinggi.
"Analisis Titik Klik", Resipi Pengguna
"Analisis Titik Klik" membolehkan pengguna memperoleh spektrum WDS kualitatif dan analisis separa kuantitatif hanya dengan mengklik titik pada elektron sekunder atau imej elektron berselerak belakang. Resipi Pengguna menyediakan akses mudah kepada keadaan analitik yang telah ditetapkan. Ciri-ciri ini direka bentuk untuk memaksimumkan kecekapan FE-EPMA dengan operasi yang paling mudah.
Operasi Lanjutan
Pengguna boleh mereka bentuk prosedur analisis terperinci yang disesuaikan dengan objektif penyelidikan mereka, seperti analisis unsur kuantitatif kompleks bagi kawasan bersaiz nano. Turut disepadukan ke dalam sistem adalah barisan aplikasi lengkap dan pakej perisian yang mudah digunakan yang menyediakan kaedah dan alatan analisis data yang meluas. Sebagai contoh, Penjejakan Siasatan disediakan menjadikannya lebih mudah untuk melakukan analisis kawasan jangka panjang dan lokasi pada ciri yang sangat kecil tanpa mempedulikan hanyutan rasuk.
Sistem WD/ED gabungan
JXA-8530F mempunyai sistem gabungan WD/ED mesra pengguna yang menggabungkan WDS dan EDSdetector termaju JEOL. Menggabungkan WDS untuk analisis unsur surih dan EDS terbukti JEOL, JXA-8530F ialah alat yang berkesan untuk pemerolehan data yang cekap bagi analisis kuantitatif, pemetaan imbasan pancaran pembesaran tinggi dan pemetaan imbasan peringkat kawasan besar.
spesifikasi
| Julat elemen yang boleh dikesan | WDS： (Jadilah※) / B～U,EDS: B～U |
|---|---|
| Julat X-ray yang boleh dikesan | Julat panjang gelombang yang boleh dikesan dengan WDS : 0.087 hingga 9.3nm Julat tenaga boleh dikesan dengan EDS : 20keV |
| Bilangan spektrometer | WDS: Sehingga 5 boleh dipilih, EDS: 1 |
| Saiz spesimen maksimum | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30 kV (0.1 kV langkah) |
| Siasatan julat arus | 10-12 kepada 5×10-7 A |
| Siasatan kestabilan arus | ± 0.3 % /j |
| Resolusi imej elektron sekunder | 3 nm (WD 11 mm, 30 kV) |
| Saiz kuar minimum | 40 nm (10 kV, 1×10-8 A) 100 nm (10 kV, 1×10-7 A) |
| Pembesaran imbasan | × 40 hingga × 300,000 (WD 11 mm) |
| Mengimbas resolusi imej | Maksimum 5,120 × 3,840 |
| Paparan warna | Untuk analisis EPMA : LCD 1,280×1,024 Untuk operasi SEM dan analisis EDS : LCD 1,280×1,024 |
Dengan kristal analisis pilihan untuk analisis Be
Kesesuaian
Permohonan JXA-8530F
Analisis Keretakan pada Bahagian Paip Loyang
Analisis Kawasan Mikro dengan JXA-8530F (FE-EPMA)
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.