miXcroscopy™
Optik & Pengimbasan Terpaut
Sistem Mikroskopi Elektron
Pemegang spesimen yang sama kini boleh digunakan untuk kedua-dua mikroskop optik dan mikroskop elektron pengimbasan. Akibatnya, dengan menguruskan maklumat peringkat dengan perisian khusus, sistem boleh merakam lokasi yang diperhatikan dengan mikroskop optik, dan kemudian membesarkan lagi kawasan yang sama dengan mikroskop elektron pengimbasan untuk memerhati struktur halus pada pembesaran yang lebih tinggi & resolusi yang lebih tinggi.Sasaran cerapan yang ditemui dengan mikroskop optik boleh diperhatikan dengan lancar dengan mikroskop elektron pengimbasan tanpa perlu mencari sasaran semula. Kini anda boleh membandingkan dan mengesahkan imej mikroskop optik dan imej mikroskop elektron dengan lancar dan mudah.
Ciri-ciri
Rangka Sistem
Model yang berkenaan:
Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan
Penganalisis Mikro Probe Elektron (EPMA)
Pemerolehan data dan pemerhatian intuitif dengan penggunaan warna
Dengan menambahkan maklumat warna cahaya yang boleh dilihat daripada imej mikroskop optik (yang tidak boleh diperolehi dengan imej SEM) ia menyediakan imej SEM dengan kesan visual yang lebih intuitif.
Carian sasaran yang lancar mengambil kesempatan daripada ciri-ciri mikroskop optik
Melakukan pemerhatian dengan mikroskop optik membolehkan anda mencari struktur sasaran dengan mudah, yang sukar untuk dibezakan menggunakan imej SEM.
Menghalang kerosakan pada spesimen daripada pancaran elektron
Untuk mengelakkan kerosakan atau pencemaran daripada pancaran elektron, mencari kawasan yang menarik dilakukan terlebih dahulu menggunakan mikroskop optik. Ini membolehkan pemerhatian SEM dengan dos sinaran minimum ke tapak cerapan.
Model yang berkenaan: JXA-8230, JXA-8530F, JXA-8530FPlus
"miXcroscopy™ for EPMA" -Pendaftaran pantas jawatan analisis -
miXcroscopy™ untuk EPMA dengan pantas menentukan kedudukan analisis untuk spesimen yang sukar dibezakan unsur daripada imej elektron berselerak belakang, dengan pemasangan mikroskop cahaya terkutub.
Spesimen: Bahagian nipis mineral
Imej OM cahaya terpolarisasi: Mag. x50
Imej elektron berselerak belakang: Mag. x50
"miXcroscopy™ for EPMA" -Analisis tepat dan pantas bagi jawatan berdaftar OM-
Aliran konvensional
Spesimen: Bahagian nipis mineral
Aliran baharu menggunakan miXcroscopy™ untuk EPMA
miXcroscopy™ untuk EPMA membolehkan pemisahan tugas yang cekap bagi OM dan EPMA. OM mencari kawasan analisis dan mendaftarkan titik analisis. EPMA menjalankan analisis unsur. Peningkatan drastik ini sangat meningkatkan masa analisis EPMA.
Kesesuaian
Aplikasi miXcroscopy_EPMA
Produk Berkaitan
JXA-8530FPlus Penganalisis Mikro Probe Elektron Pelepasan Medan
JEOL mengkomersialkan FE-EPMA pertama di dunia, JXA-8500F pada tahun 2003. FE-EPMA yang dipandang tinggi ini telah lama digunakan dalam pelbagai bidang, seperti: logam, bahan dan geologi dalam kedua-dua industri dan akademik. JXA-8530FPlus ialah FE-EPMA generasi ketiga yang dilengkapi dengan keupayaan analisis dan pengimejan yang dipertingkatkan. Pistol elektron pelepasan medan In-Lens Schottky digabungkan dengan perisian baharu memberikan daya pemprosesan yang lebih tinggi sambil mengekalkan kestabilan yang tinggi, sekali gus membolehkan rangkaian aplikasi EPMA yang lebih luas dicapai dengan resolusi yang lebih tinggi.
JXA-8230 Electron Probe Microanalyzer
Operasi berasaskan PC mesra pengguna
EDS, yang merupakan pengesan sinar X yang serba boleh dan mudah digunakan, boleh dipasang. Sistem WDS dan EDS gabungan menyediakan persekitaran yang lancar dan mesra pengguna untuk analisis.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.