Ujian / Analisis Bahan Asing pada permukaan Resin dengan analisis sinar-X
Analisis Bahan Asing oleh XRF dan SEM-EDS
Analisis bahan cemar yang terkandung dalam atau dipatuhi produk boleh memberikan maklumat penting tentang laluan bahan asing itu diperkenalkan atau punca kegagalan.
Oleh kerana spektrometer pendarfluor sinar-X (ED-XRF) boleh memberikan analisis unsur yang cepat dan tidak merosakkan pada sebarang jenis sampel, seperti pepejal, cecair dan serbuk, ia boleh digunakan sebagai instrumen untuk pemeriksaan.
Oleh kerana spektrometer pendarfluor sinar-X (ED-XRF) boleh memberikan analisis unsur yang cepat dan tidak merosakkan pada sebarang jenis sampel, seperti pepejal, cecair dan serbuk, ia boleh digunakan sebagai instrumen untuk pemeriksaan.
- Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik. 
PDF 350KB
Produk Berkaitan
Rumusan berdasarkan bidang
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.