JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha
Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi
- Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

Alpha – Permulaan Baru

Alpha membawa anda ke dunia baharu spektrometri jisim.
Memperkenalkan JMS-T2000GC "AccuTOF™ GC-Alpha", GC-MS muktamad dengan prestasi unggul dan kemudahan operasi.

Ciri-ciri

• Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 4 minit).

Mensasarkan prestasi tinggi sambil mengekalkannya dengan mudah, AccuTOF™ GC-Alpha menggunakan tiga Teknologi Utama baharu.

Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan berprestasi tinggi baharu

Teknologi Utama 1

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha ialah JEOL GC-TOFMS generasi ke-6 dan mempunyai sistem optik ion yang dipertingkatkan untuk mencapai resolusi ultra tinggi.
AccuTOF™ GC-Alpha ialah spektrometer jisim masa penerbangan pecutan ortogon (oaTOFMS) dengan pemantul dua peringkat. Ia menggunakan sistem optik ion ideal yang merealisasikan penghantaran ion tinggi(=sensitiviti) dan resolusi ultra tinggi.

Resolusi jisim dan ketepatan jisim – Penting untuk analisis kualitatif

Kuasa Menyelesaikan spektrometer jisim masa penerbangan dikira mengikut formula di atas. Dengan mengambil kira persamaan ini, perkakasan JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha baharu telah direka untuk mencapai resolusi ultra tinggi menggunakan prinsip berikut:

• Jadikan t lebih panjang: tambah jarak penerbangan 4 m

• Jadikan Δ t lebih kecil: sistem optik ion baharu menggunakan pemantul dua peringkat

• Jadikan Δ t lebih kecil: sistem pemindahan ion yang boleh menampung ion dengan pelbagai tenaga kinetik

Dengan perkakasan yang baru dibangunkan, AccuTOF™ GC-Alpha menampilkan resolusi 6 kali lebih tinggi daripada AccuTOF™ GC generasi pertama dan mempunyai ketepatan jisim ≤ 1 ppm.

Memperoleh data berkualiti tinggi yang tiada tandingan, AccuTOF™ GC-Alpha ialah penyelesaian muktamad untuk analisis kualitatif GC-MS.

Prestasi Asas AccuTOF™ GC-Alpha

Prestasi tinggi untuk kedua-dua analisis kualitatif dan kuantitatif

Empat "Tinggi" spesifikasi dan dua spesifikasi "Lebar" dicapai serentak
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha ialah sistem GC-MS berprestasi tinggi yang pada masa yang sama merealisasikan resolusi jisim tinggi, ketepatan jisim tinggi, kepekaan tinggi, pemerolehan data berkelajuan tinggi, julat dinamik yang luas dan julat jisim yang luas.

Resolusi jisim yang tinggi dan ketepatan jisim yang tinggi menawarkan keputusan analisis kualitatif yang belum pernah berlaku sebelum ini. Pemerolehan data berkelajuan tinggi boleh digunakan untuk pengukuran GC-MS lanjutan seperti GC dua dimensi komprehensif (GCxGC), manakala julat dinamik yang luas berguna untuk bukan sahaja analisis kuantitatif tetapi juga untuk analisis kualitatif bagi campuran kompleks. Julat jisim yang luas amat berguna untuk pengukuran MS langsung, dan kepekaan yang tinggi membolehkan maklumat yang belum pernah berlaku sebelum ini tentang komponen surih.

AccuTOF™ GC-Alpha benar-benar sistem GC-MS berprestasi tinggi yang menghilangkan had untuk analisis kimia.

Kepekaan Tinggi

Sumber ion EI standard dengan kepekaan ultra tinggi mampu mengesan analisis kuantitatif.

Had Pengesanan Instrumen: IDL=18.7 fg

Lapan ukuran berurutan 100 fg octafluoronaphthalene (OFN) diperoleh dengan menggunakan sumber ion EI standard.
Had pengesanan instrumen (IDL) dikira berdasarkan kawasan puncak dan kebolehulangan kromatogram ion yang diekstrak untuk ion molekul. IDL sebanyak 18.7 fg telah dicapai untuk sistem.

Julat Dinamik Luas: 4 pesanan atau lebih

OFN pada kepekatan antara 0.1 hingga 1,000 pg/uL (4 pesanan) diukur menggunakan sumber ion EI standard dan tahap kelinearan yang tinggi telah disahkan. Julat dinamik yang luas berguna bukan sahaja untuk analisis kuantitatif tetapi juga untuk analisis kualitatif bagi campuran kompleks dengan kepekatan yang berbeza.

Pemerolehan Data Berkelajuan Tinggi: 50 Hz

Untuk analisis GCxGC dan Fast GC, puncak kromatografi adalah sangat sempit, oleh itu memerlukan spektrometer jisim yang menyokong pemerolehan data berkelajuan tinggi. AccuTOF™ GC-Alpha adalah padanan yang baik untuk teknik kromatografi lanjutan ini kerana ia boleh memperoleh data sehingga 50 spektrum sesaat.

GCxGC/EI TICC bahan api diesel

Julat Jisim Luas: ~m/z 6,000

Salah satu ciri spektrometer jisim masa penerbangan ialah keupayaannya untuk mengukur julat jisim yang luas. Had atas instrumen GC-MS biasa biasanya sekitar m/z 1000, manakala AccuTOF™ GC-Alpha boleh mengesan m/z 6000 dan lebih tinggi. Ini memungkinkan untuk menggunakan kaedah MS probe langsung seperti desorpsi medan (FD) untuk mengukur sampel seperti oligomer.

Spektrum jisim FD polistirena 5200

Kuasa Penyelesaian Jisim Tinggi: 30,000

Kuasa penyelesaian jisim yang tinggi tidak ternilai untuk analisis kualitatif. Meningkatkan kuasa penyelesaian jisim menghasilkan puncak spektrum jisim yang lebih sempit, dengan itu membawa kepada ciri di bawah.

• Peningkatan kestabilan centroid puncak = ketepatan jisim yang lebih baik

Pemisahan jisim m/z 28

Ketepatan Jisim Tinggi: 1 ppm^*1

Ketepatan jisim yang tinggi membolehkan untuk menentukan komposisi unsur untuk ion yang diperhatikan. Menggunakan fungsi penentukuran jisim "pampasan hanyut - berbilang", purata ketepatan jisim (nilai mutlak) untuk 10 ion yang diperhatikan daripada metil stearat ialah 0.05 mDa atau 0.45 ppm.

Keupayaan Analisis Kualitatif Baharu yang ditawarkan oleh Pelbagai Pengionan Lembut

Teknologi Utama 2

AccuTOF™ GC-Alpha menyediakan pelbagai kaedah pengionan
Pengionan lembut - alat yang berkuasa untuk analisis kualitatif
EI, teknik pengionan yang paling banyak digunakan dalam GC-MS, adalah unggul dalam kepekaan dan kebolehulangan dan disokong oleh pelbagai pangkalan data yang boleh dicari perpustakaan.

Bagi mana-mana saintis yang menggunakan GC-MS untuk mencari maklumat lanjut, perkara yang paling penting ialah pengesanan ion molekul. EI, yang menggunakan tenaga pengionan tinggi sebanyak 70 eV, menghasilkan banyak ion serpihan, dari mana maklumat struktur diperoleh. Walau bagaimanapun, EI sering gagal menunjukkan isyarat ion molekul yang kuat. Akibatnya, keputusan analisis kualitatif mungkin tidak betul jika ia hanya bergantung pada carian pangkalan data.

Oleh itu, adalah penting dalam analisis GC-MS untuk meningkatkan ketepatan analisis kualitatif dengan menggunakan pelbagai teknik pengionan lembut sebagai tambahan kepada EI. Pengionan kimia (CI), pengionan foto (PI) dan pengionan medan (FI) semuanya tersedia secara pilihan pada AccuTOF™ GC-Alpha. Dengan keupayaan pengukuran jisim yang tepat untuk semua teknik pengionan, komposisi unsur analit boleh ditentukan dengan pasti.

FI dan FD ~ Teknik Pengionan Lembut Ideal untuk Penentuan Berat Molekul

FI dan FD adalah teknik pengionan yang sangat lembut yang memberikan tenaga dalaman yang lebih rendah kepada analit berbanding EI dan juga CI, dengan itu menghasilkan ion molekul yang jelas.

Akibatnya, FI dan FD sesuai untuk penentuan berat molekul.

Dalam FI dan FD, pengionan berlaku dengan penyingkiran elektron daripada neutral melalui tindakan medan elektrik yang tinggi.

FI dan FD ~ Sumber Ion Gabungan EI/FI/FD (pilihan)

Sumber ion tunggal yang menyokong teknik EI (pengionan keras) dan FI/FD (pengionan lembut).
Bertukar antara EI dan FI/FD adalah mudah dan pantas.

Ciri-ciri
• Tidak perlu menggantikan sumber ion
• Tidak perlu memecahkan vakum
• Tidak memerlukan gas reagen

Analisis berikut boleh dilakukan dengan menggunakan sumber ion gabungan ini dengan GC:
• GC/EI untuk analisis kualitatif melalui carian perpustakaan
• GC/FI untuk penentuan berat molekul
• Pengukuran jisim yang tepat

PI (Photoionization) ~ Sumber Ion Gabungan EI/PI (pilihan)

PI ialah kaedah pengionan yang menggunakan foton daripada lampu vakum ultraviolet (VUV) untuk pengionan. AccuTOF™ GC-Alpha mempunyai sumber ion gabungan yang tersedia secara pilihan yang menawarkan kedua-dua EI (pengionan keras) dan PI (pengionan lembut). Sumber ini memungkinkan untuk bertukar antara EI dan PI dengan hanya menghidupkan/mematikan filamen EI serta lampu PI.

Ciri-ciri

• Tidak perlu menggantikan sumber ion

• Tidak perlu memecahkan vakum

• Tidak memerlukan gas reagen

Skema Sumber Ion Gabungan EI/PI

PI amat berguna untuk analisis sebatian aromatik dalam campuran kompleks. Sebatian ini menghasilkan puncak keamatan tinggi dengan PI kerana ia menyerap cahaya UV dengan kuat.

Generasi baharu perisian analisis untuk operasi yang mudah dan pantas

Teknologi Utama 3

msFineAnalysis AI menawarkan alat analisis struktur baharu untuk yang tidak diketahui yang direka khusus untuk JEOL JMS-T2000GC “AccuTOF^TM GC-Alpha.” Perisian generasi seterusnya ini menambah keupayaan analisis struktur ini untuk menambah baik keseluruhan fungsi analisis kualitatif automatik yang telah tersedia dengan msFineAnalysis generasi terdahulu kami. "Analisis bersepadu" baharu menggabungkan data resolusi tinggi GC/EI, data resolusi tinggi GC/pengionan lembut dan "analisis struktur" menggunakan tiga AI (AI Utama, AI Sokongan, Ramalan RI).
Teknologi AI termaju ini membolehkan msFineAnalysis AI menyediakan keupayaan analisis struktur automatik unik yang sebelum ini tidak tersedia untuk analisis kualitatif GC-MS.

Perisian ini menggunakan sepenuhnya data berkualiti tinggi yang diperolehi oleh AccuTOF™ GC-Alpha, sekali gus menyediakan pendekatan baharu kepada analisis kualitatif untuk mengenal pasti sebatian yang tidak diketahui.

Evolusi menjadi msFineAnalysis AI

msFineAnalysis AI menawarkan alat analisis struktur baharu untuk yang tidak diketahui. "Analisis bersepadu" baharu menggabungkan data resolusi tinggi GC/EI, data resolusi tinggi GC/pengionan lembut dan "analisis struktur" menggunakan dua AI (AI Utama, AI Sokongan). Teknologi AI termaju ini membolehkan msFineAnalysis AI menyediakan keupayaan analisis struktur automatik unik yang sebelum ini tidak tersedia untuk analisis kualitatif GC-MS.

Ciri msFineAnalysis AI

msFineAnalysis menyediakan analisis data yang cepat dan cekap supaya pengguna boleh menghabiskan lebih sedikit masa menganalisis data dan lebih banyak masa untuk penyelidikan dan kreativiti!

AccuTOF™ GC-Alpha dengan Direct MS

Mod MS langsung berguna untuk analisis takat didih tinggi dan sebatian jisim tinggi yang tidak sesuai untuk GC.

TOFMS dengan julat jisim luas yang wujud dipadankan dengan baik dengan mod MS langsung.

Sebatian yang diukur oleh GC biasanya mempunyai berat molekul di bawah 500 Da jadi tidak lazim untuk menyasarkan sebatian dengan berat molekul melebihi 1000 Da dengan menggunakan GC-MS. Walau bagaimanapun, dalam mod MS langsung (tiada GC digunakan), sebatian takat didih tinggi, berat molekul tinggi, dan tidak meruap boleh disasarkan untuk pengukuran, kerana sampel dimasukkan terus ke dalam sumber ion. Julat jisim AccuTOF™ GC-Alpha ialah m/z 6,000 atau lebih tinggi. Memandangkan sebatian boleh dikesan dalam julat jisim yang lebih luas daripada GC-MS konvensional, sistem ini sangat sesuai untuk pengukuran dalam mod MS langsung.

Tiga Siasatan MS Langsung Untuk Dipilih

DEP (Siasatan Pendedahan Langsung)

• Sampel terlarut atau tersebar dalam pelarut digunakan pada filamen di hujungnya.

• Sesuai untuk takat didih tinggi dan/atau sebatian labil terma

• Serasi dengan EI dan CI

DIP (Siasatan Kemasukan Terus)

• Sampel pepejal boleh dimasukkan ke dalam tiub sampel kaca.

• Sesuai untuk takat didih tinggi dan/atau sebatian tidak larut

• Serasi dengan EI dan CI

FDP (Siasatan Desorpsi Medan)

• Sampel terlarut atau tersebar dalam pelarut digunakan pada pemancar karbon di hujungnya.

• Sesuai untuk takat didih tinggi, berat molekul tinggi, dan/atau sebatian labil terma

• Sesuai untuk kompleks logam kutub rendah hingga pertengahan

• Digunakan untuk pengionan lembut FD

Bebibir kunci muat untuk DIP/DEP/FDP

Analisis polimer oleh Analisis FD dan Kendrick Mass Defect (KMD).

FD ialah kaedah pengionan di mana molekul analit yang digunakan pada pemancar dinyahserap dan diionkan oleh medan elektrik yang tinggi. Arus elektrik yang mengalir melalui pemancar meningkat secara beransur-ansur semasa pengukuran untuk memanaskan analit untuk membantu penyahsorpsian/pengionan. Oleh kerana arus pemancar optimum untuk pengionan bergantung kepada analit, komponen boleh menyahserap pada masa yang berbeza. Pengasingan komponen dalam campuran adalah mungkin, dan spektrum jisim untuk kelas sebatian tertentu boleh diekstrak. Tambahan pula, walaupun sebatian tidak dipisahkan dalam masa semasa penyahsorpsian/pengionan, satu sama lain, komponen sasaran masih boleh dipisahkan dengan jelas dengan mencipta plot KMD.

pautan

• Baru dilancarkan:

Keluaran kromatografi gas baharu – spektrometer jisim masa penerbangan JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha – GC-MS muktamad dengan prestasi unggul dan kemudahan operasi

Muat turun Katalog

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Kromatografi Gas Berprestasi Tinggi - Spektrometer Jisim Masa-Penerbangan

Produk Berkaitan

Produk Berkaitan

MALDI: JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometer

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 ialah MALDI-TOFMS* yang menggunakan optik ion SpiralTOF inovatif yang telah dikemas kini untuk memanjangkan julat jisim sistem resolusi tinggi ini. JMS-S3000 mentakrifkan standard baharu dalam prestasi MALDI-TOFMS dan menyediakan penyelesaian analitikal terkini untuk pelbagai bidang penyelidikan seperti polimer sintetik berfungsi, sains bahan dan biomolekul.

※ Mengklik butang Main memulakan video (lebih kurang 4 minit).

Perisian Analisis Polimer msRepeatFinder

Perisian Analisis Polimer Definitif !!

Memvisualisasikan data spektrum jisim yang rumit dan mempercepatkan perkongsian maklumat!

Maklumat lanjut