IB-19530CP
PENGHILANG BAHAGIAN RENTAS™
IB-19530CP menampilkan peringkat pelbagai guna yang direka secara inovatif untuk memenuhi keperluan pasaran yang semakin pelbagai dan merealisasikan pelbagai fungsi oleh pelbagai jenis pemegang fungsi. Peringkat pelbagai guna digabungkan dengan pemegang fungsi khusus membolehkan pengguna melaksanakan pelbagai fungsi seperti pengilangan dan penggilap permukaan planar, salutan sputter serta pengilangan ion keratan rentas yang lebih tradisional.
Ciri-ciri
Daya pengeluaran tinggi
Sumber ion berkelajuan tinggi dan fungsi auto mula memberikan hasil pengilangan dengan cepat.
Program pemprosesan automatik
Pemprosesan dan kemasan berkelajuan tinggi boleh diprogramkan untuk menyediakan keratan rentas berkualiti tinggi dalam tempoh yang singkat. Pemprosesan terputus-putus juga boleh diprogramkan untuk meningkatkan penyediaan bahan suhu lebur rendah dan terdedah kepada penyinaran pancaran ion.
Kemudahan penyediaan
Pemegang modular membenarkan pelarasan kawasan pengilangan dengan tepat sama ada di dalam IB-19530CP atau dengan menggunakan mikroskop optik luaran.
Peringkat pelbagai guna
Fungsi tambahan termasuk pengilangan permukaan planar dan salutan sputter rasuk ion boleh digunakan melalui pelbagai pemegang.
Plat pelindung umur panjang
Jangka hayat plat pelindung adalah kira-kira tiga kali lebih tahan lama berbanding produk konvensional, yang membolehkan kadar pemprosesan yang lebih tinggi dan jangka hayat yang lebih lama.
spesifikasi
| Voltan pecutan ion | 2 hingga 8kV |
|---|---|
| Kelajuan pengilangan | 500μm/j atau lebih |
| Maks. saiz spesimen | 11mm (W) x 10mm (L) x 2mm (T) |
| Fungsi ayunan spesimen | Ayunan automatik spesimen semasa pengilangan sebanyak ± 30° |
| Mod auto mula | Operasi pengilangan dimulakan secara automatik apabila nilai tekanan pratetap dicapai |
| Mod berselang | Penyinaran pancaran ion terkawal denyut mengurangkan pendedahan spesimen rasuk ion semasa pengilangan |
| Mod penamat | Pengilangan kemasan permukaan halus dimulakan secara automatik setelah pemprosesan selesai |
Muat turun Katalog
IB-19530CP PENGHILANG BAHAGIAN RENTAS(TM)
Produk Berkaitan
Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT800
JSM-IT800 menggabungkan "Senapang elektron pelepasan medan Schottky Plus dalam kanta" kami untuk pengimejan resolusi tinggi kepada pemetaan unsur pantas, dan sistem kawalan optik elektron inovatif "Neo Engine", serta sistem GUI lancar "SEM Center" untuk pemetaan unsur pantas dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL terbenam sepenuhnya, sebagai platform biasa.
JSM-IT800 membenarkan penggantian kanta objektif SEM sebagai modul, menawarkan versi berbeza untuk memenuhi pelbagai keperluan pengguna. Dengan JSM-IT800, lima versi tersedia dengan kanta objektif yang berbeza: versi kanta hibrid (HL), yang merupakan FE-SEM tujuan umum; versi kanta super hibrid (SHL/SHL, dua versi dengan fungsi berbeza), yang membolehkan pemerhatian dan analisis resolusi lebih tinggi; dan versi separa dalam kanta yang baru dibangunkan (i/is, dua versi dengan fungsi berbeza), yang sesuai untuk pemerhatian peranti semikonduktor.
Tambahan pula, JSM-IT800 juga boleh dilengkapi dengan Pengesan Elektron Tersebar Balik Scintillator (SBED) dan Pengesan Elektron Tersebar Belakang Serbaguna (VBED). SBED membolehkan pemerolehan imej dengan responsif tinggi dan menghasilkan kontras bahan yang tajam walaupun pada voltan pecutan rendah, manakala VBED boleh membantu mendapatkan imej kontras 3D, topografi dan bahan. Oleh itu, JSM-IT800 boleh membantu pengguna mendapatkan maklumat yang tidak diperolehi dan menyelesaikan masalah dalam pengukuran.
IB-19520CCP CROSS SECTION POLISHER™
Kerosakan terma boleh dikurangkan dengan menyejukkan spesimen dengan nitrogen cecair semasa pemprosesan. Direka untuk menyekat penggunaan nitrogen cecair, membenarkan tempoh penyejukan yang lama. Penyejukan pantas spesimen semasa direndam dalam nitrogen cecair. Kembali ke suhu bilik. Direka bentuk untuk membolehkan bahagian ditanggalkan. Menggabungkan mekanisme untuk membolehkan proses daripada penggilapan kepada pemerhatian dilakukan tanpa mendedahkan sampel ke udara.
Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT700HR
SEM- Penting dalam Operasi Makmal Harian JSM-IT700HR Memudahkan.
Bahan berskala nano memacu penemuan teknologi semasa dan pemerhatian serta analisisnya difasilitasi oleh SEM baharu dan inovatif, JSM-IT700HR.
Senapang elektron baharunya dengan resolusi spatial 1 nm dan arus probe terbesar 300 nA, digabungkan dengan antara muka perisian yang sangat mesra pengguna memudahkan pemerhatian dan analisis dalam SEM.
Reka bentuk instrumen padat juga menampilkan ruang spesimen yang besar dengan pelbagai port aksesori serta penyepaduan EDS.
JSM-IT700HR SEM Lanjutan, Berkuasa dan Mudah Digunakan.
Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT510
Mudah untuk memperoleh data untuk semua jenis spesimen
Mikroskop elektron pengimbasan (SEM) adalah alat yang sangat diperlukan bukan sahaja untuk penyelidikan tetapi juga untuk jaminan kualiti dan tapak pembuatan.
Pada adegan tersebut, proses pemerhatian yang sama perlu dilakukan berulang kali dan terdapat keperluan untuk meningkatkan kecekapan proses tersebut.
Dengan JSM-IT510, fungsi SEM Mudah yang baru ditambah membolehkan pengguna "meninggalkan operasi berulang manual kepadanya", yang diperlukan untuk pemerhatian SEM, menjadikan pemerhatian SEM lebih cekap dan lebih mudah.
JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM
Mikroskop elektron pengimbasan atas bangku digunakan dalam pelbagai bidang, seperti industri elektrik, elektronik, kereta, mesin, kimia dan farmaseutikal. Di samping itu, aplikasi SEM berkembang untuk bukan sahaja meliputi penyelidikan dan pembangunan, tetapi juga menangani kawalan kualiti dan pemeriksaan produk di tapak pembuatan. Dengan ini, permintaan untuk kecekapan kerja yang lebih baik, operasi yang lebih pantas dan lebih mudah, dan tahap keupayaan analisis dan pengukuran yang lebih tinggi, semakin meningkat.
Mikroskop Elektron Pengimbasan Benchtop JCM-7000 direka bentuk berdasarkan konsep utama "EM yang mudah digunakan dengan navigasi lancar dan analisis langsung". JCM-7000 menggabungkan tiga fungsi inovatif; "Zeromag" untuk peralihan lancar daripada pengimejan optik kepada SEM, "Analisis Langsung" untuk mencari unsur konstituen bagi kawasan cerapan imej dan "Live 3D" untuk memaparkan imej 3D langsung yang dibina semula semasa pemerhatian SEM.
Apabila anda meletakkan JCM-7000 di sebelah mikroskop optik, analisis bahan asing dan kawalan kualiti yang lebih pantas dan lebih terperinci boleh dibuat.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.