JSM-IT700HR
Pengimbasan InTouchScope™
Mikroskop Elektron
SEM- Penting dalam Operasi Makmal Harian JSM-IT700HR Memudahkan.
Ciri-ciri
Bahan berskala nano memacu penemuan teknologi semasa dan pemerhatian serta analisisnya difasilitasi oleh SEM baharu dan inovatif, JSM-IT700HR.
Senapang elektron baharunya dengan resolusi spatial 1 nm dan arus probe terbesar 300 nA, digabungkan dengan antara muka perisian yang sangat mesra pengguna memudahkan pemerhatian dan analisis dalam SEM.
Reka bentuk instrumen padat juga menampilkan ruang spesimen yang besar dengan pelbagai port aksesori serta penyepaduan EDS.
JSM-IT700HR SEM Lanjutan, Berkuasa dan Mudah Digunakan.
Pengenalan
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1.5 min.) ♦
Zeromag & Autofungsi
Besarkan imej optik, peralihan lancar kepada imej SEM
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1.5 min.) ♦
Zeromag direka untuk memautkan grafik pemegang atau imej optik※ dengan imej SEM.
Menggunakan Zeromag, carian medan adalah mudah.
Sistem Navigasi Peringkat (SNS) diperlukan untuk memaparkan imej optik.
EDS Bersepadu & Analisis Langsung
Integrasi pemerhatian dan analisis
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 2 min.) ♦
Analisis EDS terus pada skrin cerapan SEM untuk peralihan lancar daripada pemerhatian kepada analisis. Selain itu, Analisis Langsung menyediakan pemantauan masa nyata spektrum untuk ciri X-ray.
Makmal SMILE VIEW™
Penjanaan laporan yang pantas dan fleksibel
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1 min.) ♦
SMILE VIEW™ Lab ialah alat pengurusan data asal JEOL, yang memautkan imej optik, imej SEM dan hasil analisis EDS.
Dengan satu klik, laporan boleh dijana dengan mudah selepas pengukuran.
Versi luar talian perisian*1 tersedia untuk membebaskan SEM dan meningkatkan produktiviti.
Perisian analisis data luar talian (pilihan) diperlukan.
Perlu memasang Microsoft®Office.
Paparkan kedalaman isyarat
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1 min.)♦
Fungsi baharu untuk memaparkan kedalaman penjanaan isyarat terbina dalam. Memerhati kedalaman analisis pada spesimen adalah sangat berkesan untuk memahami keputusan unsur yang dihasilkan.
Penjajaran Pancaran Auto (ABA)
♦Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1.5 min.) ♦
Fungsi ini secara automatik melaraskan paksi optik pancaran elektron.
Pemerhatian dan analisis kawasan besar dengan fungsi montaj
Hasil montaj: 6×6 (Kiri: Imej elektron berselerak belakang Kanan: Peta unsur Cu)
Spesimen: Bahagian kisar rata skru loyang※, Voltan pecutan: 20 kV, Mod vakum rendah (20 Pa), Kawasan pengimejan: 6.4 mm × 4.8 mm
Pembuatan pengilangan rata dilakukan oleh IB-19530CP selepas penggilap mekanikal.
Montaj adalah fungsi untuk menghubungkan semua imej dalam kawasan yang luas sebagai satu imej definisi tinggi.
Fungsi ini sangat berguna untuk memperoleh maklumat terperinci di kawasan yang luas.
Muat turun Katalog
Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT700HR InTouchScope(TM).
Kesesuaian
Permohonan JSM-IT700HR
Memperkenalkan Mikroskopi Elektron Pengimbasan Cryo
Meluaskan dunia mikroskopik melalui JSM-IT700HR
Bahan Nano
Karbon nanotiub
Voltan pecutan: 2 kV, Isyarat: Elektron sekunder,
Pembesaran: ×100,000
Pemerhatian pada voltan pecutan rendah jelas mendedahkan struktur permukaan.
Pemangkin Pt pada karbon
Produk elektronik
Permukaan patah kapasitor seramik
Voltan pecutan: 5 kV, Isyarat: Elektron terserak belakang,
Pembesaran: ×1,000 (kiri) ×10,000 (kanan)
Bahagian CP-milled bagi semikonduktor SRAM
Voltan pecutan: 5 kV, Isyarat: Elektron berselerak belakang, Pembesaran: ×60,000 (kiri, kanan)
CP ialah instrumen untuk menyediakan keratan rentas spesimen menggunakan rasuk Ar ion dan plat perisai yang luas. Dalam beberapa tahun kebelakangan ini, CP telah digunakan secara meluas untuk menyediakan keratan rentas logam, seramik, plastik dan bahan lain.
Logam
Analisis montaj kawasan besar
Permukaan patah tahan karat
Voltan pecutan: 15 kV, Isyarat: Elektron sekunder,
Pembesaran: ×500, Hasil montaj: 13×6
Dengan memerhatikan keseluruhan kawasan permukaan patah, analisis terperinci tentang mekanisme patah boleh dibuat. Dalam spesimen ini, kegagalan kelesuan biasa, seperti corak striation dan microvoid dimple, diperhatikan.
Analisis unsur: peta EDS
Bahagian giling CP bilah pemotong ketepatan
Voltan pecutan: 15 kV, Isyarat: Elektron berselerak belakang (kiri) Peta EDS (kanan), Pembesaran: ×3,000
Menggunakan peta tindanan, pengedaran unsur logam berat dalam bilah pemotong ketepatan dibuat dengan jelas.
Analisis EBSD pembesaran tinggi
Bahagian CP-milled wayar tahan karat sepanjang arah membujur
Peta Kualiti Imej(kiri), Imej peta Fasa (kanan)
Imej peta EBSD
(arah: Arah 3)
Voltan pecutan: 10 kV, Arus probe: 5 nA, Pembesaran: ×10,000
Bahan lembut
Karbon hitam dalam getah
Voltan pecutan: 15 kV
Isyarat: Elektron sekunder
Pembesaran: ×20,000
Sarung tangan plastik
Voltan pecutan: 5 kV,
Isyarat: Elektron serakan belakang vakum rendah
Pembesaran: ×30,000
Membran pada kulit telur ayam
Voltan pecutan: 5 kV,
Isyarat: Elektron sekunder vakum rendah
Pembesaran: ×500
Mod vakum rendah
Mod vakum rendah membolehkan pemerhatian bahan bukan konduktif tanpa rawatan. Pemindahan pada kanta objektif meningkatkan kualiti imej dalam mod vakum rendah.
Makanan
Ais krim
Voltan pecutan: 7 kV, Isyarat: Elektron serakan belakang vakum rendah, Pembesaran: ×300 (kiri) ×30,000 (kanan)
Gumpalan lemak dan serat otot ayam
Voltan pecutan: 10 kV
Isyarat: Elektron serakan belakang vakum rendah
Pembesaran: ×300
LV cryo-holder*1
Pemegang cryo LV menyimpan spesimen beku tanpa kehilangan air.
Spesimen hidrous seperti makanan boleh diperhatikan. Ia adalah mungkin untuk menggambarkan tekstur dengan memahami saiz ais dan diameter gentian otot.
*1 Pilihan
Biologi
E. coli dan T4 phage
Mempercepatkan turun naik: 2.5 kV
Isyarat: Elektron sekunder
Pembesaran: ×25,000
Mempercepatkan turun naik: 2.5 kV
Isyarat: Elektron sekunder
Pembesaran: ×80,000
Mitokondria buah pinggang tikus
Voltan pecutan: 2.5 kV
Isyarat: Elektron sekunder.
Pembesaran: ×50,000
Peranti Pengeringan Beku JFD-320*2
Peranti pengeringan beku ini meminimumkan kesan ketegangan permukaan, sesuai untuk mengeringkan spesimen hidrous.
Penyediaan spesimen E. coli dan T4 phage: Pengeringan titik kritikal selepas rawatan Glutaraldehyde dan OsO4.
Penyediaan spesimen mitokondria tetikus: Membekukan pengeringan selepas rawatan maserasi OsO4.
* 2 Pilihan
Produk Berkaitan
Produk Berkaitan
IB-19520CCP CROSS SECTION POLISHER™
Kerosakan terma boleh dikurangkan dengan menyejukkan spesimen dengan nitrogen cecair semasa pemprosesan. Direka untuk menyekat penggunaan nitrogen cecair, membenarkan tempoh penyejukan yang lama. Penyejukan pantas spesimen semasa direndam dalam nitrogen cecair. Kembali ke suhu bilik. Direka bentuk untuk membolehkan bahagian ditanggalkan. Menggabungkan mekanisme untuk membolehkan proses daripada penggilapan kepada pemerhatian dilakukan tanpa mendedahkan sampel ke udara.
IB-19530CP CROSS SECTION POLISHER™
IB-19530CP menampilkan peringkat pelbagai guna yang direka secara inovatif untuk memenuhi keperluan pasaran yang semakin pelbagai dan merealisasikan pelbagai fungsi oleh pelbagai jenis pemegang fungsi. Peringkat pelbagai guna digabungkan dengan pemegang fungsi khusus membolehkan pengguna melaksanakan pelbagai fungsi seperti pengilangan dan penggilap permukaan planar, salutan sputter serta pengilangan ion keratan rentas yang lebih tradisional.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.