IB-19520CCP
PENGHILANG BAHAGIAN RENTAS™
Kerosakan terma boleh dikurangkan dengan menyejukkan spesimen dengan nitrogen cecair semasa pemprosesan. Direka untuk menyekat penggunaan nitrogen cecair, membenarkan tempoh penyejukan yang lama. Penyejukan pantas spesimen semasa direndam dalam nitrogen cecair. Kembali ke suhu bilik. Direka bentuk untuk membolehkan bahagian ditanggalkan. Menggabungkan mekanisme untuk membolehkan proses daripada penggilapan kepada pemerhatian dilakukan tanpa mendedahkan sampel ke udara.
Ciri-ciri
Ciri-ciri IB-19520CCP
Kesan penyejukan
Spesimen: Keluli besi bergalvani
Pengilangan biasa (tanpa penyejukan)
Voltan pecutan 4kV
Pengilangan yang disejukkan (suhu pemegang -120°C)
Voltan pecutan 4kV
Untuk pengilangan Normal (tanpa penyejukan), terdapat lompang yang boleh dilihat pada sempadan antara besi dan zink, yang tidak kelihatan dalam penyejuk.
Menggunakan mekanisme kawalan suhu (pilihan) untuk penyejukan
Spesimen: Permukaan ikatan wafer Si
Pengilangan biasa (tanpa penyejukan)
Penyejukan(suhu pemegang -150°C)Voltan pecutan 6kV
Kawalan suhu penyejukan(suhu pemegang -20°C) Voltan pecutan 6kV
Untuk pengilangan Normal (tanpa penyejukan), agen ikatan berubah bentuk oleh kerosakan haba, dan lompang besar muncul. Pada -150 ℃, penyejukan adalah berlebihan, dan lompang boleh dilihat pada sempadan ikatan dan bahagian kusam wafer Si.
Tiada lompang dalam sampel yang disediakan dengan kawalan suhu penyejukan.
Proses terputus-putus, Penyejukan dan Penyejukan dengan fungsi kawalan suhu mengendalikan pelbagai bahan kerja
Fungsi monitor proses
Status pengilangan keratan rentas boleh dipantau dalam masa nyata dengan kamera CCD.
Dan pembesaran boleh diubah.
Fungsi salutan anti-statik
Fungsi sputter pancaran ion pilihan tersedia.
Buat salutan nipis dengan butiran yang baik.
Sesuai untuk kes yang memerlukan pengecaman corak, seperti EBSD.
Pemegang pengilangan ion planar
Rasuk ion disinari pada sudut rendah berbanding sampel, membolehkan pencemaran pada lapisan permukaan dikeluarkan, serta melicinkan permukaan.
Ia juga sesuai untuk etsa terpilih.
Kit Persediaan Keratan Rentas
Ini ialah kit untuk melakukan pengilangan rasuk ion semasa memutar sampel.
Kit ini digunakan dengan pemegang pengilangan ion Planar.
Membolehkan untuk mencipta keratan rentas sampel yang terdedah kepada coretan apabila dikisar, seperti bahan berliang, serbuk dan gentian.
spesifikasi
| Voltan pecutan ion | 2 hingga 8kV |
|---|---|
| Lebar pancaran ion | 500 μm (lebar penuh pada separuh maksimum) |
| Kelajuan pengilangan | 500 μm/j
(Nilai purata lebih 2 jam, pada voltan pecutan: 8 kV, spesimen: Si, 100 μm dari tepi) |
| Pemegang spesimen suhu penyejukan muktamad | -120°C atau kurang |
| Masa tahan penyejukan spesimen | Jam 8 atau lebih |
| Kapasiti tangki penyejuk | Kira-kira 1 L |
| Saiz spesimen maksimum | Dimensi: 11mm(W)×8mm(D)×3mm(H) |
| Julat pergerakan pentas | Paksi-X;±6mm, paksi-Y; ±2.5mm |
| Kaedah penetapan spesimen | Keratan |
| Sudut ayunan pengilangan spesimen | ±30°(Paten US4557130) |
| Memantau pembesaran kamera | Kira-kira ×20 hingga 100 (paparan 6.5 inci) |
| Sistem pengasingan udara | Kapal pemindahan |
| Kaedah pengasingan udara | Tetapkan bahagian dalam ruang kepada persekitaran gas, tutup bekas pemindahan dengan penutup, dan bungkus spesimen ke dalam bekas. |
| Operasi | Panel sentuh, paparan 6.5 inci |
| Gas | Gas argon (kadar aliran dikawal oleh pengawal aliran massa) |
| Tekanan tolok | Tolok vakum penning |
| Pam pemindahan utama | Pam molekul turbo |
| Pam pemindahan bantuan | Pam berputar |
| Dimensi dan Jisim | Unit utama: Lebih kurang. 670mm (W) × 720mm (D) × 530mm (H) , Anggaran. 73㎏
Pam berputar: Lebih kurang. 120mm(W) × 288.5mm(D) × 163mm(H), Lebih kurang. 9.3㎏ |
| Lebih Baik | Pemegang Putaran Spesimen Besar （IB‐11550LSRH)
Pemegang Spesimen Pangkalan Pemasangan（IB‐11560MBSH) Pemegang Spesimen Besar（IB-11570LSH) Pemegang Salutan Karbon（IB-12510CCH） |
Keperluan Pemasangan
| Bekalan kuasa | Fasa tunggal 100 hingga 120V±10%, 50/60Hz, 0.6KVA |
|---|---|
| Terminal pembumian | 100Ω atau kurang |
| Gas argon | Tekanan; 0.15±0.05MPa（1.0 hingga 2.0㎏f/cm2）, Ketulenan: 99.9999% atau lebih, (gas Argon, silinder, dan pengawal selia mesti disediakan oleh pelanggan) penyambung hos; JISB0203Rc１/4 |
| Suhu bilik | 15 hingga 25 ° C |
| Kelembapan | 60% atau kurang |
Spesifikasi boleh berubah tanpa notis terlebih dahulu.
Muat turun Katalog
IB-19520CCP PENGHILANG BAHAGIAN RENTAS(TM)
Kesesuaian
Permohonan IB-19520CCP
Produk Berkaitan
Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT800
JSM-IT800 menggabungkan "Senapang elektron pelepasan medan Schottky Plus dalam kanta" kami untuk pengimejan resolusi tinggi kepada pemetaan unsur pantas, dan sistem kawalan optik elektron inovatif "Neo Engine", serta sistem GUI lancar "SEM Center" untuk pemetaan unsur pantas dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL terbenam sepenuhnya, sebagai platform biasa.
JSM-IT800 membenarkan penggantian kanta objektif SEM sebagai modul, menawarkan versi berbeza untuk memenuhi pelbagai keperluan pengguna. Dengan JSM-IT800, lima versi tersedia dengan kanta objektif yang berbeza: versi kanta hibrid (HL), yang merupakan FE-SEM tujuan umum; versi kanta super hibrid (SHL/SHL, dua versi dengan fungsi berbeza), yang membolehkan pemerhatian dan analisis resolusi lebih tinggi; dan versi separa dalam kanta yang baru dibangunkan (i/is, dua versi dengan fungsi berbeza), yang sesuai untuk pemerhatian peranti semikonduktor.
Tambahan pula, JSM-IT800 juga boleh dilengkapi dengan Pengesan Elektron Tersebar Balik Scintillator (SBED) dan Pengesan Elektron Tersebar Belakang Serbaguna (VBED). SBED membolehkan pemerolehan imej dengan responsif tinggi dan menghasilkan kontras bahan yang tajam walaupun pada voltan pecutan rendah, manakala VBED boleh membantu mendapatkan imej kontras 3D, topografi dan bahan. Oleh itu, JSM-IT800 boleh membantu pengguna mendapatkan maklumat yang tidak diperolehi dan menyelesaikan masalah dalam pengukuran.
IB-19530CP CROSS SECTION POLISHER™
IB-19530CP menampilkan peringkat pelbagai guna yang direka secara inovatif untuk memenuhi keperluan pasaran yang semakin pelbagai dan merealisasikan pelbagai fungsi oleh pelbagai jenis pemegang fungsi. Peringkat pelbagai guna digabungkan dengan pemegang fungsi khusus membolehkan pengguna melaksanakan pelbagai fungsi seperti pengilangan dan penggilap permukaan planar, salutan sputter serta pengilangan ion keratan rentas yang lebih tradisional.
Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT700HR
SEM- Penting dalam Operasi Makmal Harian JSM-IT700HR Memudahkan.
Bahan berskala nano memacu penemuan teknologi semasa dan pemerhatian serta analisisnya dipermudahkan oleh SEM baharu dan inovatif, JSM-IT700HR.<br>Senapang elektron baharunya dengan resolusi spatial 1 nm dan arus probe terbesar 300 nA , digabungkan dengan antara muka perisian yang sangat mesra pengguna memudahkan pemerhatian dan analisis dalam SEM.<br>Reka bentuk instrumen padat juga menampilkan ruang spesimen yang besar dengan berbilang port aksesori serta penyepaduan EDS.<br><strong>JSM- IT700HR SEM Lanjutan, Berkuasa dan Mudah Digunakan.</strong>
JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM
Mikroskop elektron pengimbasan atas bangku digunakan dalam pelbagai bidang, seperti industri elektrik, elektronik, kereta, mesin, kimia dan farmaseutikal. Selain itu, aplikasi SEM berkembang bukan sahaja meliputi penyelidikan dan pembangunan, tetapi juga menangani kawalan kualiti dan pemeriksaan produk di tapak pembuatan. Dengan ini, permintaan untuk kecekapan kerja yang lebih baik, operasi yang lebih pantas dan lebih mudah, dan tahap keupayaan analisis dan pengukuran yang lebih tinggi, semakin meningkat.<br><br>Mikroskop Elektron Pengimbasan Atas Bangku JCM-7000 direka bentuk berdasarkan konsep utama "SEM yang mudah digunakan dengan navigasi lancar dan analisis langsung". JCM-7000 menggabungkan tiga fungsi inovatif; "Zeromag" untuk peralihan lancar daripada pengimejan optik kepada SEM, "Analisis Langsung" untuk mencari unsur konstituen bagi kawasan cerapan imej dan "Live 3D" untuk memaparkan imej 3D langsung yang dibina semula semasa pemerhatian SEM.<br><br> Apabila anda meletakkan JCM-7000 di sebelah mikroskop optik, analisis bahan asing dan kawalan kualiti yang lebih pantas dan lebih terperinci boleh dibuat.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.