JCM-7000NeoScope™ Benchtop SEM | Produk

Mikroskop elektron pengimbasan atas bangku digunakan dalam pelbagai bidang, seperti industri elektrik, elektronik, kereta, mesin, kimia dan farmaseutikal. Di samping itu, aplikasi SEM berkembang untuk bukan sahaja meliputi penyelidikan dan pembangunan, tetapi juga menangani kawalan kualiti dan pemeriksaan produk di tapak pembuatan. Dengan ini, permintaan untuk kecekapan kerja yang lebih baik, operasi yang lebih pantas dan lebih mudah, dan tahap keupayaan analisis dan pengukuran yang lebih tinggi, semakin meningkat.

Mikroskop Elektron Pengimbasan Benchtop JCM-7000 direka bentuk berdasarkan konsep utama "EM yang mudah digunakan dengan navigasi lancar dan analisis langsung". JCM-7000 menggabungkan tiga fungsi inovatif; "Zeromag" untuk peralihan lancar daripada pengimejan optik kepada SEM, "Analisis Langsung" untuk mencari unsur konstituen bagi kawasan cerapan imej dan "Live 3D" untuk memaparkan imej 3D langsung yang dibina semula semasa pemerhatian SEM.

Apabila anda meletakkan JCM-7000 di sebelah mikroskop optik, analisis bahan asing dan kawalan kualiti yang lebih pantas dan lebih terperinci boleh dibuat.

Ciri-ciri

muat turun

Pemerhatian dan analisis pantas tanpa rawatan spesimen menggunakan atas bangku SEM JCM-7000!
-Pengenalan kepada penggunaan berkesan mod Low-Vacuum(LV)-

Mengapa anda tidak mencuba pemerhatian SEM terhadap spesimen penebat yang tidak mengalirkan elektrik seperti sedia ada, tanpa sebarang pra-rawatan?
Kami akan memperkenalkan contoh penggunaan berkesan JCM-7000 dalam mod vakum rendah (LV) untuk bahan polimer, bahan industri, mineral, makanan dan organisma/tumbuhan hidup.

Untuk memuat turun bahan

JCM-7000 NeoScope™

Risalah JCM-7000 NeoScope™

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Analisis Bahan Asing dan Penentuan Bahan

Alat Atas Bangku JCM-7000 NeoScope™ untuk Jaminan Kualiti

Perbandingan dengan OM

Ciri dan Aplikasi

Penjelasan fungsi oleh filem

SEM konvensional

Dalam operasi SEM konvensional, pengimejan SEM dan analisis unsur dipisahkan (tidak lancar).

JCM-7000

Dengan "Zeromag", JCM-7000 membolehkan operasi lancar daripada pengimejan optik kepada SEM. Juga dengan "Analisis Langsung", analisis unsur oleh EDS boleh dibuat semasa pemerhatian imej SEM.

Perbandingan dengan OM

Mempercepatkan cerapan anda melebihi Mikroskop Optik

Analisis bahan cemar

Mudah untuk mengesan bahan asing
Mudah untuk mengenal pasti komposisi unsur
【Contoh】 Analisis bahan asing hitam yang melekat pada permukaan produk makanan

imej OM

Dalam imej OM, sukar untuk melihat taburan pelincir sementara pada permukaan granul putih(ubat) dan kualiti lekatannya.

Imej SEM (Imej gubahan elektron berselerak belakang)

Imej SEM dari medan pandangan yang sama (FOV) menunjukkan zarah dengan kontras berbeza yang menunjukkan komposisi berbeza.

Imej SEM (Imej gubahan elektron berselerak belakang) dan hasil analisis unsur

Memperbesar kawasan minat mengakses analisis EDS langsung secara langsung dengan elemen utama yang dikenal pasti.

Kawalan kualiti

Perhatikan struktur permukaan terperinci dengan resolusi tinggi dan medan kedalaman besar yang tidak mungkin dilakukan dengan pengimejan OM.
【Contoh】 Pemerhatian pengedaran pelincir pada permukaan granul(ubat)

imej OM

Dalam imej OM, sukar untuk melihat taburan pelincir pada permukaan butiran dan kualiti lekatannya.

Imej SEM(Imej gubahan elektron berselerak belakang)

Kedalaman fokus unggul yang disediakan dengan pengimejan SEM berbanding pengimejan OM bersama dengan kontras komposisi yang disediakan dengan pengesan elektron berselerak belakang dengan jelas menunjukkan taburan pelincir pada permukaan butiran.

Imej SEM (Imej gubahan elektron berselerak belakang) dan analisis unsur

Keadaan lekatan pelincir boleh diperhatikan dengan pembesaran yang lebih tinggi.

Ciri dan Aplikasi

Fungsi yang membolehkan sesiapa sahaja melakukan operasi SEM/EDS

Mod Zeromag & Low-Vacuum

Zeromag

Zum imej optik untuk bertukar secara automatik kepada imej SEM!

Mod Vakum Rendah

Melihat adalah mudah tanpa pra-rawatan diperlukan untuk sampel yang mudah dicas.

Spesimen: Garam

Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 60 saat)

Hidup! Hidup! Hidup!

Analisis Langsung

menghapuskan keperluan untuk mempertimbangkan pemerhatian SEM dan analisis EDS sebagai operasi berasingan. Apabila Peta Langsung dipilih, anda boleh mengesahkan pengedaran unsur dalam kawasan yang diperhatikan dalam masa nyata.

Saringan semasa melakukan pemerhatian dengan Analisis Langsung

Semak pengedaran elemen dengan cepat menggunakan Peta Langsung

3D secara langsung

Pengesan elektron berselerak belakang 4-segmen berkepekaan tinggi baharu membolehkan paparan 2 anak tetingkap imej SEM dan imej 3D menggunakan fungsi 3D Langsung. Selain penentuan bentuk serta-merta untuk sampel dengan topografi kompleks, maklumat kedalaman juga boleh diperoleh.

Makmal SMILE VIEW™

Semua data boleh diuruskan daripada Makmal SMILE VIEW™ Skrin pengurusan data.
Semak dan analisis semula data yang diperoleh sebelum ini, dan penciptaan laporan boleh dilakukan dengan mudah.

Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula （2.5 min.）

Filem ini memperkenalkan anda kepada ciri dan fungsi Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™.

Penjelasan fungsi oleh filem

Filem berikut memperkenalkan anda kepada fungsi Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™

Tiga ciri untuk operasi mudah

JCM-7000 dicirikan oleh kemudahan penggunaannya. Berikut adalah tiga ciri yang walaupun pemula akan suka.
1． Aliran Kerja Berpandu untuk pemerolehan data yang mudah
2．Imej berwarna memudahkan navigasi
3．Fungsi Auto Lanjutan

Sesuai untuk pemerhatian dan analisis pelbagai spesimen – Mod vakum tinggi memberikan ukuran kualiti yang lebih tinggi! –

JCM-7000 dilengkapi dengan mod vakum tinggi untuk pemerhatian dan analisis spesimen konduktif dan mod vakum rendah untuk pemerhatian dan analisis spesimen konduktif tanpa rawatan spesimen.
Oleh itu, JCM-7000 boleh digunakan untuk pemerhatian SEM dan analisis EDS bagi pelbagai spesimen.

Serahkan pemerhatian dan analisis kepada kami

JEOL membangunkan dan mengeluarkan SEM dan EDS secara dalaman. Kedua-dua pemerhatian SEM dan analisis EDS boleh dikendalikan pada kedudukan optimum dan dalam antara muka pengguna yang sama. Filem ini memperkenalkan anda kepada tiga fungsi saringan EDS semasa pemerhatian imej.