Pelepasan X-ray lembut
Spektrometer(SXES)
Spektrometer Pancaran X-Ray Lembut (SXES) ialah spektrometer resolusi ultra tinggi yang terdiri daripada kisi pembelauan yang baru dibangunkan dan kamera CCD X-ray dengan kepekaan tinggi.
Dengan cara yang sama seperti EDS, pengesanan selari adalah mungkin, dan analisis resolusi tenaga ultra tinggi 0.3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) boleh dilakukan, mengatasi resolusi tenaga WDS.
Ciri-ciri
Youtube
Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 4 minit)
Garis besar sistem
Reka bentuk sistem optik spektrometer yang baru dibangunkan membolehkan pengukuran spektrum serentak dengan tenaga berbeza, tanpa menggerakkan grating atau pengesan difraksi (CCD). Dengan resolusi tenaga yang tinggi, pemetaan analisis keadaan kimia boleh dilakukan.
Perbandingan SXES, WDS dan EDS
Spektrum untuk titanium nitrida dengan pelbagai kaedah spektrometri
Untuk titanium nitrida, puncak N-Kα dan Ti-Ll bertindih. Walaupun dengan WDS, dan dekonvolusi bentuk gelombang menggunakan kaedah matematik diperlukan. Seperti yang digambarkan dalam rajah di bawah, terdapat resolusi tenaga tinggi dengan SXES, membolehkan TiLl diperhatikan.
Jadual perbandingan
| Ciri | SXES | EPMA(WDS) | EDS |
|---|---|---|---|
| Resolusi | 0.3 eV
(Fermi edge Al-L) |
8 eV (FWHM@Fe-K） | 120-130 eV
(FWHM@Mn-K） |
| Analisis keadaan ikatan kimia | Ya | Ya (terutamanya unsur ringan) | Tidak |
| Pengesanan selari | Ya | Tidak
(Tetapi beberapa spektrometer mungkin) |
Ya |
| Unsur spektrum & pengesan | Kisi pembelauan＋CCD | Menganalisis kristal + Pembilang berkadar | SDD |
| Penyejukan pengesan | Penyejukan peltier | Tidak diperlukan | Penyejukan peltier |
| Had pengesanan
（nilai rujukan dengan B） |
20ppm | 100ppm | 5000ppm |
Contoh Analisis Bateri Li-ion (LIB).
Contoh di bawah menunjukkan peta kawasan besar sampel LIB dengan keadaan caj yang berbeza. SXES boleh memetakan puncak Li-K pada kedua-dua keadaan jalur valens (kiri) dan keadaan tanah (tengah). Peta pengedaran karbon (kanan) juga boleh melihat fungsi pada LIB yang dinyahcas sepenuhnya.
Spesimen spesimen Li-K yang dicas penuh
Nota: Dalam Li-oksida sukar untuk mengesan pelepasan Li-K
Contoh ukuran elemen cahaya
Pengukuran sebatian karbon menggunakan SXES
Adalah mungkin untuk mengukur perbezaan antara berlian, grafit dan polimer. Perbezaan boleh diperhatikan dengan puncak tambahan daripada ikatan π dan σ. Memandangkan pemetaan mengambil spektrum daripada setiap piksel, peta tambahan boleh dijana untuk anjakan puncak 1 eV dan puncak bahu.
Pengukuran pelbagai sebatian nitrogen
Untuk nitrogen juga, keadaan ikatan kimia boleh dianalisis daripada bentuk puncak spektrum. Bentuk puncak untuk nitrat dan nitrida adalah berbeza sama sekali, malah mungkin untuk melihat bentuk puncak unik untuk garam ammonium, yang sangat sensitif terhadap rasuk.
spesifikasi
Resolusi tenaga 0.3eV（spektrum Al-L diukur ＠73eV）
Julat tenaga pemerolehan: Kisi pembelauan JS50XL rantau tenaga 50-170eV
Julat tenaga pemerolehan: Kisi pembelauan JS200N rantau tenaga 70-210eV
Titik pemasangan ruang spektrometer:
EPMA WDSport: Port No.2 (sebelah kanan dari hadapan)
Port FE-SEM WDS (kiri belakang dari hadapan)
Dimensi spektrometer: W 168mm×D 348mm ×H 683mm
Jarak termasuk CCD dari antara muka
Jisim spektrometer 25kg
Model yang berkenaan
EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime
Kesesuaian
Aplikasi SXES
Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 7.0 (Dis. 2021)
Buku Panduan SXES
Sila semak di sini untuk butiran.
Produk Berkaitan
Produk Berkaitan
JSM-7900F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky
JSM-7900F ialah FE-SEM perdana baharu JEOL yang menggabungkan pengimejan resolusi tinggi yang melampau, kestabilan yang dipertingkatkan dan kemudahan penggunaan yang luar biasa untuk mana-mana peringkat pengendali dalam persekitaran pelbagai guna.
Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-IT800
JSM-IT800 menggabungkan "Senapang elektron pelepasan medan Schottky Plus dalam kanta" kami untuk pengimejan resolusi tinggi kepada pemetaan unsur pantas, dan sistem kawalan optik elektron inovatif "Neo Engine", serta sistem GUI lancar "SEM Center" untuk pemetaan unsur pantas dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL terbenam sepenuhnya, sebagai platform biasa.
JSM-IT800 membenarkan penggantian kanta objektif SEM sebagai modul, menawarkan versi berbeza untuk memenuhi pelbagai keperluan pengguna. Dengan JSM-IT800, lima versi tersedia dengan kanta objektif yang berbeza: versi kanta hibrid (HL), yang merupakan FE-SEM tujuan umum; versi kanta super hibrid (SHL/SHL, dua versi dengan fungsi berbeza), yang membolehkan pemerhatian dan analisis resolusi lebih tinggi; dan versi separa dalam kanta yang baru dibangunkan (i/is, dua versi dengan fungsi berbeza), yang sesuai untuk pemerhatian peranti semikonduktor.
Tambahan pula, JSM-IT800 juga boleh dilengkapi dengan Pengesan Elektron Tersebar Balik Scintillator (SBED) dan Pengesan Elektron Tersebar Belakang Serbaguna (VBED). SBED membolehkan pemerolehan imej dengan responsif tinggi dan menghasilkan kontras bahan yang tajam walaupun pada voltan pecutan rendah, manakala VBED boleh membantu mendapatkan imej kontras 3D, topografi dan bahan. Oleh itu, JSM-IT800 boleh membantu pengguna mendapatkan maklumat yang tidak diperolehi dan menyelesaikan masalah dalam pengukuran.
Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-F100 Schottky
JSM-F100 menggabungkan bukan sahaja senapang elektron pelepasan medan dalam kanta Schottky Plus kami dan "Enjin Neo" (sistem kawalan optik elektron), tetapi juga "Pusat SEM" GUI baharu dan "LIVE-AI (Imej Langsung) yang inovatif. Penapis Penambah Visual – Kecerdasan Buatan). Ini membolehkan gabungan optimum pengimejan resolusi spatial tinggi dan kebolehkendalian yang tinggi. Tambahan pula, JSM-F100 dilengkapi dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL, yang disepadukan sepenuhnya dalam "Pusat SEM" untuk pemerolehan lancar daripada imej kepada hasil analisis unsur. Diilhamkan oleh pengguna dalam mengejar evolusi, dan penyepaduan, prestasi tinggi dan kebolehkendalian, JSM-F100 mencapai kecekapan kerja yang luar biasa, 50% atau lebih tinggi daripada siri JSM-7000 kami sebelum ini, yang membawa kepada peningkatan keupayaan pemprosesan tinggi secara mendadak.
JSM-7200F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky
JSM-7200F mempunyai resolusi spatial yang jauh lebih tinggi daripada model konvensional pada kedua-dua voltan pecutan tinggi dan rendah dengan menggunakan teknologi yang digunakan untuk "In-Lens SchottkyPlus", optik elektron yang dilengkapi pada model perdana kami, JSM-7800FPRIME, dan dengan menggabungkan TTLS (Sistem Melalui-Kanta). Arus siasatan maksimum 300 nA juga dijamin kerana ciri-ciri yang disebutkan di atas. Oleh itu, JSM-7200F ialah FE-SEM pelbagai guna generasi akan datang yang mempunyai keupayaan pemerhatian resolusi tinggi, analisis daya pemprosesan tinggi, kemudahan penggunaan dan kebolehkembangan.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.