Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-F100 Schottky

JSM-F100 menggabungkan bukan sahaja senapang elektron pelepasan medan dalam kanta Schottky Plus kami dan "Enjin Neo" (sistem kawalan optik elektron), tetapi juga "Pusat SEM" GUI baharu dan "LIVE-AI (Imej Langsung) yang inovatif. Penapis Penambah Visual – Kecerdasan Buatan). Ini membolehkan gabungan optimum pengimejan resolusi spatial tinggi dan kebolehkendalian yang tinggi. Tambahan pula, JSM-F100 dilengkapi dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL, yang disepadukan sepenuhnya dalam "Pusat SEM" untuk pemerolehan lancar daripada imej kepada hasil analisis unsur. Diilhamkan oleh pengguna dalam mengejar evolusi, dan penyepaduan, prestasi tinggi dan kebolehkendalian, JSM-F100 mencapai kecekapan kerja yang luar biasa, 50% atau lebih tinggi daripada siri JSM-7000 kami sebelum ini, yang membawa kepada peningkatan keupayaan pemprosesan tinggi secara mendadak.

Ciri-ciri

Fungsi baharu "SEM Center" untuk menyepadukan EDS

GUI operasi yang baru dibangunkan "Pusat SEM" menyepadukan sepenuhnya pengimejan SEM dan analisis EDS. Fungsi berkuasa ini menyediakan kebolehkendalian generasi seterusnya dan imej resolusi tinggi yang diperoleh dengan FE-SEM.

Fungsi "Zeromag" baharu

"Zeromag", yang digabungkan untuk peralihan lancar daripada pengimejan optik kepada SEM, memudahkan untuk mengesan kawasan spesimen sasaran.

Penapis LIVE-AI baharu _*Pilihan

Menggunakan keupayaan AI (kecerdasan buatan), penapis LIVE-AI digabungkan untuk kualiti imej langsung yang lebih tinggi. Tidak seperti pemprosesan penyepaduan imej, penapis baharu ini boleh memaparkan imej langsung bergerak lancar tanpa imej baki. Ciri unik ini sangat berkesan untuk mencari kawasan cerapan, pemfokusan dan pelarasan stigmator dengan cepat.

Perbandingan mod biasa dan penapis LIVE-AI

Senapang elektron pelepasan medan Schottky Plus dalam kanta (FEG)

Penyepaduan yang dipertingkatkan bagi pistol elektron dan kanta pemeluwap penyimpangan rendah memberikan kecerahan yang lebih tinggi. Arus probe yang mencukupi tersedia pada voltan pecutan rendah, menyokong pelbagai keupayaan daripada pengimejan resolusi tinggi kepada pemetaan unsur kelajuan tinggi.

Kanta Hibrid (HL)

Kanta Hibrid (HL), gabungan kanta elektrostatik dan medan elektromagnet, menyokong pengimejan resolusi spatial tinggi dan analisis pelbagai spesimen daripada bahan magnetik kepada penebat.

NeoEngine (Enjin Optik Elektron Baharu)

Enjin Neo, sistem kawalan optik elektron termaju, mencapai ketepatan fungsi automatik yang dipertingkatkan dengan ketara, serta kebolehkendalian yang lebih tinggi.

AFS・ACB

Sebelum pelarasan fokus automatik

Selepas pelarasan fokus automatik

Spesimen: Sn zarah pada karbon
Voltan pecutan: 15 kV, WD: 2 mm, Mod pemerhatian: BD, Pengesan: UED, Pembesaran: x200,000

ACL (kanta kawalan sudut apertur)

JSM-F100 menggabungkan kanta kawalan sudut apertur (ACL). ACL menghalang penyebaran elektron kejadian untuk sentiasa mengekalkan probe terkecil. Ini dicapai dengan kawalan optimum sudut apertur untuk variasi besar arus probe, membolehkan operasi SEM lancar termasuk pengimejan resolusi tinggi dan analisis sinar-X. Bersama-sama dengan senapang elektron Schottky dalam kanta, ACL adalah amat penting untuk menyokong SEM pelbagai guna ini.

Sistem pengesan

JSM-F100 boleh memuatkan empat pengesan untuk membolehkan anda memerhati pelbagai imej SEM yang dibentuk secara unik oleh setiap pengesan secara serentak. Seperti SEM kanta luar konvensional, LED (pengesan elektron bawah) dan RBED pilihan (pengesan elektron terserak belakang boleh ditarik balik) tersedia. Selain itu, JSM-F100 mengkonfigurasi dua pengesan dalam kanta bagi UED standard (pengesan elektron atas) dan USD pilihan (pengesan elektron sekunder atas). UED membentuk imej SEM yang mencampurkan elektron sekunder dan elektron berselerak belakang sudut tinggi. USD mengesan elektron sekunder tenaga rendah yang dipintas oleh penapis tenaga betul-betul di bawah UED, untuk membentuk imej SEM.

■UED: Elektron berselerak belakang sudut tinggi
(maklumat komposisi & kristal)

■RBED: Elektron bertaburan belakang
(maklumat komposisi, kristal dan topografi)

■USD: Elektron sekunder
(maklumat morfologi permukaan)

■SED: Elektron sekunder dan berselerak belakang
(maklumat topografi)

Makmal SMILE VIEW™

SMILENAVI _*Pilihan

SMILENAVI ialah alat pembantu yang direka untuk pemula untuk membolehkan operasi asas SEM yang lancar. Apabila pengendali mengklik butang yang sesuai seperti yang ditunjukkan oleh carta alir SMILENAVI, GUI SEM dipautkan kepada operasi klik untuk panduan pengendali. Memandangkan GUI memaparkan langkah operasi dan lokasi butang, pengendali akan dapat mengendalikan SEM tanpa menggunakan SMILENAVI.

pautan

Baru dilancarkan
Pengeluaran Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky Baharu JSM-F100 ― Tahap kecerdasan analitik seterusnya dalam FE-SEM untuk menggabungkan resolusi tinggi dan kebolehkendalian ―

Kandungan Khas JSM-F100　

spesifikasi

Ciri-ciri

Butiran pengesan DrySDTM 60 mm² 133 eV atau kurang B kepada U

Pilihan Utama

• Fungsi Vakum Rendah

• Pengesan Elektron Tersebar Belakang Boleh Tarik (RBED)

• Pengesan Elektron Menengah Atas (USD)

• Pengesan Elektron Sekunder Vakum Rendah (LVSED)

• Mengimbas Pengesan Elektron Penghantaran (STEM)

• Sistem Difraksi Hamparan Belakang Elektron (EBSD)

• Spektrometer X-ray Penyebaran Panjang Gelombang (WDS)

• Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)

• Pengesan Cathodoluminescence (CL)

• Ruang pertukaran spesimen

• Sistem navigasi pentas (SNS)

• Kamera bilik

• Meja operasi

• Panel operasi

• Bola sepak

• SMILENAVI

• Penapis LIVE-AI

• SMILE VIEW™ Peta

Muat turun Katalog

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-F100 Schottky

Kesesuaian

Permohonan JSM-F100

CLEMnote

Maklumat lanjut