CIRI
CIRI1 Imej resolusi tinggi diperoleh dengan FE-SEM.
Senapang elektron Pelepasan Medan Schottky Plus dalam kanta (FEG)
In-lens Schottky Plus FEG telah merealisasikan kecerahan yang lebih baik hasil daripada penyepaduan senapang elektron dan kanta pemeluwap penyimpangan rendah. Dengan FEG ini, elektron yang dijana boleh difokuskan dengan cekap, membolehkan arus probe pada susunan beberapa pA hingga beberapa puluh nA walaupun pada voltan pecutan rendah. Pemerhatian resolusi tinggi adalah mudah: tidak perlu menukar apertur objektif untuk tugasan daripada pemetaan unsur pantas kepada analisis EBSD kepada SXES.
Kanta Hibrid (HL)
JSM-F100 didatangkan dengan kanta objektif tertindih medan elektrostatik/elektromagnetik JEOL, Kanta Hibrid (HL). Kanta berkuasa ini membolehkan pemerhatian dan analisis sebarang spesimen, termasuk bahan magnet dan penebat pada resolusi spatial tinggi.
- ※BD（Nyahpecutan Rasuk）：
- Menggunakan voltan pincang sehingga −2 kV pada peringkat spesimen membolehkan nyahpecutan pancaran elektron kejadian sejurus sebelum spesimen. Fungsi ini meningkatkan resolusi spatial dan nisbah isyarat kepada hingar (S/N) pada voltan pecutan rendah.
JSM-F100 FE-SEM membenarkan pemerhatian struktur nano. Memilih keadaan cerapan dan pengesan yang sesuai untuk aplikasi anda membolehkan anda memperoleh imej SEM ciri daripada pelbagai spesimen.
-
Spesimen: Pt nanopartikel pada karbon,
Voltan pecutan: 20 kV, WD: 2 mm,
Mod pemerhatian: BD, Pengesan: UED -
Spesimen: Plumbum lampu elektrik,
Voltan pecutan: 10 kV, WD: 6 mm,
Mod pemerhatian: LV, Pengesan: LVBED -
Spesimen: Pita meterai,
Voltan pecutan: 0.5 kV, WD: 2 mm,
Mod pemerhatian: BD, Pengesan: UED -
Spesimen: Bahagian ultra-nipis glomerulus tikus,
Voltan pecutan: 5 kV, WD: 4 mm,
Mod pemerhatian: BD, Pengesan: RBED (pembalikan kontras)
- ※ LV (Fungsi Vakum Rendah) ＊Pilihan：
- Fungsi Vakum Rendah membolehkan pemerhatian dan analisis mudah tanpa salutan konduktif untuk bahan penebat.
CIRI2 Kebolehoperasian yang Sangat Inovatif
Dengan pengimejan optik, pengimejan SEM dan analisis EDS bersepadu,
daya pemprosesan pengukuran akan dipertingkatkan secara mendadak.
CIRI3
Makmal SMILE VIEW™
Pautan automatik imej optik dan SEM serta hasil EDS
JSM-F100 menawarkan sambungan dengan SMILE VIEW™ Lab, sistem pengurusan data baharu yang digunakan untuk instrumen analisis JEOL. Ia berguna untuk pengurusan data, analisis dan penjanaan laporan.
- ※ Kanta Kawalan sudut bukaan (ACL):
- Kanta kawalan sudut apertur (ACL), terletak di atas kanta objektif, secara automatik mengoptimumkan sudut apertur kanta objektif ke atas keseluruhan julat semasa (1 pA hingga 300 nA). Walaupun apabila arus probe meningkat, ACL menyekat penyebaran elektron kejadian untuk mengekalkan saiz probe terkecil yang mungkin secara berterusan. ACL membolehkan operasi lancar pada mana-mana tahap arus probe, daripada pemerhatian resolusi tinggi kepada analisis yang memerlukan arus probe yang tinggi.
FUNGSI BARU
FUNGSI BARU 1
AI terbina untuk SEM
Penapis LIVE-AI (Penambah Visual Imej Langsung – AI: LIVE-AI）※ Pilihan
JEOL telah menggabungkan penapis LIVE-AI （Kecerdasan Buatan） untuk kualiti imej langsung yang lebih tinggi. Tidak seperti pemprosesan integrasi imej, penapis LIVE-AI boleh memaparkan imej langsung bergerak lancar tanpa imej baki. Ciri unik ini sangat berkesan dalam mencari kawasan pemerhatian dan untuk pembetulan fokus dan astigmatisme.
Perbandingan mod biasa dan penapis LIVE-AI
-
Mod biasa
-
Dengan penapis LIVE-AI
Spesimen: Eksoskeleton semut. Voltan pecutan:0.5kV, Pengesan:SED
Spesimen: Karat besi. Voltan pecutan:1kV, Pengesan:SED
FUNGSI BARU 2
Pemerolehan kawasan besar secara automatik
Montaj
Imej montaj, yang meliputi kawasan besar dengan pemerolehan automatik setiap kawasan dan pembetulan anjakan kawasan kedudukan, boleh diperoleh hanya dengan menyatakan kawasan dan syarat pemerolehan. Menggunakan zum digital pada imej montaj yang diperoleh memaparkan maklumat terperinci tentang spesimen. Di samping itu, peta unsur montaj menggunakan EDS boleh diperoleh secara serentak, membolehkan pemerolehan automatik banyak maklumat tanpa bantuan pengendali.
FUNGSI BARU 3
Sistem Pertukaran Spesimen
Berkenaan dengan spesimen semua saiz, serta pengimejan optik
Sistem pengeluaran yang sesuai untuk pertukaran spesimen besar digunakan sebagai standard. Ia juga boleh memperoleh imej optik, mencari kawasan pemerhatian dan mengurus data boleh menjadi lebih pantas dan lebih mudah. Penggunaan Sistem Pertukaran Spesimen pilihan membolehkan pemuatan/pemunggahan spesimen yang cepat dan bersih.
