Pengeluaran Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky Baharu JSM-F100 — Tahap kecerdasan analitikal seterusnya dalam FE-SEM untuk menggabungkan resolusi tinggi dan kebolehkendalian —

Latar belakang pembangunan produk

Mikroskop elektron pengimbasan (SEM) digunakan dalam pelbagai bidang, seperti nanoteknologi, logam, semikonduktor, seramik, perubatan dan biologi. Memandangkan aplikasi SEM berkembang untuk bukan sahaja meliputi penyelidikan dan pembangunan, tetapi juga menangani kawalan kualiti dan pemeriksaan produk di tapak pembuatan, pengguna SEM memerlukan pemerolehan data berkualiti tinggi yang pantas, serta pengesahan maklumat komposisi mudah dengan operasi analisis yang lancar.

Untuk memenuhi permintaan ini, JSM-F100 menggabungkan bukan sahaja senapang elektron pelepasan medan In-lens Schottky Plus kami yang sangat dihormati dan "Neo Engine" (sistem kawalan optik elektron), tetapi juga GUI baharu "SEM Center" dan "LIVE" yang inovatif -penapis AI (Penambah Visual Imej Langsung-Kecerdasan Buatan)". Ini membolehkan gabungan optimum pengimejan resolusi spatial tinggi dan kebolehkendalian yang tinggi. Tambahan pula, JSM-F100 didatangkan dengan spektrometer sinar-X (EDS) penyebaran tenaga JEOL, yang disepadukan sepenuhnya dalam "Pusat SEM" untuk pemerolehan lancar daripada imej kepada hasil analisis unsur. Diilhamkan oleh pengguna dalam mengejar evolusi, dan penyepaduan, prestasi tinggi dan kebolehkendalian, JSM-F100 mencapai kecekapan kerja yang luar biasa, 50% atau lebih tinggi daripada siri JSM-7000 kami sebelum ini, yang membawa kepada keupayaan pemprosesan tinggi yang meningkat secara mendadak.

Ciri-ciri Utama

• Pistol elektron pelepasan medan Schottky Plus dalam kanta
  Penyepaduan yang dipertingkatkan bagi pistol elektron dan kanta pemeluwap penyimpangan rendah memberikan kecerahan yang lebih tinggi. Arus probe yang mencukupi tersedia pada voltan pecutan rendah, menyokong pelbagai keupayaan daripada pengimejan resolusi tinggi kepada pemetaan unsur kelajuan tinggi.
• Kanta Hibrid (HL)
  Kanta Hibrid (HL), gabungan kanta medan elektrostatik dan magnet, menyokong pengimejan resolusi spatial tinggi dan analisis pelbagai spesimen daripada bahan magnetik kepada penebat.
• Enjin Neo (Enjin Optik Elektron Baharu)
  Enjin Neo, sistem kawalan optik elektron termaju, mencapai ketepatan fungsi automatik yang dipertingkatkan dengan ketara, serta kebolehkendalian yang lebih tinggi.
• Fungsi baharu "SEM Center" untuk menyepadukan EDS
  GUI operasi yang baru dibangunkan "Pusat SEM" menyepadukan sepenuhnya pengimejan SEM dan analisis EDS. Fungsi berkuasa ini menyediakan kebolehkendalian generasi seterusnya dan imej resolusi tinggi yang diperoleh dengan FE-SEM.
• Fungsi "Zeromag" baharu
  "Zeromag", yang digabungkan untuk peralihan lancar daripada pengimejan optik kepada SEM, memudahkan untuk mengesan kawasan spesimen sasaran.
• Penapis LIVE-AI baharu^*
  Menggunakan keupayaan AI (kecerdasan buatan), penapis LIVE-AI digabungkan untuk kualiti imej langsung yang lebih tinggi. Tidak seperti pemprosesan penyepaduan imej, penapis baharu ini boleh memaparkan imej langsung bergerak lancar tanpa imej baki. Ciri unik ini sangat berkesan untuk mencari kawasan cerapan, pemfokusan dan pelarasan stigmator dengan cepat.
  
  * pilihan

Spesifikasi Utama

Sasaran jualan unit tahunan

60 unit/tahun

pautan

• Produk
  Mikroskop Elaktron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-F100 Schottky