JSM-7800F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

Ciri-ciri

Kanta Super Hibrid (SHL) yang baru dibangunkan digunakan untuk mencapai SEM resolusi tinggi generasi seterusnya, tanpa mengorbankan kebolehkendalian. Penggunaan senapang elektron jenis Schottky memberikan analisis yang stabil dengan arus probe yang besar.

Pemerhatian resolusi tinggi menggunakan Super Hybrid Lens (SHL)

Kanta objektif ialah Kanta Hibrid Super (SHL), yang terdiri daripada medan magnet elektrostatik yang bertindih dengan medan elektrik elektrostatik. Mengurangkan penyimpangan kromatik dan sfera meningkatkan resolusi, terutamanya pada voltan pecutan rendah. SHL tidak memberikan pengaruh medan magnet pada spesimen, jadi pemerhatian bahan magnetik dan analisis EBSD boleh dilakukan tanpa kesukaran.

Pemilihan tenaga pada voltan pecutan rendah

Penapis tenaga dipasang terus di bawah pengesan elektron atas (UED), jadi pemilihan tenaga adalah mungkin. Elektron sekunder dan elektron berselerak belakang boleh dipilih dengan tepat, walaupun pada voltan pecutan rendah, membenarkan pemerhatian komposisi permukaan atas spesimen menggunakan imej elektron berselerak belakang pada voltan pecutan rendah.

Pengimejan permukaan atas menggunakan Gentle Beam

Dengan menggunakan voltan pincang pada spesimen (GB), kelajuan elektron kejadian dikurangkan dan kelajuan elektron yang dibebaskan meningkat. Ini membolehkan imej resolusi tinggi dengan nisbah isyarat-ke-bunyi yang baik diperolehi walaupun dengan tenaga pendedahan spesimen yang rendah. Jika mod GB digunakan, yang membolehkan voltan pincang yang lebih tinggi digunakan, pemerhatian resolusi lebih tinggi pun boleh dibuat walaupun pada tenaga pendedahan spesimen hanya beberapa puluh eV.

Pemerolehan semua maklumat menggunakan pelbagai pengesan

JSM-7800F menggabungkan 4 jenis pengesan, termasuk pengesan elektron atas (UED), pengesan elektron sekunder atas (USD), pengesan elektron terserak belakang (BED) dan pengesan elektron bawah (LED). Untuk UED, elektron sekunder dan dos elektron berselerak belakang boleh ditukar mengikut voltan penapis, membolehkan untuk memilih tenaga elektron. USD mengesan elektron tenaga rendah yang melantun dari penapis. Dengan BED, kontras penyaluran boleh diperhatikan dengan jelas dengan mengesan elektron berselerak belakang sudut rendah. LED membolehkan pemerolehan imej dengan rupa 3 dimensi, termasuk maklumat kekasaran permukaan daripada kesan pencahayaan.

Contoh aplikasi

Pemerhatian pada voltan pecutan rendah
Dengan kaedah Gentle Beam (GB), pemerhatian daripada tenaga pendedahan spesimen sebanyak 10 eV adalah mungkin. Permukaan kepingan graphene dengan ketebalan hanya satu atom boleh diperhatikan dengan tenaga pendedahan spesimen ditetapkan 80 eV.

Spesimen: Graphene ( tenaga pendedahan spesimen: 80eV)

Pemilihan tenaga
Dengan imej BE (kiri) dan imej SE (kanan) secara serentak diperolehi oleh UED dan USD, tafsiran imej yang tepat adalah mungkin. Pengasingan antara zarah emas dan TiO₂, tidak jelas oleh imej SE yang kontras bergantung terutamanya pada topografi, menjadi jelas oleh imej BE, di mana zarah emas menjadi lebih cerah kerana nombor atom puratanya yang lebih tinggi.

imej BE
Spesimen: pemangkin TiO2 disokong emas (2kV)

imej SE

Pemerhatian menggunakan GBSH
Kaedah GBSH menggunakan voltan negatif pada spesimen. Dengan penyimpangan dikurangkan, imej resolusi tinggi dihasilkan. Pemerhatian yang jelas terhadap silika mesoporus direalisasikan.

Spesimen: Silika mesoporus (tenaga pendedahan spesimen: 1keV)

Pemerhatian bahan magnet
SHL tidak membentuk medan magnet di sekeliling spesimen. Oleh itu pemerhatian resolusi tinggi bahan magnetik, dan walaupun pada tenaga pendedahan spesimen yang rendah, boleh dilakukan tanpa kesukaran.

Spesimen: Zarah nano magnetit (tenaga pendedahan spesimen: 1keV)

EBSD boleh dilakukan dengan selesa, kerana SHL tidak memberikan pengaruh medan magnet pada spesimen. Peta IPF menghasilkan analisis orientasi kristal berketepatan tinggi.

Bilangan mata: 118585
dimensi:
X Maks: 80.00 mikron, Y Maks: 79.89 mikron
Langkah: 0.25 mikron
Fasa: Nd2Fe14B

Contoh corak EBSD

ND

TD

RD

spesifikasi

Pilihan Utama

• Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)

• Spektrometer X-ray Penyebaran Panjang Gelombang (WDS)

• Sistem Belauan Hamparan Belakang Elektron (EBSD).

• Pengesan Cathodoluminescence (CLD)

Kesesuaian

Permohonan JSM-7800F

Perbandingan Kaedah Pengimejan 3D dalam Mikroskopi Elektron untuk Biobahan

LIBnote

Penggunaan Mikroskop Elektron Pengimbasan untuk Pengimejan Dislokasi dalam Keluli

Elektron Serak Belakang Sudut Tinggi dan Elektron Serak Belakang Sudut Rendah

Elektron Terserak Belakang

Pencirian Pantas Bakteria Menggunakan ClairScope dan SpiralTOF

Galeri

• 
• 
• 

Produk Berkaitan

Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy™

Pemegang spesimen yang sama kini boleh digunakan untuk kedua-dua mikroskop optik dan mikroskop elektron pengimbasan. Akibatnya, dengan menguruskan maklumat peringkat dengan perisian khusus, sistem boleh merakam lokasi yang diperhatikan dengan mikroskop optik, dan kemudian membesarkan lagi kawasan yang sama dengan mikroskop elektron pengimbasan untuk memerhati struktur halus pada pembesaran yang lebih tinggi & resolusi yang lebih tinggi.Sasaran cerapan yang ditemui dengan mikroskop optik boleh diperhatikan dengan lancar dengan mikroskop elektron pengimbasan tanpa perlu mencari sasaran semula. Kini anda boleh membandingkan dan mengesahkan imej mikroskop optik dan imej mikroskop elektron dengan lancar dan mudah.

Muka Blok Bersiri SEM JSM-7200F・7800F / Gatan 3View®2XP

3View®2XP (Gatan Inc.) digabungkan ke dalam mikroskop elektron pengimbasan pelepasan medan Schottky yang boleh menghasilkan probe elektron halus pada arus tinggi dalam jangka masa yang lama, membolehkan anda membuat keratan rentas spesimen secara automatik dan mendapatkan imej. Pembinaan semula 3D imej yang diperoleh membolehkan analisis terperinci struktur halus dalam tiga dimensi.

Maklumat lanjut