Penggunaan Mikroskop Elektron Pengimbasan untuk Pengimejan Dislokasi dalam Keluli

Pengimejan kehelan menggunakan mikroskop elektron pengimbasan dengan kanta hibrid super akan ditunjukkan untuk menyiasat dinding sel kehelan dan kehelan tunggal di dalam sel yang diperkenalkan oleh ubah bentuk ricih dalam keluli konvensional. Penyelesaian kehelan melalui kaedah pengimejan kontras penyaluran elektron adalah serupa dengan yang diperoleh melalui pemerhatian TEM konvensional, dan pendekatan baru untuk kajian kehelan yang mungkin untuk mengesan heterogenitas struktur mikro ubah bentuk akan dijangka pada sudut pandangan kelebihan teknik SEM-BSE. Terdapat dua konfigurasi pengimejan yang berbeza untuk melakukan ECCI, satu ialah geometri serakan depan, dan satu lagi serakan belakang. Dalam kajian ini, kes kedua digunakan, yang mempunyai kelebihan untuk sekatan yang kecil kepada saiz dan bentuk sampel dan beberapa aplikasi untuk reka bentuk pentas dalam SEM. Memandangkan terdapat beberapa perbincangan dalam mekanisme kontras, penambahbaikan pengesan elektron penyerakan belakang akan membawa kita beberapa idea untuk aplikasi mikroskop kepada kajian kehelan dengan gabungan teknik TEM konvensional.