JSM-7900F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

JSM-7900F ialah FE-SEM perdana baharu JEOL yang menggabungkan pengimejan resolusi tinggi yang melampau, kestabilan yang dipertingkatkan dan kemudahan penggunaan yang luar biasa untuk mana-mana peringkat pengendali dalam persekitaran pelbagai guna.

Ciri-ciri

Enjin Neo（Enjin Optik Elektron Baharu）

Fungsi baru dibangunkan yang mengintegrasikan sistem kawalan lensa dan teknologi automatik, "Enjin Neo" (Enjin Optik Elektron Baharu) ialah ciri standard. Walaupun keadaan optik elektron diubah, terdapat perubahan yang boleh diabaikan dalam penjajaran rasuk, membolehkan pemerolehan imej yang cepat dan mudah pada sebarang voltan pecutan dan arus probe.
Sistem ini merupakan contoh utama teknologi optik elektron JEOL termaju.

①Penambahbaikan fungsi automasi

Spesimen: Keratan rentas mineral (terbenam resin) dikisar oleh CP, Acc. Vol.: 5kV, Pengesan: RBED, Pembesaran: ×100,000

Fungsi auto menyediakan pelarasan auto fokus dengan dalam beberapa saat.

②Peningkatan ketepatan Pembesaran

Spesimen: Spesimen untuk metrologi (MRS5), Acc. Vol.: 10kV, Pembesaran: ×50,000

Ketepatan pembesaran sangat dipertingkatkan dan ukuran saiz ketepatan tinggi tersedia.

③Peningkatan kebolehgunaan mod penapis tenaga

Spesimen: Kad nama, Acc. Vol.: 15kV, Pengesan, UED, Pembesaran: ×3,500

Walaupun julat penapis tenaga ditukar, terdapat perubahan minimum dalam bidang pandangan dan fokus.

GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High resolusi Tahap bias mod)

GBSH ialah kaedah yang meningkatkan resolusi spatial pada sebarang voltan pecutan.
Voltan pincang maksimum 5kV ke peringkat sampel tersedia oleh GBSH-S yang baru dibangunkan.

• GENTLEBEAM™ ialah fungsi yang menyahpecutan pancaran elektron bercahaya dan isyarat elektron dipercepatkan menggunakan voltan pincang untuk sampel.

Pengesan Elektron Tersebar Belakang Baharu

Pengesan elektron berselerak belakang sensitif ultra tinggi yang baru dibangunkan memberikan kami imej kontras yang jelas. Kepekaan pengesan sangat dipertingkatkan dan imej kontras komposisi tinggi boleh diperhatikan pada voltan pecutan rendah.

Sampel: Keratan rentas Cu, Elektron kejadian: 3kV, Pembesaran: ×10,000, WD: 4.5 mm

Platform Baru

Reka bentuk penampilan baharu melaksanakan jejak padat.
Ini menawarkan fleksibiliti tambahan untuk pemasangan instrumen.

Kaedah Pertukaran Sampel Baharu

Sistem pertukaran sampel yang baru direka bentuk (jenis kunci beban) digunakan.
Pengendalian mudah memberikan kemudahan penggunaan yang dipertingkatkan dan mempertingkatkan through-put dan ketahanan instrumen.
Sistem pertukaran sampel yang tinggi dan boleh dipercayai tersedia untuk pengguna pemula dan pengguna berpengalaman.

SMILENAVI

SMILENAVI ialah sistem navigasi operasi yang direka untuk membantu pengguna baru mempelajari operasi asas instrumen dengan cepat dan cekap.
Apabila butang yang ditunjukkan dalam SMILENAVI diklik, butang yang sepadan ditekankan untuk menunjukkan dengan jelas lokasi butang untuk operasi seterusnya.

①Butang yang diserlahkan

Apabila anda mengarahkan penuding tetikus pada butang pada SMILENAVI, bingkai dipaparkan pada butang yang sepadan pada PC-SEM.

Apabila butang pada SMILENAVI diklik, skrin dikelabukan kecuali butang yang sepadan pada PC-SEM.

②Menunjukkan lokasi

Apabila butang kekunci perkakasan pada SMILENAVI diklik, gambar panel pengendalian dan kekunci perkakasan dipaparkan.

③video

Terdapat video yang menerangkan operasi.

Prestasi Tinggi yang diwarisi

Pistol Elektron Schottky Plus Dalam Lensa

In-Lens Schottky Plus Field Emission Electron Gun melaksanakan kecerahan yang lebih tinggi dengan menambah baik gabungan senjata elektron dan kanta pembetulan pembetulan penyimpangan rendah.
Ini membolehkan pengguna memperoleh arus probe daripada beberapa pA hingga beberapa dekad nA walaupun pada voltan pecutan rendah. Sistem ini menyediakan pengguna pemerhatian resolusi tinggi, pemetaan elemen berkelajuan tinggi dan analisis EBSD.

ACL (Kanta Kawalan Sudut Apertur)

ACL dipasang di atas kanta objektif dan mengoptimumkan sudut penumpuan rasuk elektron dalam semua julat arus probe secara automatik. Oleh itu, diameter probe sentiasa diminimumkan kerana sudut penumpuan rasuk elektron bercahaya dilaraskan secara automatik walaupun jumlah arus probe berubah. Adalah mungkin untuk mengumpul kedua-dua imej resolusi tinggi dan data mikroanalisis dengan lancar walaupun arus probe diubah secara meluas.

Kanta Super Hibrid

Kanta objektif jenis kanta elektrostatik / medan magnet tumpang tindih JEOL yang dibangunkan, "Kanta Super Hibrid" sebagai standard, memberikan kami pemerhatian dan analisis resolusi spatial ultra tinggi untuk sebarang jenis sampel termasuk sampel magnet dan bukan konduktif.

Sistem pengesan

Pemerolehan isyarat serentak maksimum 4 pengesan tersedia.
Pengesan Elektron Bawah (LED) dan Pengesan Elektron Atas (UED) adalah standard, selain itu, Pengesan Elektron Tersebar Balik (RBED) yang Boleh Ditarik dan Pengesan Elektron Menengah Atas (USD) tersedia sebagai item pilihan.

Pemerhatian Resolusi Spatial Tinggi

GBSH (GENTLEBEAM™ mod resolusi Super Tinggi) memberikan kami imej resolusi spatial tinggi pada voltan pecutan ultra rendah.

• GENTLEBEAM™ ialah fungsi yang menyahpecutan pancaran elektron bercahaya dan mempercepatkan isyarat elektron dinyahcas menggunakan voltan pincang untuk sampel.

Pemerhatian resolusi spatial tinggi

• Bahan nano oksida

• Nanozarah logam

Fungsi vakum yang rendah

Fungsi vakum yang rendah boleh memberikan kita pemerhatian dan analisis sampel bukan konduktif tanpa salutan konduktif dengan mudah dan dengan resolusi spatial yang tinggi.

Pemerhatian pada pembesaran tinggi

• Glass

Analisis EDS

• Makanan

Fungsi vakum rendah dengan mudah menyekat pengecasan spesimen penebat.

Muat turun Katalog

JSM-7900F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

Kesesuaian

Permohonan JSM-7900F

CryoNote

Dalam resin CLEM dengan penyelesaian pemulihan pendarfluor

CLEMnote

UrushiNote

Nota Bateri

Maklumat lanjut