Mikroskop Elektron Pengimbasan Pancaran Medan Schottky JSM-7800FPRIME
DISCONTINUED
Ciri-ciri
JSM-7800FPRIME memberikan resolusi terbaik di dunia dengan gabungan Gentle Beam (GBSH) yang baru dibangunkan dengan resolusi super tinggi. Di samping itu, arus siasatan maksimum meriam Schottky Plus Dalam kanta telah dinaikkan daripada 200 nA kepada 500 nA.
Pistol Elektron Pelepasan Medan Schottky Plus Dalam Lensa
Kecerahan yang lebih tinggi dicapai dengan mengoptimumkan gabungan senjata elektron dan kanta pemeluwap penyimpangan rendah. Arus siasatan daripada beberapa pA hingga beberapa puluh nA diperolehi walaupun dengan voltan pecutan rendah dengan mengumpul elektron yang dihasilkan oleh pistol secara cekap, membolehkan anda melakukan pemerhatian resolusi tinggi serta pemetaan elemen berkelajuan tinggi dan EBSD pada nano. -skala, sambil mengekalkan apertur objektif terkecil.
Pemerhatian permukaan menggunakan GBSH (Resolusi Super Tinggi Gentle Beam)
Yang sedia ada *Gentle Beam (GB) telah dipertingkatkan untuk menggunakan voltan yang lebih tinggi pada spesimen, memberikan imej resolusi super tinggi dengan voltan pecutan rendah. GBSH membolehkan anda memilih voltan pecutan yang paling sesuai untuk aplikasi, daripada pemerhatian permukaan spesimen kepada analisis unsur skala nano.
Gentle Beam(GB) ialah teknik menggunakan voltan pincang pada spesimen untuk mengurangkan kelajuan elektron tuju, dan mempercepatkan kelajuan elektron yang dipancarkan.
Pengimejan permukaan atas menggunakan Gentle Beam
Dengan menggunakan voltan pincang pada spesimen (GB), kelajuan elektron kejadian dikurangkan dan kelajuan elektron yang dibebaskan meningkat. Ini membolehkan imej resolusi tinggi dengan nisbah isyarat-ke-bunyi yang baik diperolehi walaupun dengan voltan pendaratan spesimen yang rendah. Jika mod GBSH digunakan, yang membolehkan voltan pincang yang lebih tinggi digunakan, pemerhatian resolusi lebih tinggi boleh dibuat walaupun pada voltan pendaratan hanya beberapa puluh eV.
Pemerolehan semua maklumat menggunakan pelbagai pengesan
JSM-7800F menggabungkan 4 jenis pengesan, termasuk pengesan elektron atas (UED), pengesan elektron sekunder atas (USD), pengesan elektron terserak belakang (BED) dan pengesan elektron bawah (LED). Untuk UED, elektron sekunder dan pengumpulan elektron berselerak belakang boleh ditukar mengikut voltan penapis, membolehkan untuk memilih tenaga elektron untuk pemerolehan imej. USD mengesan elektron tenaga rendah yang ditolak oleh grid penapis. Dengan BED, menyalurkan kontras –kontras boleh diperhatikan dengan jelas dengan mengesan sama ada elektron berselerak belakang sudut tinggi atau rendah. LED membolehkan pemerolehan imej dengan rupa 3 dimensi, termasuk maklumat kekasaran permukaan daripada kesan pencahayaan.
spesifikasi
| Resolusi | 0.7 nm(15 kV)
0.7 nm(1 kV) 3.0 nm (5 kV, WD10 mm, 5 nA) |
|---|---|
| Pembesaran | x25 hingga x1,000,000(SEM) |
| Mempercepatkan Voltan | 0.01 kV untuk 30 kV |
| Arus siasatan | Beberapa pA hingga 500nA |
| Lensa pengoptimuman sudut bukaan | Terbina dalam |
| Pengesan | Pengesan Elektron Atas（UED）
Pengesan Elektron Bawah（LED） |
| Penapis tenaga | Fungsi Perubahan Voltan Penapis UED terbina dalam |
| Rasuk lembut | Terbina dalam |
| Paparan imej | Kawasan paparan imej 1,280 x 960 piksel, 800 x 600 piksel |
| Ruang pertukaran spesimen | Standard
Ruang Pertukaran Spesimen TYPE2A |
| Tahap spesimen | Peringkat pemacu motor 5 paksi
Peringkat goniometer eusentrik penuh |
| XY | X:70mm, Y:50mm |
| Condongkan | -5 hingga + 70 ° |
| Putaran | 360 ° |
| WD | 2 mm hingga 25 mm |
| Sistem pemindahan | Dua SIP, TMP, RP |
| Reka bentuk Eco | Semasa operasi biasa: 1.1 kVA
Semasa mod tidur : 0.8 kVA |
Pilihan Utama
Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)
Spektrometer X-ray Penyebaran Panjang Gelombang (WDS)
Sistem Belauan Hamparan Belakang Elektron (EBSD).
Pengesan Cathodoluminescence (CLD)
Kesesuaian
Permohonan JSM-7800FPRIME
Penggunaan Mikroskop Elektron Pengimbasan untuk Pengimejan Dislokasi dalam Keluli
Elektron Serak Belakang Sudut Tinggi dan Elektron Serak Belakang Sudut Rendah
Pencirian Pantas Bakteria Menggunakan ClairScope dan SpiralTOF
Galeri
Produk Berkaitan
Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy™
Pemegang spesimen yang sama kini boleh digunakan untuk kedua-dua mikroskop optik dan mikroskop elektron pengimbasan. Akibatnya, dengan menguruskan maklumat peringkat dengan perisian khusus, sistem boleh merakam lokasi yang diperhatikan dengan mikroskop optik, dan kemudian membesarkan lagi kawasan yang sama dengan mikroskop elektron pengimbasan untuk memerhati struktur halus pada pembesaran yang lebih tinggi & resolusi yang lebih tinggi.Sasaran cerapan yang ditemui dengan mikroskop optik boleh diperhatikan dengan lancar dengan mikroskop elektron pengimbasan tanpa perlu mencari sasaran semula. Kini anda boleh membandingkan dan mengesahkan imej mikroskop optik dan imej mikroskop elektron dengan lancar dan mudah.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.