Bahan Bateri Semua Keadaan Pepejal / Kajian Kes Anod Silikon dan Analisis Elektrolit Pepejal - Bahagian 2 -
Tarikh Tayangan: 2023/01/18
Baru-baru ini, bateri semua keadaan pepejal, di mana Jepun mendahului, menarik perhatian dalam kalangan bateri ion litium. Berbanding dengan bateri litium-ion semasa, yang mempunyai risiko merokok dan menyala, bateri keadaan pepejal dijangka digunakan secara meluas dalam kereta kerana keselamatan dan ketumpatan tenaga yang tinggi.
Siri webinar ini adalah mengenai anod silikon & bahan elektrolit pepejal yang sedang dikaji dalam bateri semua keadaan pepejal.
Dengan kerjasama Prof. Matsuda, Universiti Teknologi Toyohashi, webinar akan memberikan gambaran keseluruhan bateri keadaan pepejal serta contoh analisis yang dilakukan dengan instrumen JEOL.
Seminar ini akan diadakan di web. Anda boleh mengambil bahagian bukan sahaja dari PC anda, tetapi juga dari telefon pintar atau tablet anda, selagi anda mempunyai akses ke web. Kami mengalu-alukan penyertaan anda.
Dengan menghadiri webinar ini anda akan belajar…
Gambaran keseluruhan bateri keadaan pepejal
Kajian kes analisis elektrod negatif silikon (Fungsi baharu Auger Microprobe- pemetaan SI, Cara menggunakan SXES, dll)
Analisis kajian kes bagi bateri keadaan pepejal (analisis untuk penilaian keselamatan dan kualiti)
Penyediaan sampel untuk TEM dalam persekitaran terpencil udara
Siapa yang patut hadir?
Mereka yang terlibat dalam penyelidikan/pembangunan/pembuatan bahan bateri
Mereka yang terlibat dalam analisis bahan industri
Mereka yang terlibat dalam analisis bahan industri
Tarikh/Butiran
15 Februari 2023 (Rabu) 14:00 hingga 15:00 JST (Tokyo)
Setiap seminar adalah lebih kurang 20 minit.
*Ada kemungkinan lanjutan. Sila faham.
Bahan persembahan
Tiada bahan persembahan untuk diedarkan.
Penyiaran filem
Tiada filem untuk disiarkan selepas webinar.
Program
Kuliah 2
Penyediaan Spesimen TEM terpencil oleh FIB-SEM
Kami akan memperkenalkan proses penyediaan spesimen TEM terpencil bagi bahan anod silikon bagi bateri ion litium semua keadaan pepejal menggunakan sistem rasuk ion terfokus (FIB).
Penyediaan spesimen boleh dilakukan dari keratan rentas CP yang rata dan licin dengan memindahkan spesimen secara langsung dari pengilat keratan rentas (CP) ke FIB-SEM, dan spesimen TEM berkualiti tingginya boleh disediakan dari kawasan sasaran dengan menggunakan FIB dengan spesimen manipulator ruang, tanpa mendedahkan spesimen ke udara.
Produk Berkaitan
CP: IB-19520CCP Penyejukkan Peranti Penyediaan Keratan Rentas POLISHER™ CROSS SECTION POLISHER™
Manipulator Nano di dalam ruang spesimen FIB-SEM: OmniProbe 350
Misumi Kadoi
Kumpulan FIB, Jabatan Permohonan EP
Unit Perniagaan EP, JEOL Ltd.
Kuliah 3
Analisis Keadaan Kimia Anod Silikon Bercas oleh Spektrometri Pancaran X-ray SEM lembut (SXES)
Teknik analisis gabungan akan diperkenalkan untuk anod silikon dalam bateri ion litium semua keadaan pepejal, termasuk pemerhatian morfologi oleh SEM dan analisis unsur oleh EDS, dan analisis keadaan kimia oleh SXES dan analisis kristal oleh EBSD.
Produk Berkaitan
SEM: Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-IT800 Schottky
EBSD: Simetri (OXFORD)
Yasuaki Yamamoto
Pasukan 3, Kumpulan SEM,
Jabatan Permohonan EP, Unit Perniagaan EP
JEOL Ltd.
Kuliah 4
Penilaian Anod Silikon menggunakan Mikroskop Elektron Penghantaran
Mikroskopi elektron penghantaran menawarkan pelbagai teknik pemerhatian dan analisis. Kami akan memperkenalkan contoh penilaian anod silikon dari pelbagai sudut.
Produk Berkaitan
TEM: JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Mikroskop Analitik Resolusi Atom
Pemegang pengasingan udara: EM-01380STBTH Pemegang Pemindahan Berilium Mencondongkan Spesimen
Hiroki Hashiguchi
Pasukan 1, Kumpulan 2,
Jabatan Aplikasi EM, Unit Perniagaan EM,
JEOL Ltd.
Pendaftaran
Sila daftar di sini.
Hubungi
E-mel:sales1[at]jeol.co.jp
(sila gunakan @ untuk [at])
Div Penjanaan Permintaan
JEOL Ltd.
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.