JEM-ARM300F2
GRAND ARM™2 Resolusi Atom
Mikroskop Analitik

Mikroskop Elektron Resolusi Atom Baru telah dikeluarkan!

"GRAND ARM™2" telah dinaik taraf.
"GRAND ARM™2" baharu ini membolehkan pemerhatian pada resolusi spatial ultratinggi dengan analisis yang sangat sensitif ke atas pelbagai voltan pecutan.

Ciri-ciri

Feature1

FHP2 tiang kanta objektif yang baru dibangunkan

Sekeping tiang kanta objektif FHP dioptimumkan untuk pemerhatian resolusi spatial ultratinggi.
Sambil mengekalkan keupayaan ini, bentuk bahagian tiang telah dioptimumkan lagi untuk sudut pepejal sinar-X dan sudut lepas landas bagi Dual SDD bersaiz besar (158 mm).²).
Hasilnya, kecekapan pengesanan sinar-X yang berkesan bagi FHP2 adalah lebih daripada dua kali lebih sensitif daripada FHP. Ia boleh memberikan resolusi sub-angstrom dalam peta unsur EDS.

Imej STEM-HAADF/ABF peleraian atom dan peta EDS untuk GaN[211]

Feature2

Kandang baru

Lajur TEM diliputi oleh kepungan jenis kotak, yang boleh mengurangkan kesan perubahan persekitaran seperti suhu, aliran udara, bunyi akustik dan sebagainya, dan kemudian ia meningkatkan kestabilan mikroskop.

Feature3

Pembetul ETA & JEOL COSMO™
Pembetulan penyimpangan Pantas & Tepat

JEOL COSMO™ hanya menggunakan 2 Ronchigram yang diperoleh dari mana-mana kawasan amorf untuk mengukur dan membetulkan penyimpangan.
Oleh itu, sistem boleh menyediakan pembetulan penyimpangan yang Pantas dan Tepat tanpa spesimen khusus.

Feature4

Peningkatan kestabilan

CFEG baharu (Senapang elektron Pelepasan Medan Sejuk) menggunakan SIP yang lebih kecil dengan volum pemindahan yang lebih besar daripada sebelumnya untuk GRAND ARM™2. Peningkatan volum pemindahan SIP meningkatkan tahap vakum berhampiran pemancar di dalam CFEG, dan juga meningkatkan kestabilan pelepasan dan arus siasatan. Pengecilan SIP boleh mengurangkan jumlah jisim CFEG sebanyak ~100 kg.
Penjimatan berat CFEG meningkatkan ketahanan terhadap getaran untuk mikroskop.

Penambahbaikan lain juga meningkatkan kestabilan dan rintangan kepada pelbagai gangguan untuk mikroskop.

Jadual 1. Peleraian imej STEM terjamin dengan pembetulan STEM ETA untuk GRAND ARM™ dan GRAND ARM™2.

Feature5

Sistem OBF (Pilihan)

Dalam kaedah pengimejan baru 'OBF STEM (STEM Medan Cerah Optimum)', imej mentah yang diperoleh oleh pengesan STEM bersegmen digunakan sebagai sumber untuk pembinaan semula imej fasa, dengan penapis Fourier khusus untuk memaksimumkan nisbah isyarat kepada bunyi bagi imej yang diambil.
Kaedah yang menjanjikan ini merealisasikan kontras yang lebih tinggi untuk kedua-dua unsur berat dan ringan walaupun semasa beroperasi dalam keadaan dos elektron yang sangat rendah. Bahan sensitif rasuk yang sukar diperhatikan dengan kaedah ADF dan ABF STEM standard boleh dianalisis dengan mudah dengan kontras yang lebih tinggi pada julat pembesaran yang luas.

K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramikroskopi 220, 113133 (2021)

Pengimejan Dos Rendah STEM

Bahan sensitif rasuk termasuk Rangka Kerja Organik Logam (MOF) dan Zeolit ​​memerlukan dos elektron yang dikurangkan (biasanya, arus siasatan < 1.0 pA) sambil mengekalkan kontras atom yang jelas untuk rangka unsur cahaya.
OBF STEM mempunyai kelebihan untuk eksperimen dos rendah sedemikian, merealisasikan pengimejan STEM cekap dos ultra tinggi dalam resolusi atom. 

Kedua-dua OBF STEM Image MOF MIL-101(kiri) dan MFI Zeolite (kanan) diperoleh dalam satu tangkapan dan resolusi spatial tinggi 1 Å juga boleh diperhatikan pada corak FFT dalam inset kanan. Selain itu, purata imej tindanan (sisipan kiri) mengesahkan bahawa resolusi dan kontras adalah sangat seimbang.

Pengimejan Kontras Tinggi untuk Elemen Cahaya

Selain cekap dos, OBF STEM juga berfaedah untuk pengimejan unsur cahaya.
Walaupun dalam voltan pecutan yang lebih rendah, kedua-dua kontras yang lebih tinggi dan resolusi spatial boleh dicapai untuk elemen cahaya.

Sampel : GaN [110]
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 60 kV
Tumpuan Separuh sudut : 35 mrad

Contoh : Graphene
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 60 kV
Tumpuan Separuh sudut : 35 mrad

Resolusi untuk elemen cahaya menjadi lebih baik dengan voltan pecutan yang lebih tinggi.
Setiap lajur atom kini dipisahkan dengan jelas dengan resolusi sub-angstrom dalam di dalam struktur kompleks atau di sepanjang paksi kristalografi indeks yang lebih tinggi.
Kualiti OBF STEM sangat baik dalam keadaan dos yang rendah, dan dipertingkatkan lagi di bawah keadaan probe standard mikroskop elektron diperbetulkan Cs.

Sampel : β-Si3N4 [0001]
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 200 kV
Tumpuan Separuh sudut : 24 mrad
Inset) 10 bingkai dipuratakan

Sampel : GaN [211]
Instrumen : JEM-ARM300F2
Voltan Pecutan : 300 kV
Tumpuan Separuh sudut : 32 mrad
Inset) 20 bingkai dipuratakan

• e-ABF (ABF dipertingkat) tidak tersedia dalam konfigurasi Quad SAAF.

Pengimejan OBF Langsung

Dalam percubaan sebenar, pengimejan OBF langsung adalah asas untuk bahan sensitif rasuk kerana semua operasi harus dilakukan dalam keadaan terhad dos. Fungsi langsung disertakan dalam sistem OBF, dilaksanakan dalam perisian kawalan TEM, dengan kawalan GUI mudah dan kemas kini paparan masa nyata bersama imej STEM konvensional.

Movie

Pemerhatian langsung imej OBF-STEM dengan JEM-ARM200F

pautan

• Baru dilancarkan

Keluaran Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom Ultra Tinggi Baharu JEM-ARM300F2 (GRAND ARM™2)

spesifikasi

Spesifikasi Utama

Muat turun Katalog

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Mikroskop Analitik Resolusi Atom

Kesesuaian

Permohonan JEM-ARM300F2

CryoNote

Mencapai resolusi tahap tertinggi dunia dengan mikroskop elektron analisis resolusi atom yang baru dibangunkan "GRAND ARM™2"

Galeri

Movie

Peta EDS peleraian Atom JEOL oleh GRAND ARM™2 dengan sekeping tiang FHP2 dan 158mm² sistem dual SDD

Produk Berkaitan

Sistem Photoexcitation Spesimen Mikro Padat Luminary

Sistem subframe elektrostatik Relativiti

Maklumat lanjut