Keluaran Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom Ultra Tinggi Baharu JEM-ARM300F2 (GRAND ARM™2)

Latar belakang pembangunan produk

Dalam Mikroskopi Elektron, sebilangan besar ahli mikroskop dan jurutera telah meneruskan usaha penambahbaikan resolusi. Sementara itu, JEOL telah berusaha untuk meningkatkan kestabilan mikroskop elektron penghantaran (TEM). Menggabungkan teknologi pembetulan penyimpangan dengan usaha ini, kami telah berjaya mencapai resolusi yang sangat tinggi.

JEM-ARM300F (GRAND ARM™) ialah TEM peleraian atom yang difokuskan untuk mencapai resolusi terbaik dalam kelasnya. Tetapi permintaan untuk TEM moden termasuk pencirian bukan sahaja bahan keras tetapi juga bahan lembut. Di bawah keadaan ini, pengguna TEM meminta resolusi dan analisis yang lebih baik dengan tahap ketepatan yang lebih tinggi.
JEOL telah membangunkan TEM baharu, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM™2), yang memenuhi permintaan ini. TEM analisis resolusi atom ultratinggi ini mempunyai banyak ciri. Khususnya, dengan sekeping tiang kanta objektif baharu, "FHP2", GRAND ARM™2 mencapai gabungan optimum pengimejan resolusi atom yang sangat tinggi bersama-sama dengan analisis unsur EDS sudut pepejal yang terbaik dalam kelasnya.
Konfigurasi standard GRAND ARM™2 termasuk penutup yang mengurangkan gangguan luaran, sekali gus membawa kepada kestabilan instrumen yang lebih tinggi.

Ciri-ciri Utama

• Gabungan optimum resolusi spatial ultratinggi dengan analisis sinar-X sensitiviti tinggi.
  Ciri-ciri tiang kanta objektif FHP2 yang baru dibangunkan adalah seperti berikut:
  • Berbanding dengan FHP sebelumnya, FHP2 memberikan kecekapan pengesanan sinar-X yang lebih tinggi (1.4sr), lebih daripada dua kali ganda FHP.
  • Pekali optik rendah, pekali Cc rendah & pekali Cs rendah membolehkan resolusi spatial ultratinggi dan analisis sinar-X kepekaan tinggi dilakukan pada julat voltan pecutan.
    (Leraian STEM terjamin: 53pm pada 300kV, 96pm pada 80kV)*
  *Ini adalah apabila Pembetulan Penyimpangan Trajektori Mengembang STEM (ETA) dikonfigurasikan.
• Potongan Tiang Jurang Lebar (WGP) untuk kanta objektif membolehkan analisis sinar-X sensitiviti ultratinggi.
  Potongan tiang ini, dengan jurang lebar antara tiang atas dan tiang bawah, mempunyai kelebihan berikut:
  • WGP membolehkan SDD kawasan besar (pengesan hanyut silikon) didekatkan kepada spesimen, mencapai analisis sinar-X sensitiviti ultratinggi (jumlah sudut pepejal 2.2 sr).
  • WGP memuatkan pemegang spesimen yang lebih tebal, membolehkan pelbagai jenis eksperimen in-situ.
• Pembetulan penyimpangan sfera (Cs) yang dibangunkan oleh JEOL disepadukan ke dalam lajur mikroskop dan memberikan resolusi spatial ultratinggi.
  • Digabungkan dengan FHP2, GRAND ARM™2 mencapai resolusi STEM 53 petang pada 300 kV.
  • Digabungkan dengan WGP, GRAND ARM™2 mencapai resolusi STEM 59 pm pada 300 kV.
  • JEOL COSMO™ (Modul Sistem Pembetulan) membolehkan anda melakukan pembetulan penyimpangan dengan cepat dan mudah.
• Pistol pelepasan medan sejuk (Cold-FEG) disediakan sebagai standard.
  GRAND ARM™2 dilengkapi dengan Cold-FEG yang menyediakan sebaran tenaga yang lebih kecil daripada sumber elektron.
• Kandang yang mengurangkan gangguan luar
  Kepungan baharu ini adalah standard untuk mengurangkan gangguan luaran seperti aliran udara, perubahan suhu bilik dan bunyi akustik.

Spesifikasi Utama

Sasaran jualan unit tahunan

10 unit/tahun

pautan

• Produk
  JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Mikroskop Analitik Resolusi Atom