Sistem subframe Elektrostatik Relativity™
Ciri-ciri
Resolusi masa:
KerelatifanTM melakukan peralihan antara kawasan subframe dalam masa kurang daripada 100 ns.Video skala kHz berterusan:
KerelatifanTM boleh mengekalkan kadar subframe sehingga 100 kHz.Aplikasi tersuai:
Sepadukan RelativitiTM dengan pemegang in situ, laser, Modulator Dos Elektrostatik IDES, atau aksesori lain.Pemasangan medan mudah:
KerelatifanTMoptik elektrostatik dipasang melalui port aksesori.Di luar pandangan, di luar fikiran:
Optik secara pneumatik ditarik keluar dari rasuk apabila ia tidak digunakan.Pelayan analisis Acuity Edge:
Pemprosesan data automatik dengan pembahagian dan penjajaran subframe membantu anda memanfaatkan sepenuhnya data anda.Perisian kawalan lanjutan:
Beralih dengan lancar antara program pengukuran dengan antara muka intuitif kami, atau gunakan alat berkuasa kami untuk mereka bentuk sesuatu yang baharu.
Bagaimana RelativitiTM bekerja?
KerelatifanTM memasang pemasangan optik elektrostatik dalam port kamera sudut lebar. Optik ini memesongkan data imej dengan pantas ke kawasan berbeza (atau subframe) kamera dalam urutan boleh atur cara. Setiap bacaan kamera mengandungi susunan berjubin subbingkai yang jelas dan bebas kabur. Data mentah dianalisis secara automatik untuk memberikan timbunan imej.
Model yang berkenaan: JEM-ARM300F/300F2, JEM-ARM200F, NEOARM, JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-2100F
Kiri: Video berterusan 19,200 fps dengan peleraian atom, diperoleh menggunakan sampel nanozarah emas oleh GRAND ARM™ pada 80 kV. Atas: Satu sub bingkai daripada data jubin kiri dengan masa pendedahan 52 μs.
spesifikasi
| Jenis kamera yang disokong | Kamera yang dipasang di bahagian bawah(1) |
|---|---|
| KerelatifanTM lokasi pemasangan modul deflector | Port kamera yang dipasang di sisi(2) |
| Saiz subframe maksimum pada kamera | 7 5.3 mm x mm(3) (460 x 350 piksel(4), JEM-F200 dengan GATAN OneView) |
| Tatasusunan subframe asli （tiada pertindihan）(5) |
8 x 10 pada 200 kV atau lebih rendah, 7 x 8 pada 300 kV (oleh GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R) 5 x 6 (oleh GATAN RIO16) |
| Susun atur tatasusunan subframe(6) | 5 x 7, 8 x 10, 12 x 12 pada 200 kV atau lebih rendah 5 x 7, 7 x 8, 9 x 9 pada 300 kV (untuk GATAN OneView atau ClearView atau TVIPS XF416R) 5 x 4, 5 x 6, 8 x 8 (oleh GATAN RIO16) |
| Voltan pecutan(7) | 40 kV atau lebih tinggi (oleh GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R) 80kV atau lebih tinggi (oleh GATAN RIO16) |
| Output logik tambahan Kuantiti Kadar sampel |
4 x output serasi TTL 100 MS/s (MS: persampelan mega) |
| Masukan pencetus | 2 x input serasi TTL |
Ciri rakaman bingkai berterusan (mod GATAN IS, pakej in-situ TVIPS dsb.) amat disyorkan.
Dalam JEM-2100Plus, RelativitiTM modul pemesong dipasang di port pengesan STEM sebelah kiri.
Saiz subframe dihadkan oleh jarak antara elektrod deflektor ("jurang deflektor").
Maklumat terperinci tersedia dalam lembaran spesifikasi RelativitiTMSaiz subframe bergantung pada TEM dan kamera yang dipasang di bawah. Sila tanya IDES jika perlu.
Reka letak bergantung pada TEM dan kamera yang dipasang di bawah. Sila tanya IDES jika perlu.
Disebabkan oleh kekangan geomatik, reka letak tatasusunan subframe yang berbeza adalah optimum untuk saiz pengesan yang berbeza.
KerelatifanTM sistem serasi dengan hampir semua kamera yang tersedia secara komersial.
Sila tanya IDES jika kamera lain dikonfigurasikan.Voltan pecutan sepadan bergantung pada TEM dan kamera. Sila tanya IDES jika TEM mempunyai kamera lain.
Galeri
◆Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula（1 min.）◆
Masa submilisaat menyelesaikan imej TEM CeO2 dengan Relativiti™
Dalam beberapa tahun kebelakangan ini, masa bingkai kamera CMOS telah dikurangkan kepada berpuluh-puluh milisaat; walau bagaimanapun, teknik pengimejan yang lebih pantas diperlukan untuk in situ Pemerhatian TEM untuk menggambarkan transformasi spesimen dinamik. Dalam nota ini, kami melaporkan pemerhatian TEM yang diselesaikan masa pada tertib sub-milisaat menggunakan sistem sub-pembingkaian Relativity™ berdasarkan deflektor rasuk elektrostatik yang dihasilkan oleh IDES.
Sistem Relativity™ dipasang di bawah kanta unjuran mikroskop dan memesongkan imej TEM secara elektrostatik dengan pantas sebelum ia mencapai sensor kamera. Ini membolehkan penangkapan berbilang imej sub-bingkai kecil dalam satu pendedahan kamera, membolehkan rakaman pada skala masa lebih pendek daripada masa bingkai asli kamera dan pembinaan semula imej yang berjujukan.
Pertama, kami membandingkan video kamera CMOS standard pada 25 fps (40 ms/bingkai) dengan video 500 fps (2 ms/bingkai, 488 x 272 setiap sub-bingkai) yang diperoleh menggunakan sistem Relativity™ dengan persediaan sub-bingkai 4 x 5. Untuk memudahkan perbandingan langsung ke atas medan pandangan yang sama, video pseudo-25 fps telah dihasilkan dengan mengekstrak satu sub-bingkai setiap 25 sub-bingkai daripada video 500 fps. Kedua-dua video telah dimainkan semula pada ~1/8 kelajuan (masing-masing 60 fps dan 3 fps) untuk menunjukkan dengan jelas kelakuan dinamik. Filem boleh ditonton dengan mengklik pada butang di bawah. Sampel yang diperhatikan ialah Au nanopartikel.
Kami juga memerhatikan evolusi masa bagi (111) aspek permukaan CeO2 nanozarah [1] sepanjang arah kejadian [1-10]. Semasa pendedahan 40 ms, pancaran elektron dipesongkan secara berurutan untuk merakam 49 imej, menghasilkan resolusi temporal kira-kira 0.82 ms setiap imej TEM. Rajah 1 menunjukkan bingkai ketiga (1.63 ms) dan kelapan (5.71 ms) bagi jujukan itu. Perubahan struktur lajur atom yang berlaku dalam kira-kira 4 ms dapat dilihat dengan jelas. Filem boleh ditonton dengan mengklik butang di bawah, mendedahkan turun naik atom tunggal terlalu cepat untuk ditangkap kadar bingkai konvensional.
[1] CeO2 spesimen zarah nano: Ihsan Johnson Matthey (UK).
Produk Berkaitan
Produk Berkaitan
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.