Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Mencapai resolusi tahap tertinggi dunia dengan mikroskop elektron analisis resolusi atom yang baru dibangunkan "GRAND ARM™2"

EM2020-09E

Ciri-ciri luar biasa bagi mikroskop elektron analitik resolusi atom baharu (GRAND ARM™2) ialah "kestabilan", yang telah direalisasikan oleh perkembangan kepungan lajur mikroskop, senjata elektron ringan, bekalan arus kanta yang dipertingkatkan kestabilan dan sebagainya. Kestabilan tertinggi memberikan resolusi tertinggi. Satu lagi ciri penting ialah "kepekaan analitik tinggi manakala resolusi atom", yang telah direalisasikan oleh kanta objektif yang dioptimumkan bentuk baharu "FHP2". Gabungan lensa baharu ini dan pengumpul penyimpangan ETA yang dibangunkan JEOL menyediakan kawasan fasa rata yang lebih luas dalam STEM Ronchigram berbanding salah satu mesin sebelumnya. Oleh itu, mikroskop elektron analitik resolusi atom baharu telah melaksanakan resolusi tahap tertinggi dengan kestabilan yang lebih baik dan kepekaan analitik yang tinggi.

JEM-ARM300F2

Mencapai resolusi STEM-ADF 40.5 petang

Rajah 1(a) dan (c) menunjukkan imej STEM-HAADF bagi kristal GaN yang diunjurkan sepanjang arah [212]. (a) diperoleh dalam imbasan bingkai tunggal, dan (c) diperoleh dengan penyepaduan 20 bingkai. (b) dan (d) ialah corak FFT untuk imej STEM-HAADF tersebut. Dalam Rajah.1(a), yang diperoleh dalam bingkai tunggal, dumbbell, yang menunjukkan jarak interatomik Ga-Ga 40.5 petang diselesaikan. Juga, dalam corak FFTnya (Rajah 1(b)) tunjukkan tempat yang sepadan dengan 39.3 petang, serta, satu yang sepadan dengan 40.5 petang. Dalam imej STEM-HAADF yang diperolehi dengan integrasi 20 bingkai dalam Rajah.1(c), menunjukkan jarak dumbbell Ga-Ga dengan lebih jelas. Dan corak FFTnya, ditunjukkan dalam Rajah.2(d), menunjukkan tempat pada 36.1 petang, yang jauh lebih jauh daripada yang diperolehi dalam Rajah.1(b). Keputusan ini menunjukkan bahawa mikroskop ini memberikan resolusi tertinggi.

Rajah 1. (a) imej STEM-HAADF GaN [212] yang diperolehi melalui pemerolehan bingkai tunggal.(b) Corak FFT bagi imej yang ditunjukkan dalam (a). (c) Imej STEM-HAADF diperolehi dengan integrasi 20 bingkai. (d) Corak FFT bagi imej yang ditunjukkan dalam (c).

Rajah 1. (a) imej STEM-HAADF GaN [212] diperoleh melalui pemerolehan bingkai tunggal. (b) Corak FFT bagi imej yang ditunjukkan dalam (a). (c) Imej STEM-HAADF diperolehi dengan integrasi 20 bingkai. (d) Corak FFT bagi imej yang ditunjukkan dalam (c).

Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik.

PDF 1.35MB
Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.