JEM-ARM200F ACCELARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom Menyedari resolusi STEM (HAADF) yang belum pernah terjadi sebelumnya sebanyak 0.08 nm
DISCONTINUED
JEM-ARM200F ACCELARM ialah Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom, yang mempunyai resolusi STEM-HAADF yang belum pernah berlaku sebelum ini pada 78 malam dengan pembetulan STEM Cs digabungkan sebagai standard.
Ciri-ciri
Merealisasikan resolusi STEM-HAADF yang belum pernah berlaku sebelum ini pada 78 malam *1 dijamin
JEM-ARM200F ACCELARM, dengan pembetulan STEM Cs digabungkan sebagai standard, dan kestabilan mekanikal dan elektrik dipertingkatkan ke had maksimum, mencapai resolusi STEM-HAADF yang belum pernah berlaku sebelum ini pada 78 malam*1 dan 82 malam *2. Dan memandangkan probe elektron yang diperbetulkan Cs mempunyai ketumpatan arus yang meningkat secara mendadak, iaitu satu susunan lebih besar daripada TEM FE konvensional, analisis unsur pada peringkat atom menjadi mungkin, bersama-sama dengan daya pemprosesan yang sangat dipertingkatkan.
*1 : dengan FEG Sejuk, *2 : dengan Schottky FEG
Pemerhatian langsung tapak lajur atom unsur cahaya menggunakan pengimejan STEM-ABF
JEM-ARM200F ACCELARM menyediakan mod pengimejan STEM-ABF sebagai standard. Teknik ini menggambarkan tapak lajur unsur cahaya dalam sampel kristal. Imej STEM-HAADF boleh diperhatikan secara serentak, kerana jarak antara pengesan HAADF dan BF dioptimumkan. Dengan dua imej itu, tapak lajur atom boleh dianggarkan secara langsung dengan mudah.
Analisis resolusi atom dengan pengesan EDS sudut pepejal yang besar
Analisis unsur disajikan dengan kawasan luas JEOL sendiri (100 mm2) Pengesan Hanyutan Silikon (SDD)*3 menyediakan pengesanan berkelajuan tinggi dan sensitiviti tinggi. Di samping itu, arus kuar besar dalam saiz kuar kecil, ditawarkan oleh saiz apertur besar yang dibenarkan bagi sistem pembentukan kuar akibat pembetulan penyimpangan, membolehkan pemerolehan spektrum dan pemetaan unsur pada resolusi atom.
*3 : pilihan
Pemerhatian dan analisis dengan pistol FE sejuk *4
Pistol FE sejuk, yang menggunakan sistem vakum baharu, boleh digunakan serta-merta selepas berkelip, tidak seperti pistol sejuk-FE sebelumnya. Di samping itu, sumber elektron cukup kecil untuk membolehkan imej resolusi lebih tinggi. Penyebaran tenaga sempit yang menjadi ciri FEG sejuk membolehkan analisis EELS resolusi tenaga tinggi dan juga mengurangkan penyimpangan kromatik.
*4 : pilihan
TEM Cs-pembetul *5
Dengan TEM Cs-corrector, resolusi imej TEM dipertingkatkan menjadi 110 malam dalam konfigurasi UHR.
*5 : pilihan
spesifikasi
| konfigurasi*1 | Resolusi ultratinggi (UHR) | Resolusi tinggi (HR) |
|---|---|---|
| [Resolusi] | ||
| STEM Mod Medan Gelap |
82 malam (pada 200kV, dengan Schottky FEG) 78 malam (pada 200kV, dengan FEG sejuk) |
100 malam (pada 200kV, dengan Schottky FEG) 100 malam (pada 200kV, dengan FEG sejuk) |
| TEM (peleraian mata) |
190 petang (pada 200kV) 110 malam (pada 200kv, dengan TEM Cs-corrector) |
230 petang (pada 200kV) 120 malam (pada 200kv, dengan TEM Cs-corrector) |
| [Pembesaran] | ||
| STEM | x 200 hingga x 150,000,000 | |
| TEM | x 50 hingga x 2,000,000 | |
| [Sumber elektron] | ||
| Pemancar*2 | ZrO/W Schottky W sejuk (pilihan) |
ZrO/W Schottky W sejuk (pilihan) |
| Mempercepatkan voltan | 200 hingga 80kV（200kV standard, 80kV）*3,*4 | |
| [Sistem Spesimen]*5 | ||
| Masa latihan | Peringkat Goniometer Kemasukan Sisi Eusentrik | |
| Ukuran spesimen | 3mmφ | |
| Sudut kecondongan maksimum*3 | Paksi X: ±25° | Paksi X: ±35° |
| Paksi X: ±25° | Paksi X: ±30° | |
| [Pembetul Aberasi] | ||
| Sistem membentuk probe Cs-pembetul |
Terbina dalam sebagai standard | |
| Sistem pembentukan imej Cs-pembetul |
Pilihan | |
| [Pilihan] | ||
| Pilihan boleh dipasang utama | EDS BElut Kamera CCD Digital Sistem Tomografi TEM/STEM Dwi-prisma |
|
*1 : Pilih sama ada konfigurasi apabila memesan JEM-ARM200F.
*2 : Pilih sama ada pemancar apabila memesan JEM-ARM200F.
*3 : Dengan suis litar pintas pilihan untuk tiub pecutan tersedia untuk 80 kV dan 100 kV.
*4 : 100 kV, 120 kV dan 160 kV adalah mungkin dengan pelarasan pilihan pembetul Cs.
*5 : Dengan pemegang pencondongan spesimen bertetulang (EM-01030RSTH) atau pemegang pencondongan spesimen (EM-31630).
Kesesuaian
Permohonan JEM-ARM200F
Pengesan Piksel Pantas: Era Baharu untuk STEM
X-ray, Elektron dan Penghabluran NMR kepada Penentuan Struktur Molekul Organik Kecil
Analisis Keadaan Elektronik oleh STEM-EELS Monokrom
Pengimejan TEM masa nyata resolusi atom molekul tunggal
Kajian Nanopartikel di UTSA: Satu Tahun Penggunaan JEM-ARM200F Pertama Dipasang di Amerika Syarikat
Galeri
Produk Berkaitan
ARM200F berwarna monokrom
Monochromator penapis Wien Berganda untuk JEM-ARM200F baru dibangunkan untuk merealisasikan analisis EELS resolusi tenaga ultra tinggi pada skala atom.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.