Pengimejan dan Spektroskopi Resolusi Tinggi Menggunakan TEM yang diperbetulkan CS dengan Cold FEG JEM-ARM200F

Baru-baru ini, di Universiti Paris Diderot (Perancis), konfigurasi mikroskop elektron unik dalam dunia telah dipasang. Ia terdiri daripada mikroskop elektron diperbetulkan penyimpangan sfera JEOL JEM-ARM200F (TEM) yang dilengkapi dengan pistol pelepasan medan sejuk (CFEG). Dalam kertas kerja ini, kami melaporkan prestasi mikroskop 80 - 200 kV yang baru dibangunkan ini. Pertama, kami menunjukkan bahawa kestabilan kedua-dua pelepasan dan arus probe menjadikan penggunaan FEG sejuk baharu ini lebih mesra. Penyebaran tenaga elektron yang dipancarkan daripada CFEG telah diukur sebagai fungsi arus pelepasan dan menunjukkan resolusi tenaga 0.26 eV yang terakhir pada 200 kV dan juga 0.23 eV pada 80 kV. Gabungan FEG sejuk dan pembetulan penyimpangan CEOS bagi kanta objektif, yang dikaitkan dengan kestabilan mekanikal dan elektrik yang dipertingkatkan TEM baharu ini, membolehkan mencapai resolusi titik 75 malam pada 200 kV dan 80 malam pada 80 kV. Resolusi titik ghaib pada 200 kV ini telah membolehkan kami mengkaji struktur nanopartikel CoPt dengan memerhati imej langsung susunan atomnya di sepanjang paksi zon indeks tinggi, serta grafit karbon di sepanjang orientasi paksi zon [0001]. Kepekaan tinggi mikroskop ini membolehkan kita untuk imej dan menganalisis spesis kimia atom tunggal yang meresap pada substrat karbon amorf. Akhirnya, kami menggunakan penyebaran tenaga kecil CFEG untuk mengkaji ciri-ciri mod resonans plasmon permukaan nanopartikel bimetal dalam interaksi elektromagnet yang rapat.