SightSKY (EM-04500SKY)
Kepekaan tinggi,
Gandingan gentian hingar rendah
kamera CMOS

Ciri-ciri

• Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.

• Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.

• Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.

Imej TEM resolusi tinggi bagi Si₃N₄

Zum Digital mengekalkan pengimejan yang tajam, walaupun pada resolusi kekisi.

Instrumen: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM resolusi tinggi dan corak difraksi elektron Al₇₂ Fe₂₄ Ni₄ dodecagonal quasi-kristal

Zum Digital membolehkan pemerhatian susunan atom yang menunjukkan quasi-periodity, seperti ciri-ciri kuasi-kristal.
Selain itu, julat dinamik yang tinggi menghasilkan kontras corak pembelauan elektron yang sangat baik, daripada titik langsung intensiti tinggi kepada titik intensiti lemah.

Contoh ihsan daripada
Profesor Emeritus Kenji Hiraga, Universiti Tohoku
Dr Kunio Yubuta, Universiti Kyushu

Kawasan segi tiga terang yang muncul di sebelah kanan atas corak pembelauan ditunjukkan oleh paparan Log.

Alat: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM silikon polihabluran

Struktur halus, seperti tekstur berkembar silikon polihabluran, boleh diperhatikan dengan kontras yang tinggi.

BF-TEM

DF-TEM

Imej medan gelap yang dibentuk oleh titik pembelauan yang diserlahkan dengan bulatan kuning di sisipan.

Alat: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM resin polietilena (PE) dan polipropilena (PP).

Zum Digital membolehkan pemerhatian jelas struktur lamella.

Kaedah penyediaan sampel: Mikrotom
Instrumen: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 80 kV

Imej TEM daun lobak merah

Struktur membran kloroplas dan mitokondria boleh dikenal pasti; tambahan pula, struktur membran halus boleh diperhatikan secara terperinci.

Kaedah penyediaan sampel: Mikrotom
Instrumen: JEM-1400Flash
Voltan pecutan: 120 kV

Imej TEM bagi dwilapisan fosfolipid (Liposom)

Membran dwilapisan lipid liposom boleh dibezakan dengan jelas.

Kaedah penyediaan sampel: pembenaman ais
Instrumen: JEM-F200Cryo
Voltan pecutan: 200 kV

Perisian kawalan sistem kamera "SightX"

spesifikasi

Model yang berkenaan: JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-1400, JEM-2100, JEM-2100F, JEM-2200FS, CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)

＊ SightSKY menggunakan penyambung suapan ketumpatan tinggi yang baru – memindahkan isyarat sensor dan menyediakan bekalan kuasa antara ruang vakum dan unit elektrik atmosfera - menerima pakai paten, No.JP6635605, RIKEN (Institut Penyelidikan Fizikal dan Kimia) yang dikeluarkan oleh MIST dan Lead Electronics Co. Ltd.

Muat turun Katalog

SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah

Produk Berkaitan

Produk Berkaitan

CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC) Mikroskop Cryo-Electron Pelepasan Medan

Mikroskopi cryo-elektron telah ditubuhkan sebagai kaedah untuk membolehkan pemerhatian sel dan molekul biologi tanpa penetapan dan tiada pewarnaan. Disebabkan kemajuan pesat perkakasan dan perisian baru-baru ini, teknik mikroskopi ini telah menjadi semakin penting sebagai kaedah analisis struktur berskala atom. Di samping itu, teknologi yang membolehkan analisis protein membran tanpa penghabluran telah dibangunkan, menyebabkan peningkatan penggunaan mikroskop cryo-elektron untuk penemuan ubat. Oleh itu, pemasangan mikroskop cryo-elektron (cryo-EM) di universiti dan makmal penyelidikan sangat pesat. Untuk memenuhi keperluan pengguna cryo-EM, JEOL telah membangunkan cryo-EM baharu "CRYO ARM™ 200", yang secara automatik memperoleh data imej untuk Analisis Zarah Tunggal dalam jangka masa yang panjang.

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

JEM-F200 ialah mikroskop elektron penghantaran pelepasan medan baharu, yang menampilkan resolusi spatial dan prestasi analisis yang lebih tinggi, sistem operasi baharu yang mudah digunakan untuk operasi pelbagai guna, penampilan pintar, dan pelbagai sistem penjimatan tenaga yang mesra alam.

Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2200FS

JEM-2200FS, mikroskop elektron analitikal terkini, dilengkapi dengan senapang pelepasan medan (FEG) 200kV dan penapis tenaga dalam lajur (penapis Omega) yang membolehkan imej kehilangan sifar, di mana elektron tidak anjal dihapuskan, menghasilkan imej yang jelas dengan kontras yang tinggi. Dan imej ditapis tenaga yang terbentuk dengan elektron pada kehilangan rendah atau tenaga kehilangan teras memberikan keadaan kimia atau maklumat unsur sampel. Juga, spektroskopi untuk analisis unsur dan analisis kimia spesimen tersedia.

Mikroskop Elektron JEM-2100Plus

JEM-2100Plus ialah mikroskop elektron penghantaran pelbagai guna, yang menggabungkan sistem optik JEM-2100 yang terbukti dengan sistem kawalan lanjutan untuk memudahkan operasi yang dipertingkatkan. Mencapai prestasi unggul melalui operasi intuitif, JEM-2100Plus menyediakan penyelesaian kepada pelbagai aplikasi daripada sains bahan kepada kajian perubatan/biologi.

Mikroskop Elektron JEM-1400Flash

JEM-1400Flash digunakan dalam pelbagai bidang, seperti biologi, nanoteknologi, polimer dan bahan termaju. Dalam pemerhatian spesimen biologi termasuk bahan makro-molekul, ubat-ubatan, bahagian patologi dan virus, biasanya keseluruhan pandangan tisu, struktur, lokasi sasaran dan kawasan pemerhatian mula-mula disahkan pada pembesaran rendah, dan kemudian struktur halus yang menarik dikaji dengan teliti pada pembesaran tinggi. Untuk meneruskan dengan lancar ke siri pemerhatian ini, permintaan terkini untuk langkah pemerhatian yang lebih mudah untuk memperoleh data imej pemprosesan yang lebih tinggi semakin meningkat. Untuk memenuhi keperluan tersebut, mikroskop elektron 120 kV baharu "JEM-1400Flash" dilengkapi dengan kamera sCMOS sensitiviti tinggi, sistem montaj kawasan ultra lebar dan fungsi pautan imej OM (mikroskop optik).

Maklumat lanjut