Siri SightSKY™
Kepekaan Tinggi, Bunyi Rendah
Kamera CMOS Gandingan Gentian

・Sensitiviti tinggi, hingar rendah 19 M piksel sensor CMOS membolehkan pengimejan butiran spesimen halus dan memperoleh isyarat tinggi kepada imej hingar walaupun pada dos elektron yang rendah.
・Pengatup global dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa kajian pemerhatian dinamik in-situ.
・Sistem kamera SightSKY™ menawarkan penyepaduan dengan Platform Analisis Bersepadu FEMTUS™ JEOL, menyediakan operasi mesra pengguna dan pemerolehan data.

Ciri-ciri

Imej TEM resolusi tinggi silikon nitrida (Si₃N₄)

Zum digital memastikan imej yang jelas dan terperinci walaupun melihat pada resolusi atom.

Instrumen: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM resolusi tinggi dan corak difraksi elektron Al₇₂Fe₂₄Ni₄ kuasi-hablur dekagon

Zum Digital membolehkan pemerhatian struktur atom yang menunjukkan quasi-periodicity, seperti ditunjukkan semasa pengimejan kuasi-kristal. 

Selain itu, julat dinamik tinggi menawarkan kontras corak pembelauan elektron yang sangat baik, daripada titik tertib langsung 0 intensiti tinggi kepada pantulan keamatan yang lebih lemah.

Spesimen ihsan:
Dr. Kenji Hiraga, Profesor Emeritus,
Institut Penyelidikan Bahan, Universiti Tohoku
Dr. Kunio Yubuta, Profesor Dilantik Khas,
Institut Penjanaan Semula Aqua, Universiti Shinshu

Segitiga kanan atas menunjukkan paparan Log.

Instrumen: JEM-2100Plus,
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM silikon polihabluran

Struktur halus, seperti tekstur berkembar silikon polihabluran, boleh diperhatikan dengan kontras yang tinggi.

BF-TEM

DF-TEM

Imej medan gelap terbentuk dengan titik pembelauan yang ditunjukkan.

Alat: JEM-2100Plus
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM MoSi₂-Mo₅Si₃ aloi eutektik

MoSi₂-Mo₅Si₃ struktur eutektik dan MoSi₂ dan Mo₅Si₃ imej kekisi boleh diperhatikan dengan jelas.

Instrumen: JEM-F200,
Voltan pecutan: 200 kV,
Penyediaan spesimen: JIB-PS500i

Spesimen ihsan:
Dr. Haruyuki Inui dan Dr. Kyosuke Kishida, Profesor,
Sekolah Siswazah Kejuruteraan, Universiti Kyoto

Imej TEM resin polietilena/polipropilena

Zum Digital membolehkan pemerhatian jelas struktur lamella

Penyediaan spesimen: Mikrotom,
Instrumen: JEM-2100Plus,
Voltan pecutan: 80 kV

Imej TEM membran dwilapisan lipid Liposom

Membran dwilapisan lipid Liposom boleh dibezakan dengan jelas.

Penyediaan spesimen: pembenaman ais,
Instrumen: JEM-F200 (CR),
Voltan pecutan: 200 kV

Imej TEM buah pinggang tikus

Struktur halus glomerulus buah pinggang boleh digambarkan dengan kontras tinggi yang membolehkan diagnosis klinikal yang tepat.
Khususnya, struktur penting dalam pemerhatian biopsi buah pinggang, seperti membran bawah tanah dan proses kaki (anak panah), boleh digambarkan dengan jelas pada pembesaran rendah dan tinggi.

Penyediaan spesimen: Mikrotom,
Instrumen: JEM-120i,
Voltan pecutan: 120 kV

Kawalan Pintar dengan Platform Analisis Bersepadu FEMTUS™ JEOL

Sistem kamera disepadukan ke dalam Platform Analisis Bersepadu FEMTUS™ JEOL dan menyediakan operasi mesra pengguna.

spesifikasi

Muat turun Katalog

SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah

Produk Berkaitan

Produk Berkaitan

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Mikroskop Analitik Resolusi Atom

"GRAND ARM™2" telah dinaik taraf.
"GRAND ARM™2" ini membolehkan pemerhatian pada resolusi spatial ultratinggi dengan analisis yang sangat sensitif ke atas julat luas voltan pecutan.

JEM-ARM200F NEOARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom

"NEOARM" / JEM-ARM200F dilengkapi dengan senapang pelepasan medan sejuk unik JEOL (FEG Sejuk) dan pembetul Cs baharu (ASCOR) yang mengimbangi penyimpangan pesanan yang lebih tinggi. Gabungan FEG Sejuk dan ASCOR membolehkan pengimejan resolusi atom bukan sahaja pada voltan pecutan 200 kV, tetapi juga voltan rendah 30 kV."NEOARM" juga dilengkapi dengan sistem pembetulan penyimpangan automatik yang menggabungkan algoritma pembetulan penyimpangan baharu JEOL untuk pembetulan penyimpangan automatik yang cepat dan tepat. Sistem ini membolehkan pengimejan resolusi atom yang lebih tinggi.

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

JEM-F200 ialah mikroskop elektron penghantaran pelepasan medan, yang menampilkan resolusi spatial yang lebih tinggi dan prestasi analisis ditambah dengan antara muka pengguna intuitif untuk operasi pelbagai guna.

Mikroskop Elektron JEM-2100Plus

JEM-2100Plus ialah mikroskop elektron penghantaran pelbagai guna, yang menggabungkan sistem optik JEM-2100 yang terbukti dengan sistem kawalan lanjutan untuk memudahkan operasi yang dipertingkatkan. Mencapai prestasi unggul melalui operasi intuitif, JEM-2100Plus menyediakan penyelesaian kepada pelbagai aplikasi daripada sains bahan kepada kajian perubatan/biologi.

Mikroskop Elektron JEM-120i

Mikroskop Elektron Penghantaran(TEM) dengan voltan pecutan 120kV digunakan secara meluas dalam bidang bahan lembut seperti biologi dan polimer. Kami baru membangunkan JEM-120i dengan konsep "Kompak", "Mudah Digunakan", dan "Boleh Diperluas". Dengan penampilan luaran yang baharu, instrumen ini telah berkembang menjadi alat berguna yang boleh digunakan oleh sesiapa sahaja dengan mudah, daripada operasi hingga penyelenggaraan.

Maklumat lanjut