JEM-F200
Elektron pelbagai guna
Mikroskop

JEM-F200 ialah mikroskop elektron penghantaran pelepasan medan baharu, yang menampilkan resolusi spatial dan prestasi analisis yang lebih tinggi, sistem operasi baharu yang mudah digunakan untuk operasi pelbagai guna, penampilan pintar, dan pelbagai sistem penjimatan tenaga yang mesra alam.

Ciri-ciri

JEM-F200 dalam gerakan (Youtube)

Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 4 minit)

Reka bentuk pintar

JEM-F200 mempunyai penampilan baharu dan halus.
Ia menggabungkan antara muka pengguna baharu yang intuitif yang direka khusus untuk mikroskop elektron analisis.
Ia juga menampilkan kestabilan mekanikal dan elektrik yang luar biasa, yang mencerminkan kepakaran kejuruteraan JEOL yang terkumpul selama ini.

Sistem kondenser Quad-Lens

Mikroskopi elektron hari ini memerlukan untuk menyokong pelbagai teknik pengimejan daripada TEM medan terang/gelap kepada STEM yang menggunakan pelbagai pengesan.
JEM-F200, dengan sistem optik pembentuk probe 4 peringkat baharunya, iaitu Sistem Pemeluwap Kanta Empat, mengawal keamatan dan sudut penumpuan pancaran elektron secara bebas, untuk bertindak balas kepada keperluan penyelidikan yang berbeza.

Sistem Imbasan Lanjutan

JEM-F200 menggabungkan sistem pengimbasan baharu, Sistem Imbasan Lanjutan, yang mampu mengimbas pancaran elektron dalam sistem pembentukan probe imej. Ini mencapai STEM-EELS medan yang luas.

Pemanduan Peringkat Pico

JEM-F200 menggunakan pemacu pentas pico, yang mampu memacu pentas dalam langkah 200 pico meter tanpa pemacu piezo, dan menggerakkan kawasan pandangan dengan julat dinamik yang luas daripada keseluruhan grid sampel kepada imej tertib atom.

SPECPORTER (pemegang automatik memuatkan/memunggah peranti)

Memuatkan/memunggah pemegang spesimen telah dianggap membawa ralat operasi manusia, terutamanya bagi pemula.
JEM-F200 menggabungkan peranti baharu, SPECPORTER, untuk memudahkan pemuatan dan pemunggahan pemegang spesimen.
Meletakkan pemegang spesimen di lokasi tertentu, dan mengaktifkan SPECPORTER dengan satu klik memastikan pemuatan dan pemunggahan selamat pemegang.

FEG sejuk dipertingkatkan

JEM-F200 menyokong senapang elektron pelepasan medan sejuk pilihan.
Menjamin kestabilan tinggi, kecerahan tinggi dan resolusi tenaga yang tinggi, senapang elektron pelepasan medan sejuk membolehkan analisis ikatan kimia oleh EELS, dan mempercepatkan proses analisis yang terhutang kepada pancaran elektron kecerahan tinggi, dan dengan meminimumkan penyimpangan kromatik yang berasal daripada penyebaran tenaga sumber elektron membolehkan pengimejan resolusi lebih tinggi.

Dwi SDD

JEM-F200 pada masa yang sama menyokong dua unit pengesan hanyutan silikon besar (SDD) sensitiviti tinggi pilihan.
SDD, yang menampilkan sensitiviti yang dipertingkatkan, membolehkan analisis EDS yang pantas sambil meminimumkan kerosakan sampel.

Mesra alam

JEM-F200 menggabungkan sistem penjimatan tenaga, mod ECO, sebagai standard untuk kali pertama dalam mana-mana mikroskop elektron penghantaran. Mod ECO direka untuk mengekalkan keadaan optimum mikroskop pada tahap minimum kadar penggunaan tenaga apabila ia tidak beroperasi.
Mod ECO boleh mengurangkan kadar penggunaan tenaga menjadi kira-kira 1/5 daripada itu untuk mod operasi biasa.
Fungsi penjadualannya boleh memulihkan keadaan kerja pada bila-bila masa yang ditentukan oleh pengguna.

spesifikasi

Muat turun Katalog

JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna

Kesesuaian

Permohonan JEM-F200

CryoNote

Analisis Asbestos – Membezakan serat halus satu demi satu–

Galeri

Bahan: STEM Resolusi Tinggi Si 110

Bahan: Helaian MoS2 lapisan mono

• Contoh: Helaian MoS2 lapisan mono

• Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG

• Keadaan: 200kV, STEM

Sains Hayat: imej TEM polimer ABS pada 80kV

• Contoh: polimer ABS

• Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG

• Keadaan: 80kV, TEM

• Penyediaan sampel: mikrotom

Bahan: FEG Sejuk yang Diperbaiki

Kecerahan tinggi dengan penyebaran tenaga yang kecil

Analisis keadaan ikatan kimia alotrop Karbon oleh EELS

Voltan Pecutan Rendah / 80kV

Contoh

a) Tiub nano karbon dinding tunggal

b) Grafit / grafit luas permukaan tinggi

c) Berlian

d) Karbon amorf

• Contoh: Alotrop karbon

• Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG

• Keadaan: 80kV, imej TEM, EELS QuantuMER

Bahan: STO/Dual SDD

• Contoh: Sr TiO

• Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG

• Keadaan: 200kV, STEM, Dual SDD（100mm2x2) 512x512

Produk Berkaitan

Kamera SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, Kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah

• Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.

• Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.

• Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.

Sistem subframe elektrostatik Relativiti

Maklumat lanjut