JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna
JEM-F200 ialah mikroskop elektron penghantaran pelepasan medan, yang menampilkan resolusi spatial yang lebih tinggi dan prestasi analisis ditambah dengan antara muka pengguna intuitif untuk operasi pelbagai guna.
Ciri-ciri
JEM-F200 dalam gerakan (Youtube)
Klik butang "Main" dalam kotak di atas dan filem akan bermula.
Pemerhatian TEM/STEM resolusi tinggi daripada voltan pecutan tinggi ke rendah
JEM-F200 menawarkan senapang elektron pelepasan medan sejuk, yang menjamin kestabilan tinggi, kecerahan tinggi dan resolusi tenaga tinggi (<0.33 eV).
Senapang elektron ini secara berkesan mencapai pengimejan resolusi lebih tinggi dengan meminimumkan penyimpangan kromatik yang berpunca daripada penyebaran tenaga sumber elektron.
Tambahan pula, dengan menggabungkan 10+ tahun kepakaran JEOL ke dalam reka bentuk, kami telah meningkatkan kestabilan mekanikal dan elektrik dengan ketara.
Analisis EDS berketepatan tinggi dan berketepatan tinggi
JEM-F200 boleh dilengkapi dengan dua Pengesan Hanyutan Silikon (SDD) kawasan besar secara serentak, memberikan analisis sensitiviti tinggi.
Kawasan yang besar dan kepekaan yang tinggi membolehkan analisis EDS yang cekap pada sebahagian kecil masa dengan kerosakan yang berkurangan.
Selain itu, menggunakan pembetulan hanyut tanpa kehilangan berkelajuan tinggi melalui imej STEM langsung semasa pemetaan EDS membolehkan pengukuran yang cekap sambil mengurangkan kerosakan sampel daripada pancaran elektron.
Analisis EELS dengan resolusi tenaga tinggi
CFEG JEM-F200 boleh mendapatkan analisis keadaan ikatan kimia dan struktur elektronik pada resolusi tenaga tinggi, mengatasi keupayaan senapang elektron pelepasan medan Schottky.
Ini dimungkinkan dengan menggabungkan senapang elektron pelepasan medan sejuk yang menjamin resolusi tenaga tinggi (<0.33 eV) dengan EELS (pilihan).
Operasi mudah dengan tekanan minimum walaupun untuk pemula
JEM-F200 dilengkapi dengan antara muka pengguna intuitif yang menekankan kemesraan pengguna.
Ia menawarkan fungsi auto yang komprehensif untuk kedua-dua TEM dan STEM, menjadikannya mudah untuk pemula untuk beroperasi.
Selain itu, untuk memudahkan pemasukan dan pengalihan pemegang sampel yang mudah, SPECPORTER™ diperbadankan, yang membolehkan pemasukan pemegang sampel yang selamat dan automatik.
Selain itu, peringkat sampel dilengkapi dengan peringkat Pico, pemacu, membolehkan pergerakan peringkat picometer yang tepat tanpa memerlukan mekanisme pemacu piezo.
Ini membolehkan pelbagai pelarasan medan pandangan, daripada keseluruhan mesh sampel kepada pengimejan peringkat atom.
Fungsi Auto
Keuntungan & offset automatik → Fokus automatik → Pembetulan astigmatisme automatik
Aliran kerja lancar daripada penyediaan sampel FIB kepada pengimejan TEM/STEM
Kartrij kecondongan dua kali dan pemegang TEM khusus memudahkan hubungan antara operasi TEM dan FIB.
Kartrij mudah dipindahkan antara pemegang FIB dan pemegang sampel TEM dengan satu sentuhan, menghapuskan keperluan untuk mengendalikan lamela TEM selepas diproses.
Mikroskop Elektron Penghantaran untuk Masyarakat Mampan
JEM-F200 ialah mikroskop elektron penghantaran pertama yang menggabungkan mod ECO secara standard. Mod ini dengan cekap mengekalkan instrumen dengan penggunaan tenaga minimum semasa tempoh tidak digunakan, menjimatkan tenaga.
Mengaktifkan mod ECO mengurangkan penggunaan tenaga kepada kira-kira satu perlima daripadanya semasa operasi biasa, menyumbang kepada masyarakat yang lebih mampan.
Selain itu, ia mempunyai fungsi penjadualan, membolehkan instrumen kembali ke keadaan yang boleh digunakan daripada mod ECO pada tarikh dan masa yang ditetapkan.
spesifikasi
| spesifikasi | Resolusi ultra tinggi | Resolusi tinggi | |
|---|---|---|---|
| resolusi TEM (pada 200 kV) |
Resolusi titik Resolusi kekisi Had maklumat |
0.19 nm 0.1 nm ≦0.11 nm (dengan FEG Sejuk) ≦0.12 nm (dengan Schottky FEG) |
0.23 nm 0.1 nm ≦0.11 nm (dengan FEG Sejuk) ≦0.12 nm (dengan Schottky FEG) |
| resolusi STEM (pada 200 kV) |
Imej HAADF-STEM | 0.14 nm (dengan FEG Sejuk) 0.16 nm (dengan Schottky FEG) |
0.14 nm (dengan FEG Sejuk) 0.16 nm (dengan Schottky FEG) |
| Pistol Elektron | Pistol elektron pelepasan medan sejuk Pistol elektron pelepasan medan jenis Schottky |
||
| Mempercepatkan voltan | 20 kV～200 kV (200 kV, 80 kV boleh dipilih sebagai lalai. Voltan pecutan lain adalah pilihan.) |
||
| Pergerakan spesimen * | X,Y ±1.0 mm Z ±0.1 mm | X,Y ±1.0 mm Z ±0.2 mm | |
| Sudut kecondongan spesimen * | TX/TY (Pemegang condong dua kali) ±25°/ ±25° TX (Pemegang kecondongan tinggi) ±60° |
TX/TY (Pemegang condong dua kali) ±35° / ±30° TX (Pemegang kecondongan tinggi) ±80° |
|
| Pilihan boleh dipasang utama | Spektroskopi sinar-X (EDS) penyebaran tenaga, spektroskopi kehilangan tenaga elektron (EELS)、 Kamera Digital, Sistem Tomografi TEM/STEM/EDS |
||
* Julat pergerakan mungkin berubah bergantung pada jenis pemegang spesimen, atau sama ada apertur objektif dimasukkan atau tidak.
Muat turun Katalog
JEM-F200 Mikroskop Elektron Serbaguna
Permohonan
Permohonan JEM-F200
Analisis Asbestos – Membezakan serat halus satu demi satu–
Galeri
Bahan: Si [110] STEM Resolusi Tinggi
Sampel: Si [110]
Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG
Keadaan: 200kV, STEM
Bahan: Lapisan Mono MoS2 lembaran
Contoh: Lapisan mono MoS2 lembaran
Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG
Keadaan: 200kV, STEM
Sains Hayat: imej TEM polimer ABS pada 80kV
Contoh: polimer ABS
Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG
Keadaan: 80kV, TEM
Penyediaan sampel: mikrotom
Galeri EDS
SrTiO3
| Contoh | Strontium Titanate |
|---|---|
| Acc. voltan | 200 kV |
| Saiz peta | 256 × 256 piksel |
Filem cat : Peta EDS Berkelajuan Tinggi
| Contoh | Filem cat |
|---|---|
| Acc. voltan | 200 kV |
| Arus siasatan | 16 na |
| Saiz peta | 256 × 256 piksel |
| Masa perolehan | 10 saat |
Zarah nano kulit teras Au/Pd
| Contoh | Zarah nano kulit teras Au/Pd |
|---|---|
| Acc. voltan | 200 kV |
| Saiz peta | 512 × 512 piksel |
Spesimen ihsan : Prof. AI Kirkland di Universiti Oxford
Dr. RD Tilley dan Dr. Anna Henning di Victoria University of Wellington
Analisis 3D Filem Cat : EDS Tomography
Peta Unsur 3D
| Contoh | Filem cat |
|---|---|
| Acc. voltan | 200 kV |
| Julat sudut kecondongan | ± 68 ° |
| Langkah sudut | 4 ° |
Analisis 3D Peranti Semikonduktor : Tomografi EDS
Peta 2D
Peta Unsur 3D
| Contoh | Peranti Semikonduktor |
|---|---|
| Acc. voltan | 200 kV |
| Julat sudut kecondongan | ± 64 ° |
| Langkah sudut | 4 ° |
Galeri Belut
Kecerahan tinggi dengan penyebaran tenaga yang kecil
Analisis keadaan ikatan kimia alotrop Karbon oleh EELS
Contoh: Alotrop karbon
Mikroskop: JEM-F200 HR sekeping tiang dengan CFEG
Keadaan: 80kV, imej TEM, EELS QuantuMER
Produk Berkaitan
Kamera CMOS Rangkaian Gentian Bunyi Rendah Siri SightSKY™ Kepekaan Tinggi
Sensor CMOS piksel 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan butiran spesimen halus dan memperoleh isyarat tinggi kepada imej hingar walaupun pada dos elektron yang rendah. Pengatup global dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa kajian pemerhatian dinamik dalam-situ. Sistem kamera Platform Bersepadu SightSKY™ menawarkan JEOL™, Analisis Platform JEOL™. operasi mesra pengguna dan pemerolehan data.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.