JEM-2200FS
Elektron Pelepasan Medan
Mikroskop
JEM-2200FS, mikroskop elektron analitikal terkini, dilengkapi dengan senapang pelepasan medan (FEG) 200kV dan penapis tenaga dalam lajur (penapis Omega) yang membolehkan imej kehilangan sifar, di mana elektron tidak anjal dihapuskan, menghasilkan imej yang jelas dengan kontras yang tinggi. Dan imej ditapis tenaga yang terbentuk dengan elektron pada kehilangan rendah atau tenaga kehilangan teras memberikan keadaan kimia atau maklumat unsur sampel. Juga, spektroskopi untuk analisis unsur dan analisis kimia spesimen tersedia.
Ciri-ciri
Penapis tenaga dalam lajur (penapis Omega)
Penapis tenaga dalam lajur membolehkan anda memperoleh imej yang ditapis tenaga dan spektrum kehilangan tenaga elektron. Penapis yang direka bentuk secara optimum menyediakan imej ditapis tanpa herotan.
Sistem kawalan
Komponen utama JEM-2200FS, seperti sistem optik, peringkat goniometer dan sistem pemindahan, dikawal sepenuhnya oleh PC. Sistem ini secara stabil menghasilkan data berkualiti tinggi.
Sistem pengimejan
Sistem pengimejan baharu, yang terdiri daripada kanta perantaraan empat peringkat dan kanta projektor dua peringkat, mencapai imej TEM yang ditapis tenaga tanpa putaran dan corak pembelauan ke atas pelbagai pembesaran dan panjang kamera.
Goniometer dikawal piezo
Peringkat goniometer baharu yang menggabungkan peranti piezo menawarkan operasi lancar untuk mencari medan pandangan pada peringkat atom.
Integrasi kepada instrumen lain
Mikroskop boleh dikawal sepenuhnya dengan PC. Konsep reka bentuk membolehkan kami menyepadukan sistem EDS dan kamera CCD.
spesifikasi
| konfigurasi※ 1 | Resolusi ultratinggi （UHR） |
Resolusi tinggi （HR） |
Kecondongan spesimen tinggi （HT） |
Cryo (CR) |
Kontras Tinggi （HC） |
|---|---|---|---|---|---|
| Resolusi | |||||
| Titik Lattice |
0.19 nm 0.1 nm |
0.23 nm 0.1 nm |
0.25 nm 0.1 nm |
0.27 nm 0.14 nm |
0.31 nm 0.14 nm |
| Resolusi Tenaga | 0.8 eV（FWHM kehilangan sifar） | ||||
| Acc. voltan | 160 kV, 200 kV※ 2 | ||||
| Saiz langkah minimum Peralihan tenaga |
50 V 3,000 V maksimum (dalam 0.2 V langkah) |
||||
| Sumber elektron | |||||
| Pemancar | ZrO/W(100) Schottky | ||||
| Kecerahan | ≧4×108 A／cm2 ・ sr | ||||
| Vakum | × 10-8 Pa order | ||||
| Arus siasatan | 0.5 nA pada probe 1 nm | ||||
| Kestabilan Kuasa | |||||
| Acc. voltan | ≦1×10-6／min | ||||
| Arus OL | ≦1×10-6／min | ||||
| Penapis arus | ≦1×10-6／min | ||||
| Lensa Objektif | |||||
| Panjang fokus | 1.9 mm | 2.3 mm | 2.7 mm | 2.8 mm | 3.9 mm |
| Sfera penyelewengan |
0.5 mm | 1.0 mm | 1.4 mm | 2.0 mm | 3.3 mm |
| Chromatic penyelewengan |
1.1 mm | 1.4 mm | 1.8 mm | 2.1 mm | 3.0 mm |
| Langkah minimum | 1.0 nm | 1.4 nm | 1.8 nm | 2.0 nm | 5.2 nm |
| Saiz Bintik (diameter) | |||||
| Mod TEM | 2 hingga 5 nm | 30 hingga XNUMX nm | |||
| mod EDS | 0.5 hingga 2.4 nm | 1.0 hingga 2.4 nm | - | 4 hingga 20 nm | |
| Mod NBD | - | - | |||
| Mod CBD | 1.0 hingga 2.4 nm | - | |||
| pembelauan CB | |||||
| Penumpuan sudut(2α) |
1.5 hingga 20 mrad atau lebih | - | |||
| Sudut penerimaan | ± 10 ° | - | |||
| Pembesaran | |||||
| Mod MAG | ×2,000 hingga 1,500,000 | ×2,000 hingga 1,200,000 | ×1,500 hingga1,000,000 | ×1,200 hingga600,000 | |
| Mod MAG RENDAH | ×50 hingga1,500 | ||||
| Mod SA MAG | ×10,000 hingga800,000 | ×8,000 hingga 600,000 | ×8,000 hingga500,000 | ×5,000 hingga 400,000 | |
| Saiz medan pandangan untuk imej yang dipilih tenaga | 80 mm dia. pada satah imej akhir (filem) apabila 10 eV dipilih 25 mm dia. pada satah imej akhir (filem) apabila 2 eV dipilih |
||||
| Panjang Kamera | |||||
| pembelauan SA | 150 hingga 1,500mm | 200 hingga2,000 mm | 250 hingga2,500 mm | 300 hingga3,000 mm | |
| Penyerakan belut | |||||
| pada celah | 1.2 μm／eV pada 200 kV | ||||
| Pada satah imej akhir | 50 hingga 300 μm／eV pada 200 kV | ||||
| ruang spesimen | |||||
| Shift(XY / Z) | 2mm／0.2mm | 2mm／0.4mm | 2mm／0.4mm | 2mm／0.4mm | 2mm／0.4mm |
| Condongkan spesimen X / Y *3 | ±25°／±25° | ±35°／±30° | ±42°／±30° | ±15°／±10° | ±38°／±30° |
| Sudut kecondongan spesimen(X)※ 4 | ± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| EDS※ 5 | |||||
| Sudut pepejal※ 6 | 0.13 sr | - | 0.09 sr | ||
| Sudut berlepas | 25 ° | - | 20 ° | ||
Pilih sama ada konfigurasi semasa memesan JEM-2200FS.
80 kV, 100 kV dan 120 kV menjadi mungkin apabila menggunakan suis litar pintas pilihan untuk tiub pecutan.
Apabila Pemegang Tilting Spesimen digunakan.
Apabila Penahan Spesimen Kecondongan Tinggi digunakan.
Pengesan EDS pilihan diperlukan.
Apabila 30 mm2 pengesan dipasang.
Muat turun Katalog
Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2200FS
Kesesuaian
Permohonan JEM-2200FS
Visualisasi ikatan hidrogen: Elektron dan nano-kristalografi NMR
Meneroka Sampel Biologi dalam 3D Melangkaui Tomografi Elektron Klasik
Pemetaan Unsur Resolusi Atom oleh EELS dan XEDS dalam STEM Diperbetulkan Aberration
Galeri
Produk Berkaitan
Kamera SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, Kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah
Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.
Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.
Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.