JEM-ARM300F GRAND ARM Mikroskop Elektron Resolusi Atom
DISCONTINUED
Resolusi STEM-HAADF yang tidak pernah berlaku sebelum ini – 58 petang
JEM-ARM300F GRAND ARM ialah Mikroskop Elektron Resolusi Atom yang menawarkan voltan pecutan maksimum 300 kV, dan dilengkapi dengan Pembetul Cs JEOL sendiri. Instrumen ini menjamin peleraian imej STEM-HAADF yang belum pernah berlaku sebelum ini sebanyak 58 petang.
Ciri-ciri
Merealisasikan resolusi STEM-HAADF yang tidak pernah berlaku sebelum ini pada 58pm※ 1
Pembetulan STEM Cs proprietari JEOL memberikan resolusi dijamin 58 petang untuk mengimbas imej mikroskop elektron penghantaran (imej STEM) (voltan memecut 300 kV) *1 （apabila pembetulan penyimpangan sfera STEM dikonfigurasikan）.
Apabila dilengkapi dengan sekeping tiang resolusi super tinggi
Pembetul ETA - Pembetulan penyimpangan kutub dodeca JEOL sendiri ※pilihan
Pembetul ETA (Pembetul Penyimpangan Trajektori Mengembangkan) terdiri daripada kutub dodeka dan mengembang oleh JEOL.
Pembetul aberasi sfera STEM dan/atau pembetul aberasi TEM boleh dikonfigurasikan. Konfigurasi tanpa pembetul juga tersedia.
HyperCF300 - Pistol FE sejuk berprestasi tinggi
Pistol pelepasan medan sejuk yang baru direka bentuk, berprestasi tinggi, dilengkapi dalam konfigurasi standard. Rasuk elektron kecerahan tinggi dengan penyebaran tenaga sempit menyediakan pemerhatian dan analisis resolusi tinggi.
Dua jenis sekeping tiang kanta objektif
Dua jenis bahagian tiang kanta objektif dengan ciri unik telah dibangunkan untuk menyokong pelbagai permintaan pengguna.
Sistem pengesan ※pilihan
EDS sudut pepejal besar (Energy-dispersive X-ray spectrometer), EELS (Electron energy loss spectrometer), pengesan elektron berselerak belakang dan 4 jenis pengesan cerapan STEM tersedia.
Pelbagai tetapan voltan pecutan
Voltan pecutan 300 kV dan 80 kV disediakan dalam konfigurasi standard. Sebagai pilihan, voltan pecutan boleh dipilih dalam julat dari 40 kV hingga 300 kV untuk disesuaikan untuk bidang aplikasi yang luas.
Sistem vakum yang baru dibangunkan
Tahap vakum yang tinggi dicapai dengan sistem pemindahan baharu. Pam turbo-molekul digunakan untuk sistem pra-pemindahan. Ini meminimumkan pencemaran spesimen, menghasilkan pemerhatian dan analisis pada resolusi tahap atom.
Lajur dan pentas yang sangat stabil
Teknologi penstabilan digunakan pada JEM-ARM300F, termasuk lajur diameter 330 mm untuk kekukuhan mekanikal yang dipertingkatkan, serta kestabilan dan ketahanan mekanikal dan elektrik yang dipertingkatkan secara keseluruhan.
spesifikasi
2018/01/15
| STEM
(dengan Pembetul STEM) |
Konfigurasi UHR | Konfigurasi HR |
|---|---|---|
| Resolusi@300 kV (HAADF) | 0.058 nm | 0.063 nm |
| TEM
(dengan TEM Corrector) |
Konfigurasi UHR | Konfigurasi HR |
| Resolusi Kekisi | 0.05 nm | 0.06 nm |
| (Bukan linear) had maklumat
(UJIAN pinggiran muda dengan spesimen tebal) |
0.06 nm | 0.07 nm |
| had maklumat (linear).
(UJIAN FFT 3D atau spesimen nipis) |
0.09 nm | 0.12 nm |
Penambahbaikan atau perubahan pada penampilan atau spesifikasi peranti mungkin dilakukan tanpa notis.
Muat turun Katalog
JEM-ARM300F GRAND ARM Mikroskop Elektron Resolusi Atom
Kesesuaian
Permohonan JEM-ARM300F
Analisis Struktur Peranti Semikonduktor dengan Menggunakan Tomografi STEM/EDS
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.