IMC20, Kongres Mikroskopi Antarabangsa ke-20
Tarikh: 2019/01/30
JEOL akan membuat pameran di IMC20, yang akan diadakan di BEXCO (Busan, Korea) dari 10 September (Ahad) hingga 15 (Jumaat),
2023. Kami akan menyediakan maklumat berguna tentang teknologi baharu dan teknik praktikal yang merangkumi pelbagai bidang.
Selain itu, pelbagai segmen maklumat produk akan disediakan di tempat itu: tiruan JEM-ACE200F-TEM untuk semikonduktor, seminar gerai dan demonstrasi jauh.
Kami tidak sabar-sabar untuk melihat anda di IMC20.
Tarikh / Tempat
Tarikh:
Ahad, 10 September - Jumaat, 15 September 2023
Tempat:
BEXCO, Busan, KOREA
Peta
Nombor Booth:
S03/S04, Dewan 1, Pusat Pameran 1
Pamerkan maklumat produk
Booth Seminar
Penceramah jemputan
Perjalanan Cryo-EMing di Korea
Ji-Joon Song
Profesor
Jabatan Sains Biologi
Institut Sains dan Teknologi Lanjutan Korea (KAIST)
Daejeon, Korea
Beliau lulus dari Universiti Kebangsaan Seoul dan memperoleh Ph.D. di Cold Spring Harbour Laboratory dan merupakan felo penyelidik di Harvard Medical School, Massachusetts General Hospital, Boston.
MARS -Penerokaan Dunia Nanomagnet-
Naoya Shibata
Institut Inovasi Kejuruteraan
Universiti Tokyo
Beliau menerima PhD dalam Sains Bahan pada tahun 2003 di Universiti Tokyo. Beliau adalah Felo Penyelidik JSPS di Makmal Kebangsaan Oak Ridge (2003-2004) di Amerika Syarikat. Kemudian, Beliau menyertai Institut Inovasi Kejuruteraan di Universiti Tokyo dari 2004 dan beliau menjadi Profesor di sana dari 2017. Penyelidikan beliau memberi tumpuan kepada pembangunan teknik pengimejan baharu dalam mengimbas mikroskop elektron penghantaran dan aplikasinya untuk kajian antara muka dalam bahan dan peranti . Beliau telah mengarang atau mengarang bersama lebih daripada 300 penerbitan dalam jurnal berwasit. Kepujiannya termasuk Hadiah Akademi Jepun (2023). Hadiah Inoue untuk Sains (2023), Hadiah JSPS (2019), Anugerah Richard M. Fulrath, Persatuan Seramik Amerika (2018), Anugerah Nagase ke-5 (2015), Hadiah Seto ke-60, Persatuan Mikroskop Jepun (2015), Anugerah Sir Martin Wood ke-15 (2013), Hadiah Kazato ke-6 (2013).
Jadual
Isnin, 11 September
|
Masa |
Speaker |
Title |
|
10: 30 ke 11: 00 |
KS Han |
Memperkenalkan Schottky FE-SEM dengan kebolehkendalian tinggi dan EDS tanpa tingkap meliputi semua rangkaian KV |
|
12: 30 ke 13: 00 |
Gaya filem |
Analisis keadaan kimia elektrod negatif Si dalam keadaan bercas menggunakan SEM-SXES |
|
13: 00 ke 13: 30 |
Yuhei Nakajima |
Pengenalan JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i |
|
15: 30 ke 16: 00 |
Noriaki Endo |
Teknologi Termaju Sistem TEM/STEM Automatik Semikonduktor ”JEM-ACE200F” |
Selasa, 12 September
| Masa | Speaker | Title |
| 10: 30 ke 11: 00 | Gaya filem |
Analisis keadaan kimia elektrod negatif Si dalam keadaan bercas menggunakan SEM-SXES |
| 12: 30 ke 13: 00 | Eiji Okunishi | Pengenalan platform analitik bersepadu ”FEMTUS" |
| 13: 00 ke 13: 30 |
KAIST Profesor Ji-Joon Song |
Perjalanan Cryo-EMing di Korea |
| 15: 30 ke 16: 00 | Yuhei Nakajima |
Pengenalan JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i |
Rabu, 13 September
| Masa | Speaker | Title |
| 10: 30 ke 11: 00 | KS Han | Memperkenalkan Schottky FE-SEM dengan kebolehkendalian tinggi dan EDS tanpa tingkap yang meliputi semua julat KV |
| 12: 30 ke 13: 00 | Hiroki Hashiguchi | Pengenalan Kaedah Pemerhatian dan Analisis Baharu dengan Lampiran Terkini |
| 13: 00 ke 13: 30 |
Universiti Tokyo Profesor Naoya Shibata |
MARS -Penerokaan Dunia Nanomagnet- |
| 15: 30 ke 16: 00 | Yuhei Nakajima | Pengenalan JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i |
Khamis, 14 September
| Masa | Speaker | Title |
| 10: 30 ke 11: 00 | Gaya filem | Analisis keadaan kimia elektrod negatif Si dalam keadaan bercas menggunakan SEM-SXES |
| 12: 30 ke 13: 00 | KS Han | Memperkenalkan Schottky FE-SEM dengan kebolehkendalian tinggi dan EDS tanpa tingkap meliputi semua rangkaian KV |
| 13: 00 ke 13: 30 | Yuhei Nakajima | Pengenalan JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i |
Demo Jauh ＆ pameran mock-up
Demonstrasi Jauh TEM JEM-ACE200F untuk semikonduktor akan diadakan setiap hari.
Mikroskop Elektron Analitikal JEM-ACE200F Tinggi
Isnin, 11 September
| Masa | Title |
| 12: 30 ke 13: 30 | Mikroskop Elektron Analitikal JEM-ACE200F Tinggi |
Selasa, 12 September
| Masa | Title |
| 12: 30 ke 13: 30 | Mikroskop Elektron Analitikal JEM-ACE200F Tinggi |
Rabu, 13 September
| Masa | Title |
| 12: 30 ke 13: 30 | Mikroskop Elektron Analitikal JEM-ACE200F Tinggi |
Khamis, 14 September
| Masa | Title |
| 12: 30 ke 13: 30 | Mikroskop Elektron Analitikal JEM-ACE200F Tinggi |
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.