Analisis Struktur Nano Permukaan dalam Angle Resolved Auger-XPS Analisis permukaan sensitiviti tinggi menggunakan ARXPS
Spektroskopi fotoelektron sinar-X yang diselesaikan sudut (ARXPS) ialah teknik untuk mengawal kedalaman pengesanan sampel dengan menukar sudut kecondongan sampel dengan merujuk kepada penganalisis. Tidak seperti pemprofilan kedalaman dengan percikan ion, ARXPS mampu menganalisis kawasan yang tidak merosakkan jauh ke dalam kedalaman pelepasan fotoelektron. Data yang diperoleh dalam ARXPS menentukan perkara berikut:
-
Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik. -
PDF 141.5KB
Produk Berkaitan
Rumusan berdasarkan bidang
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.