JEM-ARM200F
Resolusi Atom NEOARM
Mikroskop Elektron Analitik
"NEOARM" / JEM-ARM200F dilengkapi dengan senapang pelepasan medan sejuk unik JEOL (FEG Sejuk) dan pembetul Cs baharu (ASCOR) yang mengimbangi penyimpangan pesanan yang lebih tinggi. Gabungan FEG Sejuk dan ASCOR membolehkan pengimejan resolusi atom bukan sahaja pada voltan pecutan 200 kV, tetapi juga voltan rendah 30 kV.
"NEOARM" juga dilengkapi dengan sistem pembetulan aberasi automatik yang menggabungkan algoritma pembetulan aberasi baharu JEOL untuk pembetulan aberasi automatik yang cepat dan tepat. Sistem ini membolehkan pengimejan resolusi atom yang lebih tinggi.
Tambahan pula, pengesan STEM baharu yang memberikan kontras elemen cahaya yang dipertingkatkan digabungkan sebagai unit standard. Peningkatan kontras unsur cahaya dicapai dengan teknik pengimejan STEM baharu (e-ABF: ABF dipertingkat), memudahkan pemerhatian bahan unsur cahaya, walaupun pada voltan pecutan rendah.
Bilik mikroskop diasingkan dari bilik operasi untuk bertindak balas kepada operasi jauh. Selain itu, warna konsep baharu produk JEOL iaitu "putih tulen" dan "perak JEOL" diguna pakai, membawa kepada reka bentuk luaran yang canggih "NEOARM".
Ciri-ciri
Ciri 1
Pembetulan penyimpangan sfera (Cs) ASCOR (Pembetul STEM Lanjutan)
ASCOR yang digabungkan dalam "NEOARM" boleh menyekat astigmatisme enam kali ganda yang mengehadkan resolusi selepas pembetulan Cs.
Gabungan ASCOR dan Cold FEG memberikan penyimpangan kromatik yang rendah dan mengembangkan had pembelauan, mencapai resolusi yang lebih tinggi daripada sebelumnya.
GaN [211]:200 kV
Si [110]:80 kV
Grafena (lapisan mono):30 kV
Imej STEM oleh kofigurasi UHR
Imej ADF-STEM resolusi atom, corak FFT dan imej Ronchigram, diperoleh pada 200kV, 80kV dan 30kV
Ciri 2
Perisian pembetulan penyimpangan automatik JEOL COSMO™ (Modul Sistem Pembetulan)
JEOL COSMO™ menggunakan algoritma pembetulan penyimpangan baharu (SRAM: Matriks fungsi korelasi Auto Ronchigram Bersegmen). Oleh itu, tiada sampel khas diperlukan untuk pembetulan penyimpangan, yang membawa kepada pembetulan ketepatan tinggi dan cepat bagi penyimpangan tertib yang lebih tinggi. Sistem ini membolehkan pemprosesan pantas berbanding dengan algoritma pembetulan konvensional dan juga mengautomasikan operasi, sekali gus menghapuskan aliran kerja pembetulan yang rumit dalam mikroskop pelanggan. Ciri-ciri ini membolehkan pengimejan resolusi atom yang lebih tinggi.
Sampel: Si[110]
Voltan pecutan: 200 kV
Ciri 3
Sistem pengesan ABF (Annular Bright Field) baharu
Pengesan ABF digunakan secara meluas sebagai teknik yang sesuai untuk pengimejan elemen cahaya resolusi tinggi. "NEOARM" menyokong kontras elemen cahaya yang dipertingkatkan oleh teknik pengimejan ABF yang direka bentuk baharu (e-ABF：ABF dipertingkatkan).
Keupayaan ini memudahkan pemerhatian struktur aras atom bahan yang mengandungi unsur cahaya.
Rujukan: SD Findlay, Y.Kohno, LA Cardamone, Y.Ikuhara, N.Shibata, Ultramicroscopy 136 (2014)31-41.
Ciri 4
Pengesan penglihatan yang sempurna
Pengesan penglihatan yang sempurna, disepadukan ke dalam "NEOARM", menggunakan scintillator hibrid.
Pengesan ini sentiasa membolehkan pemerolehan imej STEM kontras tinggi dan kuantitatif, tanpa mengira tetapan voltan yang mempercepatkan.
Ciri 5
Sistem OBF (Pilihan) *
Dalam kaedah pengimejan baru 'OBF STEM (STEM Medan Cerah Optimum)', imej mentah yang diperoleh oleh pengesan STEM bersegmen digunakan sebagai sumber untuk pembinaan semula imej fasa, dengan penapis Fourier khusus untuk memaksimumkan nisbah isyarat kepada bunyi bagi imej yang diambil.
Kaedah yang menjanjikan ini merealisasikan kontras yang lebih tinggi untuk kedua-dua unsur berat dan ringan walaupun semasa beroperasi dalam keadaan dos elektron yang sangat rendah. Bahan sensitif rasuk yang sukar diperhatikan dengan kaedah ADF dan ABF STEM standard boleh dianalisis dengan mudah dengan kontras yang lebih tinggi pada julat pembesaran yang luas.
K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramikroskopi 220, 113133 (2021)
Pengimejan Dos Rendah STEM
Bahan sensitif rasuk termasuk Rangka Kerja Organik Logam (MOF) dan Zeolit memerlukan dos elektron yang dikurangkan (biasanya, arus siasatan < 1.0 pA) sambil mengekalkan kontras atom yang jelas untuk rangka unsur cahaya.
OBF STEM mempunyai kelebihan untuk eksperimen dos rendah sedemikian, merealisasikan pengimejan STEM cekap dos ultra tinggi dalam resolusi atom.
Kedua-dua OBF STEM Image MOF MIL-101(kiri) dan MFI Zeolite (kanan) diperoleh dalam satu tangkapan dan resolusi spatial tinggi 1 Å juga boleh diperhatikan pada corak FFT dalam inset kanan. Selain itu, purata imej tindanan (sisipan kiri) mengesahkan bahawa resolusi dan kontras adalah sangat seimbang.
Contoh : MOF MIL-101
Instrumen : JEM-ARM300F2
Voltan Pecutan : 300 kV
Tumpuan Separuh sudut : 7 mrad
Arus siasatan : < 0.15 pA
Insets) Corak FFT dan imej purata 50 bingkai
Contoh ihsan Prof. Zhenxia Zhao, Universiti Guangxi
Sampel : Zeolit MFI
Instrumen : JEM-ARM300F2
Voltan Pecutan : 300 kV
Tumpuan Separuh sudut : 16 mrad
Arus siasatan : 0.5 pA
Sisipan) Corak FFT
Pengimejan Kontras Tinggi untuk Elemen Cahaya
Selain cekap dos, OBF STEM juga berfaedah untuk pengimejan unsur cahaya.
Walaupun dalam voltan pecutan yang lebih rendah, kedua-dua kontras yang lebih tinggi dan resolusi spatial boleh dicapai untuk elemen cahaya.
Sampel : GaN [110]
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 60 kV
Tumpuan Separuh sudut : 35 mrad
Contoh : Graphene
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 60 kV
Tumpuan Separuh sudut : 35 mrad
Resolusi untuk elemen cahaya menjadi lebih baik dengan voltan pecutan yang lebih tinggi.
Setiap lajur atom kini dipisahkan dengan jelas dengan resolusi sub-angstrom dalam di dalam struktur kompleks atau di sepanjang paksi kristalografi indeks yang lebih tinggi.
Kualiti OBF STEM sangat baik dalam keadaan dos yang rendah, dan dipertingkatkan lagi di bawah keadaan probe standard mikroskop elektron diperbetulkan Cs.
Sampel : β-Si3N4 [0001]
Instrumen : JEM-ARM200F
Voltan Pecutan : 200 kV
Tumpuan Separuh sudut : 24 mrad
Inset) 10 bingkai dipuratakan
Sampel : GaN [211]
Instrumen : JEM-ARM300F2
Voltan Pecutan : 300 kV
Tumpuan Separuh sudut : 32 mrad
Inset) 20 bingkai dipuratakan
e-ABF (ABF dipertingkat) tidak tersedia dalam konfigurasi Quad SAAF.
Pengimejan OBF Langsung
Dalam percubaan sebenar, pengimejan OBF langsung adalah asas untuk bahan sensitif rasuk kerana semua operasi harus dilakukan dalam keadaan terhad dos. Fungsi langsung disertakan dalam sistem OBF, dilaksanakan dalam perisian kawalan TEM, dengan kawalan GUI mudah dan kemas kini paparan masa nyata bersama imej STEM konvensional.
Movie
Pemerhatian langsung imej OBF-STEM dengan JEM-ARM200F
◆Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (kira-kira 1 min.)◆
spesifikasi
| Resolusi※ 1 | Imej HAADF STEM 70 malam (200 kV), 100 malam (80 kV), 160 malam (30 kV) Had maklumat TEM 100 malam (200 kV), 110 malam (80 kV), 250 malam (30 kV) |
|---|---|
| Pistol elektron | Pistol pelepasan medan sejuk (FEG Sejuk): standard |
| Pembetulan penyimpangan | BATANG: NEO ASCOR HOAC※ 2, TEM: CETCOR dengan DSS※ 3 |
| Sistem penalaan auto pembetul | Sistem penalaan automatik NEO JEOL COSMO™ Lagu Ad-hock (SIAM) terbina dalam |
| Mempercepatkan voltan | 30 hingga 200 kV (80, 200 kV : standard, 30, 60, 120 kV : pilihan) |
| Mod bebas medan magnet | Tetapan lensa Lorentz (×50 hingga 80 k pada skrin): standard |
| Sistem pergerakan spesimen | X, Y dan Z pemacu mekanikal super halus, pemacu peranti piezo ultra halus: standard |
| Jenis operasi | RDS※ 4 operasi |
UHR (UHR dengan pembetulan STEM/TEM Cs dikonfigurasikan)
HOAC (Pembetul penyimpangan pesanan tinggi)
DSS (sistem DeScan)
RDS (Gaya dibahagikan bilik)
Muat turun Katalog
JEM-ARM200F NEOARM Mikroskop Elektron Analitik Resolusi Atom
Kesesuaian
Aplikasi JEM-ARM200F_NEOARM
Produk Berkaitan
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.