JEM-3200FS Mikroskop Elektron Penapis Tenaga Pelepasan Medan
DISCONTINUED
Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-3200FS dilengkapi dengan senapang elektron pelepasan medan voltan pecutan 300 kV dan penapis tenaga dalam lajur yang menunjukkan prestasi tinggi. Mikroskop elektron ini menawarkan penyelesaian untuk pelbagai penyelidikan biologi dan bahan.
Ciri-ciri
Penapis tenaga dalam lajur (penapis Omega)
Penapis tenaga dalam lajur, terbina dalam sistem kanta pengimejan, memungkinkan julat pembesaran yang setanding dengan yang diperoleh dengan mikroskop elektron konvensional, dan menjadikan imej yang ditapis tenaga dan spektrum kehilangan tenaga mudah diperoleh. Sistem optik elektron penapis tenaga (penapis omega) direka untuk meminimumkan herotan imej, dan tambahan pula, herotan sisa akhirnya dihapuskan di kilang sebelum penghantaran.
Sistem kamera sensitiviti tinggi pilihan dan sistem pemprosesan imej pilihan memungkinkan pembinaan sistem pemetaan unsur dan sistem spektroskopi kehilangan tenaga.
Sistem kawalan baharu
Mengsistemkan fungsi asas mikroskop elektron, seperti pistol elektron, sistem optik elektron, goniometer, dan sistem pemindahan merealisasikan sistem kawalan prestasi tinggi yang sangat stabil.
Penggunaan Windows®*1 untuk skrin imej dan antara muka pengguna memungkinkan pengaturcaraan operasi dan kawalan pusat lampiran.
Goniometer baharu
Goniometer bersistem baharu dengan elemen pemanduan piezoelektrik menunjukkan banyak peningkatan dalam anjakan spesimen pada pembesaran tinggi*2.
Notis:Windows ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.
Hanya elemen piezoelektrik sahaja yang termasuk dalam unit asas. Bekalan kuasa untuk elemen piezoelektrik adalah pilihan.
spesifikasi
| konfigurasi※ 1 | Resolusi ultratinggi （UHR） |
Resolusi tinggi （HR） |
Kecondongan spesimen tinggi （HT） |
kontras tinggi （HC） |
|---|---|---|---|---|
| Resolusi(nm) | ||||
| Titik Lattice |
0.17 0.1 |
0.19 0.1 |
0.21 0.1 |
0.26 0.14 |
| Resolusi Tenaga | 0.9 eV（kehilangan sifar FWHM） | |||
| Voltan Mempercepat | 300kV, 200kV, 100kV※ 2 | |||
| Saiz langkah Peralihan tenaga |
100V minimum 3,000 V maksimum (0.2 V langkah) |
|||
| Sumber elektron | ||||
| Pemancar | ZrO/W(100) Pemancar Schottky | |||
| Kecerahan | ≧7×108 A／cm2・sr | |||
| Vakum | Lebih kurang 3 × 10-8Pa | |||
| Arus siasatan | 0.5nA untuk siasatan 1nm | |||
| Kestabilan Kuasa | ||||
| Acc. voltan | 2 × 10-6／min | |||
| Arus OL | 1 × 10-6／min | |||
| Arus kanta penapis | 1 × 10-6／min | |||
| Lensa Objektif | ||||
| Panjang fokus | 2.7 mm | 3.0 mm | 3.5 mm | 3.9 mm |
| Penyimpangan sfera | 0.6 mm | 1.1 mm | 1.4 mm | 3.2 mm |
| Penyimpangan kromatik | 1.5 mm | 1.8 mm | 2.2 mm | 3.0 mm |
| Langkah minimum | 1.0 nm | 1.4 nm | 1.5 nm | 4.1 nm |
| Saiz Bintik (nm φ dalam diameter) | ||||
| Mod TEM | 2 untuk 5 | 2 untuk 5 | 7 untuk 30 | |
| mod EDS | 0.4 untuk 1.6 | 0.5 untuk 2.4 | 4 untuk 20 | |
| Mod NBD | 0.4 untuk 1.6 | 0.5 untuk 2.4 | - | |
| Mod CBD | 0.4 untuk 1.6 | 0.5 untuk 2.4 | - | |
| Parameter untuk Pembelauan rasuk Konvergen | ||||
| Sudut penumpuan(2α) | 1.5 hingga 20 mrad | - | ||
| Sudut penerimaan | ± 10 ° | - | ||
| Pembesaran | ||||
| Mod MAG | ×2,500 hingga 1,500,000 | ×2,000 hingga 1,200,000 | ×1,500 hingga 1,200,000 | |
| Mod MAG RENDAH | ×100 hingga 3,000 | |||
| Mod SA MAG | ×8,000 hingga 600,000 | ×6,000 hingga 500,000 | ×5,000 hingga 500,000 | |
| Bidang View | Lebar celah pada 10 eV 60 mm (pada permukaan filem) Lebar celah pada 2 eV 25 mm (pada permukaan filem) |
|||
| Panjang Kamera | ||||
| pembelauan SA | 200 hingga 2,000 mm | 250 hingga 2,500 mm | 400 hingga 3,000 mm | |
| Penyerakan belut | ||||
| Pada celah pemilihan tenaga | 0.85 μm/eV pada 300 kV | |||
| Pada permukaan filem | 100 hingga 220 μm/eV pada 300kV | |||
| Ruang Spesimen | ||||
| Julat perjalanan spesimen (X,Y;Z)(mm) | X,Y : 2 Z : 0.2 |
X,Y : 2 Z : 0.4 |
||
| Kecondongan spesimen (X/Y) | ±25°／±25°※ 3 | ±35°／±30°※ 3 | ±42°／±30°※ 3 | ±38°／±30°※ 3 |
| EDS※ 4 | ||||
| Sudut pepejal | 0.13 sr | 0.09 sr | ||
| Sudut berlepas | 25 ° | 20 ° | ||
Tentukan sama ada konfigurasi (UHR, HR, HT atau HC) apabila memesan JEM-3200FS.
100 kV dan 200 kV menjadi mungkin apabila menggunakan suis litar pintas pilihan untuk tiub pecutan.
Apabila Pemegang Tilting Spesimen (EM-31630) digunakan.
EDS pilihan diperlukan. Spesifikasi digunakan untuk 30 mm2 pengesan.
Kesesuaian
Permohonan JEM-3200FS
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.