JEM-2800 Mikroskop Elektron Kapasiti Tinggi
DISCONTINUED
JEM-2800 ialah TEM/STEM serba boleh yang menawarkan kebolehgunaan yang unggul, pada masa yang sama mencapai resolusi tinggi, pemprosesan tinggi dan analisis yang sangat sensitif.
Ciri-ciri
Pelbagai mod pemerhatian, termasuk SEM, sesuai untuk sebarang jenis spesimen
Sistem optik elektron yang baru direka menawarkan kedua-dua pemerhatian resolusi tinggi dan analisis throughput tinggi. JEM-2800 menampilkan pensuisan pantas antara mod cerapan TEM, STEM, SEM dan Difraksi Elektron, dan juga membolehkan pemerhatian di dalam bilik yang terang. Dalam mod imej pengimbasan, seseorang boleh memerhati imej STEM-BF, STEM-DF dan SE secara serentak. Fungsi ini membolehkan pengendali mendapatkan pelbagai maklumat spesimen pada julat luas pembesaran yang meninjau kawasan yang luas kepada sub-struktur nano.
Persekitaran operasi disokong oleh Automasi dan Navigasi
JEM-2800 menyediakan pelbagai fungsi automatik termasuk pelarasan kontras dan kecerahan, pelarasan ketinggian spesimen (Z), penjajaran orientasi kristal, pemfokusan dan pembetulan astigmatisme. Sebaliknya, sistem navigasi JEM-Navi™, yang menyediakan prosedur standard melalui filem untuk operasi mikroskop, membolehkan kami memperoleh hasil yang boleh dihasilkan semula, tanpa menyentuh tahap kemahiran pengendali. Dengan sistem vakum berasaskan TMP yang digabungkan sebagai standard, masa pertukaran spesimen dikurangkan menjadi kira-kira 30 saat.
Analisis kelajuan tinggi dengan kawasan besar 100mm2 SDD (Dual SDD)
Analisis throughput tinggi dicapai dengan kawasan luas JEOL sendiri (100mm2) Pengesan Hanyutan Silikon (SDD)*1. Sistem pengesanan ini menjamin sudut pepejal yang besar, tanpa mementingkan prestasi asas mikroskop, membolehkan analisis sinar-X yang lebih cepat dan cekap daripada model sebelumnya. Selain itu, pemilihan diameter probe optimum yang sesuai dengan spesimen dan/atau ukuran tertentu membolehkan kami menganalisis dengan lebih cepat dan tepat.
*1 : pilihan
Sistem pengurusan data dan alat sokongan penulisan laporan
Menjawab banyak permintaan daripada pengguna kami, kami telah membangunkan sistem pengurusan data keseluruhan, yang membolehkan anda membuat laporan pantas untuk keputusan. Imej dan data analisis yang diperoleh dipindahkan secara automatik ke perisian pengurusan bersepadu - "Pusat Imej" *2 melalui LAN. Dengan mengakses data daripada PC Pelanggan, pengukuran menggunakan "Image Excite" *2 dan analisis zarah menggunakan "Pusat Tolok Wilayah" *2, mampu melaksanakan dan laporan untuk keputusan dihasilkan menggunakan program susun atur data "Laporan Imej"*2
*2 : produk SYSTEM INFRONTIER INC.
spesifikasi
| Resolusi | |
|---|---|
| SEM（tepi ke tepi） | ≦0.5nm (pada 200kV) |
| STEM | 0.16nm (pada 200kV) |
| TEM (kekisi) | 0.1nm (pada 200kV) |
| [Pembesaran](pada LCD 24 inci lebar) | |
| SEM | X100～X150,000,000 |
| STEM | X100～X150,000,000 |
| TEM | X500～X20,000,000 |
| [Sumber Elektron] | |
| Pemancar | ZrO/W(100) |
| Voltan Mempercepat | 200kV, 100kV |
| [Sistem Spesimen] | |
| Peringkat spesimen (Goniometer) | Peringkat Kemasukan Sisi Eusentrik |
| Saiz Spesimen | 3mmΦ |
| Sudut kecondongan maksimum dengan pemegang dua condong | XX : ±20° Y : ±25° |
| Jarak perjalanan dengan mekanisme pemanduan motor | X,Y: ±1mm Z:±0.2mm * mekanisme pemanduan piezo（X,Y） |
| [Pilihan] | |
| Pilihan Boleh Pasang Utamaン | EDS BElut Kamera CCD Sistem Tomografi TEM / STEM |
Kesesuaian
Permohonan JEM-2800
Pembangunan Mikroskop Elektron JEM-2800 High Throughput
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.